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저잡음 증폭기를 위한 새로운 구조의 검사용 설계회로
A New Design-for-Testability Circuit for Low Noise Amplifiers 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. TC, 통신, v.43 no.3 = no.345, 2006년, pp.68 - 77  

류지열 (애리조나주립대학 전기공학과) ,  노석호 (안동대학교 전자공학과)

초록
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본 논문에서는 4.5-5.5GHz 저잡음 증폭기 (low noise amplifiers, LNAs)를 위한 새로운 구조의 검사용 설계(Design-for-Testability, DfT) 회로를 제안한다. 이러한 검사용 설계회로는 고가의 장비를 사용하지 알고도 저잡음 증폭기의 전압 이득, 잡음 지수, 입력 임피던스, 입력 반사 손실 및 출력 신호대 잡음 전력비를 측정한다. 검사용 설계회로는 $0.18{\mu}m$ SiGe 공정을 이용하여 설계되었으며, 입력 임피던스 정합과 직류 출력 전압 측정을 이용한다. 이러한 회로를 이용한 회로 검사 기술은 검사 방법이 간단하고 검사하는데 드는 비용이 저렴하다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper presents a new Design-for-Testability (DfT) circuit for 4.5-5.5GHz low noise amplifiers (LNAs). The DfT circuit measures gain, noise figure, input impedance, input return loss, and output signal-to-noise ratio for the LNA without external expensive equipment. The DfT circuit is designed u...

주제어

#DfT circuit   #LNA   #RFIC Chip  

참고문헌 (12)

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