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적외선 영상기법에 의한 CCD 센서의 스펙트럼 응답 특성 분석 기법
Apparatus and method for analysing spectral response of a CCD optical sensor using an infrared imaging technique 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SC, 시스템 및 제어, v.43 no.3 = no.309, 2006년, pp.25 - 30  

강성준 (목포대학교 정보공학부) ,  나철훈 (목포대학교 정보공학부) ,  박순영 (목포대학교 정보공학부)

초록
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디지털 영상처리를 이용해 CCD 센서의 스펙트럼 응답특성을 직접 측정할 수 있는 적외선 영상기법을 제안하고 있다. 이 방법은 쉽고 경제적인 방법으로 상용 CCD 센서의 스펙트럼 감도를 검출할 수 있도록 한다. 본 장치의 핵심 부품은 단색광원기, CCD 지지대, 디지털 영상처리 시스템이 내장된 컴퓨터이다. 방법의 타당성을 증명하기 위해 상용 CCD 카메라에 대해 시험적으로 행한 실험은 이론적인 모델과 잘 일치함을 보여 주었다.

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An infrared imaging method is proposed in which direct measurement of the spectral response of CCD sensors can be achieved through digital image processing. This method allows for a simple and economic method to detect the spectral sensitivity of commercialized CCD sensors. The key components of the...

주제어

참고문헌 (10)

  1. M.S. Skolnick, M.R. Brozel, 'Distribution between near infrared optical absorption and light scattering in semi-insulating GaAs', Appl. Phys. Lett. Vol. 48, No. 5, pp 341-343 Feb. 1986 

  2. M. F. Tompsett. 'The Quantitative Effect of Interface States on the Performance of Charge-Coupled Devices', IEEE Trans. Electron. Devices, ED-20, 45 (1973) 

  3. D. F. Barbe, 'Imaging Devices Using the Charge-Coupled Concept', Proc. IEEE, 63, 38 (1975) 

  4. CCD spectral sensitivity, www.retrievertech.com/Product/ ccd_spectral_sensitivity 

  5. J.P. Fillard, 'Infrared Imaging and EL2', Revue Phys. Appl. Vol. 23, pp. 756-777 May, 1988 

  6. S. J. Kang. 'New Infrared Imaging Technique for Evaluation of Compound Semiconductor Crystals', Korean Patent, No. 138855, Feb. 23. 1998 

  7. S. Tulloch, 'The ATC QE Measurement System', Mar. 1999 

  8. J. C. Mullikin, L. J. van Vliet, H. Netten, 'Methods for CCD Camera Characterization', SPIE vol. 2173, pp. 73-84, 1994 

  9. S. J. Kang, B. W. Kim, Y. S. Bae, 'Method of and Apparatus for Measuring energy Gap of semiconductor', United States Patent, No. 5,406,505 Apr. 11. 1995 

  10. S. J. Kang, 'Method of and Apparatus for Evaluating the Temperature Coefficient of a Semiconductor Energy Gap', Korean Patent, No. 0219761, June 16. 1999 

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