$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

SRAM 이중-포트를 위한 내장된 메모리 BIST IP 자동생성 시스템 개발
The Development on Embedded Memory BIST IP Automatic Generation System for the Dual-Port of SRAM 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.42 no.2 = no.332, 2005년, pp.57 - 64  

심은성 (숭실대학교 컴퓨터학과) ,  이정민 (숭실대학교 컴퓨터학과) ,  이찬영 (숭실대학교 컴퓨터학과) ,  장훈 (숭실대학교 컴퓨터학과)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

본 논문에서는 내장된 메모리의 테스트를 편리하게 하기 위하여 간단한 사용자 설정에 의해 자동으로 BIST IP를 생성해 내는 범용 CAD 툴을 개발하였다. 기존의 툴들은 널리 사용되고 있는 알고리즘에 국한되어 있어 메모리의 모델이 변하게 되면 다시 메모리 모델에 따라 BIST IP를 설계해야 하는 번거로움이 있었다. 하지만 본 논문에서는 사용자가 원하는 메모리 모델에 따라 알고리즘을 적용해 자동으로 BIST IP를 생성해 주는 툴을 개발하였다. 내장된 메모리로는 리프레쉬가 필요 없는 다중-포트 비동기식 SRAM이 가장 많이 사용되며, 본 연구에서는 이중-포트 SRAM에 대하여 연구 하였다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we develop the common CAD tool that creates the automatically BIST IP by user settings for the convenient test of embedded memory. Previous tools have defect that when memory model is changed, BIST IP must re-designed depending on memory model because existing tools is limited the wid...

주제어

#BIST   #Dual-Port Memory   #SRAM   #Embedded Memory  

참고문헌 (14)

  1. Benso, A., Di Carlo, S., Di Natale, G., Prinetto, P., Lobetti Bodoni, M., 'A programmable BIST architecture for clusters of multiple-port SRAMs,' International Test Conference, pp. 557-566, 2000 

    crossref

  2. A. Bommireddy, J. Khare, S. Shaikh, S. Su. 'Test and debug of networking SoCs a case study,' Montreal, pp. 121-126, 2000 

    crossref

  3. IEEE Stndard 1149.1-1990, 'IEEE Standards Test Access Port and boundary-scan Architecture,' IEEE Standards Board, New York, 1990 

  4. Test Technology Standards Committee, 'IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,' IEEE Computer Society Press, 1993 

  5. Parulkar, I., Ziaja, T., Pendurkar, R., D'Souza, A. and Majumdar, A., 'A scalable, low cost design-for-test architecture for UltraSPARC/spl trade/ chip multi processors,' International Test Conference. pp. 726-735, 2002 

    crossref

  6. Braden, J., Lin, Q. and Smith, B., 'Use of BIST in Sun FireTM servers,' In Proc. International Test Conference. pp. 1017-1022, 2001 

  7. R. Raina, R. Bailey, D. Belete, V. Khosa, R. Molyneaux, J. Prado, A. Razdan, 'DFT Advances in Motorola's Next-Generation 74xx PowerPCTM Microprocessor,' International Test Conference, pp. 131-140, 2000 

    crossref

  8. Daehan Youn, Ohyoung Song, Hoon Chang, 'Design-for-testability of the FLOVA,' In Proceedings of the Second IEEE Asia Pacific Conference, pp. 28-30, 2000 

  9. Appello, D., Fudoli, A., Tancorre, V., Corno, F., Rebaudengo, M., Sonza Reorda, M., 'A BIST-based solution for the diagnosis of embedded memories adopting image processing techniques,' In Proceedings On-Line Testing Workshop, pp. 206-210, 2002 

    crossref

  10. Memory BistCoreTM User's Reference Manual, GeneSys TestWare, Revision 14, June, 1998 

  11. Yuejian Wu and Sanjay Gupta, 'Built-In Self-Test for Multi-Port RAMs', IInternational Test Conference, 1997 

    crossref

  12. Hamdioui, S., Rodgers, M., A. J. van de Goor, Eastwick, D., 'March tests for realistic faults in two-port memories,' Memory Technology, Design and Testing, pp. 73-78, 2000 

    crossref

  13. Hamdioui, S., Rodgers, M., A. J. van de Goor, Eastwick, D., 'Realistic Fault Models and Test Procedure for Multi-Port SRAMs,' Memory Technology, Design and Testing, pp. 65-72, 2001 

    crossref

  14. Hamdioui, S., A. J. van de Goor., 'Efficient Tests for Realistic Faults in Dual-Port SRAMs,' IEEE Transactions on, Computers, pp. 460-473, 2002 

    상세보기 crossref

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로