$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Cu/CuO/Polyimide 시스템의 접착 및 계면화학 반응
Adhesion and Interface Chemical Reactions of Cu/CuO/Polyimide System 원문보기

한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.17 no.2, 2007년, pp.61 - 67  

이경운 (충북대학교 공과대학 신소재공학과) ,  채홍철 (충북대학교 공과대학 신소재공학과) ,  최철민 (충북대학교 공과대학 신소재공학과) ,  김명한 (충북대학교 공과대학 신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The magnetron reactive sputtering was adopted to deposit CuO buffer layers on the polyimide surfaces for increasing the adhesion strength between Cu thin films and polyimide, varying $O_2$ gas flow rate from 1 to 5 sccm. The CuO oxide was formed through all the $O_2$ gas flow r...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

제안 방법

  • Cu/buflfer layer/polyimide시스템에서 buffer layer 제조 시 사용된 산소유량에 따른 접합력의 변화를 규명하기 위해 XPS에의한 폴리이미드 계면의 화합결합 상태가 분석되었다. 접착력 시험 후 buffer layer와 폴리이미드는 경계면에서 분리되고(peeled-off), 분리된 폴리이미드 계면에서의 화학결합 상태가 분석되었다.
  • 적용하였다. 그리하여, 산소유량을 변수로 마그네트론 반응성 스퍼터링에 의한 CuO buffer layer 제조, Cu/ buffer layer/polyimide 시스템에서의 접착력의 변화 및 폴리이미드의 계면에서의 화학결합 상태의 변화에 대하여 조사하였고, 또한 열처리 온도에 따른 Cu/buffer layer/polyimide 다층박막 구조의 열적 안정성을 박막의 특성 조사를 통해 연구하였다.
  • 증착 시 DC power는 120 W로 제어 하였으며 CuO 박막은 산소의 유량을 1~5 seem으로 변화를 주어 3 A/sec의 증착 속도로 총 500 A 두께로 증착하였으며, Cu 박막은 5 A/sec의 증착속도로 총 2500 A두께로 증착하였다. 또한, 다층박막구조의 열적 안정성을 조사하기 위해 상기의 조건에서 제조된 시료를 진공챔버 안에서 100, 200 및 300℃의 온도로 각각 2시간 열처리를 행한 후 박막의 특성을 조사하였다.
  • 반응성 스퍼터링에 의해 제조된 Cu/buffer layer/ polyimide 다층박막을 진공 챔버 안에서 각각 100, 200 및 300℃의 온도에서 2시간 열처리를 한후, AFM, FT- IR, peel strength tester를 통하여 특성을 조사하였다. Fig.
  • 본 연구에서는 Cu박막과 폴리이미드 기판사이에 접착력을 향상시키고자 두 소재에 모두 접착력이 좋을 것으로 예상되는 CuO 화합물을 두 소재사이에 buffer layer로서 적용하였다. 그리하여, 산소유량을 변수로 마그네트론 반응성 스퍼터링에 의한 CuO buffer layer 제조, Cu/ buffer layer/polyimide 시스템에서의 접착력의 변화 및 폴리이미드의 계면에서의 화학결합 상태의 변화에 대하여 조사하였고, 또한 열처리 온도에 따른 Cu/buffer layer/polyimide 다층박막 구조의 열적 안정성을 박막의 특성 조사를 통해 연구하였다.
  • 여기서 박막의 표면 조도가 열처리 온도의 상승에 따라 다소 감소하고 있는데, 이는 열처리 온도가 상승함에 따라 CU2O가 CuO로 바뀌면서 입자가 미세화되는데서7)그 원인을 찾을 수 있다. 열처리가 폴리이미드의 화학결합 상태에 주는 영향을 조사하기 위해 FT-IR 투과도(transmittance)를 측정하였고, 측정된 투과도로부터 흡수계수를 계산한 후 이를 Fig. 8 에 나타내었다. 흔히 알데히드, 케톤, 에스테르 등과 같은 카보닐 화합물은 공통적으로 존재하는 C=O의 신축진동에 의해 1850-1650 ㎝-1 영역에서 대단히 강한 흡수 피크가 나타난다.
  • 이박막과 폴리이미드 사이의 접착력향상을 위해 폴리이미드 표면에 buffer layer로서 CuO박막을 제조하고자 하였고, 이를 위해 Cu의 마그네트론 스퍼터링시 O2/Ar 공정가스의 양을 변화시켜 반응성 스퍼터링법에 의해 buffer layer박막을 제조하였다. 이 결과 CuO는 모든 O2 가스유량에서 생성이 되었으나, 제조된 박막에는 목표로 했던 CuO 성분 외에 CU2O가 상당한 비율로 존재하였고, 3 seem O2 가스유량(O2/Ar=12%)에서 CuO 생성량이 최대값을 나타냈으며, 이때 가장 높은 접착력을 보였다.
  • 폴리 이미드 표면에 buffer layer로서 CuO를 500 Å 두께로 증착후 이 위에 2500 Å 두께의 Cu를 증착한 후, 90° peel strength tester에 의한 접착력 측정을 위해 다시 이 시편을 전해도금에 의해 총 8um의 Cu를 도금하였고, 이 시편을 이용하여 접착력을 측정하였고, Fig. 2에 그 결과가 나타나 있다. 여기서 접착력은 산소의 유량이 1 sc㎝(C)2/Ar=4%)일 때 pristine에서의 접착강도 40 gf/㎜보다 훨씬 큰 50 gf/2의 값을 나타냈고, 산소 유량이 2 sc㎝(O2/Ar=8%)으로 증가할 때 55 gf/㎜2 으로 증가하였고, 3 sc㎝(O2/Ai=12%)일때는 56 gf/㎜2 최대값을 보인후 산소유량이 4(O2/Ar=16%) 및 5 sc㎝(O2/Ar=20%)으로 증가할 때는 각각 53 및 51 gf/㎜2 오히려 감소되는 결과를 나타냈다.
  • 폴리이미드와 Cu의 접착력 향상을 위해 반응성 스퍼터링에 의해 폴리이미드 표면에 CuO buffer layer를 제조하고자 하였다. 그러나 이러한 CuO buffer layer를 제조하기 위한 반응성 스퍼터링에서는 CuO와 아울러 Cu2O 가 동시에 생성되고7)이 CuO는 CU2O에 비해 폴리이미드와 접착력이 매우 우수하여2)최대의 CuO화합물 생성을 위한 산소유량의 조건을 얻는 것이 필요하다.
  • 폴리이미드위에 증착된 copper oxide buffer layer의 두께 및 거시적 결정성장을 조사하기 위하여 고분해능 SEM을 이용하였다. Fig.
  • 폴리이미드위에 증착된 박막층의 두께 및 형상은 고분해 능 SEM(LEO-1530FE)과 AFM(Park Scientific Instru- ment사의 Nano scope Illa)을 이용하여 분석되었고, Cu/ buffer layer/polyimide 다층박막의 접착력은 90° peel tester# 사용하여 측정되었다. 또한, 폴리이미드 표면에서의 화학결합 상태는 Mg-Kff X-ray source(1253.

