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Stick-slip friction is one of the material removal mechanisms in tribology. It occurs when the static friction force is larger than the dynamic friction force, and make the friction curve fluctuated. In the friction monitoring of chemical mechanical polishing(CMP), the friction force also vibrates j...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 앞서 언급했듯이, 스틱 슬립 마찰은 갑자기 비 트, 동작을 일으키는 두 개의 움직이는 표면에 의해서 발생흐!■다. 따라서 압력과 헤느■와 테이블의 상대속도에 의해서 재료를 제거하는 CMP 공정은 어떠한 스틱 슬립의 특성을 갖는지에 대해서 알아 보고자 한다.
  • 이 논문에서는 마찰력 모니터링 장치를 이용하여 스틱-슬립 마찰 이론과 CMP에서의 마찰현상을 비血. 분석하여 웨이퍼스케일에서의 CMP 연마 메 카니즘을 알아보고자 하였다.

가설 설정

  • 결과, 압력의 증가에 따라서 마찰력과 스틱-슬립 마찰의 편차 역시 커 졌지만, 스틱-슬립 마찰의 평균주기는 변화가 없었다. 또한 CMP에서의 스틱-슬립 마찰은 표면특성에 영향을 미치는 pH에도 영향을 받을 것이다. 그림 17은 pH 10.
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참고문헌 (13)

  1. Ara Philipossian and Scott Olsen , 'Effect of slurry flow rate on pad life during interlayer dielectric CMP', J. Electrochem. Soc., Vol. 151, No.6, p. 436, 2004 

  2. 박범영, 이현섭, 김형재, 서헌덕, 김구연, 정해도, 'CMP 결과에 영향을 미치는 마찰 특성에 관한 연구', 전기전자재료학회논문지, 17권, 10호, p. 1041, 2004 

  3. Rabinowich, 'Friction and Wear of Materials', John Wiley, Chap. 4, 1965 

  4. McClelland, 'Adhesion and Friction', Springer, 1989 

  5. McClelland and Cohen, 'Chemistry and Physics of Solid Surfaces VII', Springer, 1990 

  6. Bo N. J. Persson, 'Sliding Friction', Springer, 2000 

  7. Tomlinson, 'A molecular theory of friction', Philos. Mag., Vol. 7, p. 905, 1929 

  8. Israelachvili, J. N. and Wennerstrom, 'Hydration or steric forces between amphihilic surfaces', Langmuir, Vol. 6, p. 873, 1990 

  9. 김구연, 김형재, 박범영, 이현섭, 박기현, 정해도, 'CMP 연마입자의 마찰력과 연마율에 관한 영향', 전기전자재료학회논문지, 17권,10 호, .p 1049, 2004 

  10. P. Powell, 'Engineering with polymers', Champman and Hall, New York, p. 89, 1983 

  11. 이충훈, 송형수, 명중재, 박진구, '반도체 평탄화 CMP 기술', 북스힐, p. 100, 2001 

  12. H. J. Kim, 'A Study on the Interfacial Characteristics and Its Effect on Material Removal in CMP' , ph. D. qualifying dissertation of Pusan National University, p. 62, 2003 

  13. Naga Chandrasekaran, 'Material removal mechanism of oxide and nitride CMP with ceria and silica-based slurries - analysis of slurry particles pre-and post-dielectric CMP', Mat. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 816, PP K9.2.1- K9.2.12, 2004 

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