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전자장비 신뢰도 향상을 위한 정량적 접근 연구
A quantitative approach for reliability growth of electronics units 원문보기

한국항공우주학회지 = Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences, v.35 no.3, 2007년, pp.268 - 274  

김주년 (한국항공우주연구원) ,  김보관 (충남대학교 전자공학과)

초록
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일반적으로 로켓과 위성 전자 회로 설계 단계에서 전자 소자의 신뢰도를 높이기 위해 소자의 작동온도를 낮추는 방법이 많이 사용된다. 본 논문에서는 소자 온도뿐 아니라 활성화에너지가 전자 장비 신뢰도에 미치는 영향에 대해 상세히 분석하였는데 실제 소자의 온도보다는 소자의 활성화에너지가 신뢰도에 훨씬 많은 영향을 끼치는 것으로 분석되었으며 이에 대한 분석결과를 정량적으로 기술하였다. 또한 PCB에 소자 배치 시 신뢰도를 높이기 위한 소자 배치 방법과 이에 따른 신뢰도 향상 결과에 대해서도 기술하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In general, rocket or satellite circuit designers focus on reducing temperature of electronic devices in order to enhance electronic unit's reliability. This paper describes the quantitative analysis result of activation energy as well as device temperature effects to the system reliabilities. The q...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 사용된다. 그러나 본 논문에서는 가속 모델 뿐 아니라 소자의 수명을 늘리기 위한 경감모델 (derated model)개념을 제안하였다. 즉 가속 모델과 경감모델은 소자의 수명 측면에서 상반된 개념이다.
  • 일반적으로 중첩의 원리를 이용하는 온도해석에서는 실험을 통해 온도매질(PCB)의 전도도를 실측하여 계산한다. 본 논문에서는 PCB상의 소자 온도예측을 위해 ANSYS사의 PCB 열해석 프로그램인 TASPCB(Thermal Analysis Software PCB) 를 이용하였으며 온도 예측 결과를 이용하여 신뢰도 향상을 위한 설계 방법을 예시하였다.
  • 그러나 이와 같은 접근 방식으로는 신뢰도 요구 조건을 만족하기가 매우 어려운 경우가 있다. 논문에서는 작동온도 저감에 국한되는 현재 신뢰도 향상 접근방식의 궁극적 한계에 대비하여 소자를치환하므로써 신뢰도 요구조건을 만족할 수 있는 접근 방법을 제시하였다. 소자의 신뢰도 분석 연구 결과 작동온도에 따른 신뢰도 개선 효과보다 소자 활성화에너지에 따른 신뢰도 개선 효과가 훨씬 유리함을 확인하였으며 이에 대한 정량적분 석 결과를 보였다.
  • 소자의 신뢰도 분석 연구 결과 작동온도에 따른 신뢰도 개선 효과보다 소자 활성화에너지에 따른 신뢰도 개선 효과가 훨씬 유리함을 확인하였으며 이에 대한 정량적분 석 결과를 보였다. 한편 전자 장비의 수명을 2 배로 늘리기 위한 소자 적용 방법에 대해 기술하였다. 그리고 신뢰도 향상을 위한 PCB 소자 배치에 관해 기술하였으며 소자 온도 해석프로그램을 이용하여 소자 배 치결과에 따른 신뢰도 향상 결과를 정량적으로 예시하였다.

가설 설정

  • 6과 같이 배치하였다. U5와 U6 소자는 3Watt 를 소모하고 이외의 소자는 균일하게 I Watt를 소모하도록 설정하였다. TASPCB를 이용한 소자 온도 분포 해 석결과와 PCB의 온도분포 상태 결과를 그림 6에 나타내었다.
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참고문헌 (5)

  1. Reynell, M., Avionics Integrity Program, USAF, 1990 

  2. 김영석, 장영ㅇ근, 정철오, '통신방송위성 중계기의 신뢰도 분석 및 최적 설계,' 한국항공우주학회지, 제 30권, 제 8호, 2002, pp. 94-102 

  3. DoD, 'MIL-HDBK-217F Reliability Prediction of Electronic Equipment,' DoD USA, 1991 

  4. http://www.coolingzone.com/Guest/News/NL_May_2003/Tony/Tony_May2003.html 

  5. Milton Ohring, Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Academic Press, pp. 215. 1998 

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