대상 데이터

  • 이 폴리이미드 기판 위에 DC 마그레트론 스퍼터링 장치를 이용하여 CuO buffer layer 및 Cu박막을 증착시켰고, 타겟은 직경 5.08㎝(2인치)의 고순도(5N) Cu 타켓을 사용하였다. CuO의 증착은 진공 챔버내의 초기진공을 5×10-6 torr 이하로 하여 기판의 불순물 및 산소를 완전히 제거한 후 또한 접착력 향상을 위해 100℃로 30 분간 유지시킨 후, 최적의 CuO형성을.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (12)

  1. R. R. Tummala and E. J. Rymaszewski (eds), Microelectronics Packaging Handbook, p.673, VNR, New York (1989) 

  2. B. Chapman, Glow Discharge Processes, p.201, John Wiley & Sons, New York(1980) 

  3. B. Navinsek, V. Marinkovic, M. Osredkar and G. Carter, Rad. Effects 3115 (1970) 

  4. C. J. Beevers and R. S. Nelson, Phil. Mag., 8, 1189 (1963) 

  5. M. J. Goldberg, J. G. Clabes and C. A. Kovac, J. Vac. Sci. Technol., A6, 991 (1988) 

  6. A. K. Oultache and R. E. Prud'homme, Polym. Adv. Technol., 11, 316 (2000) 

  7. S. Ghosh, D. K. Avasthi, P. Shah, V. Ganesan, A. Gupta, D. Sarangi, R. Bhattacharya and W. Assmann, Vacuum, 57, 377 (2000) 

  8. M. Naddaf, C. Balasubramanian, P. S. Alegaonkar, V. N. Bhoraskar, A. B. Mandle, V. Ganeshan and S. V. Bhoraskar, Nuclear Instruments and Method in Physics Res., B222, 135 (2004) 

  9. W. J. Lee, Y. S. Lee, S. K. Rha, Y. J. Lee, K. Y. Lim, Y. D. Chung and C. N. Whang, Appl. Surf. Sci., 205, 128 (2003) 

  10. B. J. Bachman and M. J. Vasile, J. Vac. Sci. Technol., A7, 2709 (1989) 

  11. A. M. Ektessabi and S. Hakamata, Thin Solid Film, 377-378, 621 (2000) 

  12. M. H. Kim and K. W. Lee, Met. Mater.-Int., 7, 425 (2006) 

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

BRONZE

출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로