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문제 정의

  • 또한, HBT와 비교하여 HEMT 의 우수한 고주파수 및 노이즈 특성 때문에 현재 국내외적으로 HEMT에 관한 많은 연구가 진행되고 있으며, 많은 응용 분야에서 사용되고 있다. HEMT의 설계 및 제작에 관하여 동국대학교 밀리미터 파신 기술연구센터(MINT)의 보유 기술을 중심으로 논의 하고자 한다.
  • 따라서, 밀리미터파 대역에서 사용 가능한 초고속 능동 소자와 MIMIC의 개발 및 제작에 대하여 논의하고자 한다.
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참고문헌 (9)

  1. Frank Schwierz, Juin J. Loiu, MoDern Microwave Transistors - Theory, Design, and Performance, Wiley 

  2. Kai Chang, Inder Bahl, and Vijay Nair, RF and Microwave Circuit and Component Design for Wireless Systems, Wiley 

  3. B. O. Kim, M. K. Lee, T. J. Baek, M. Han, S. C. Kim, and J. K. Rhee, "50-nm T-Gate InAlAs/InGaAs metamorphic HEMT with low noise and high fT characteristics", IEEE Electron Device Lett., vol. 28, no. 7, p. 546 

  4. B. H. Lee, D. An, M. K. Lee, B. O. Lim, J. H. Oh, S. D. Kim, and J. K. Rhee, "Low conversion loss and high Lo-RF isolation 94-GHz active down converter", IEEE Trans. Microwave Theory and Tech., vol. 54, no. 6, p. 2422 

  5. D. An, B. H. Lee, B. O. Lim, M. K. Lee, S. C. Kim, J. H. Oh, S. D. Kim, H. M. Park, D. H. Shin, and J. K. Rhee, "High switching performance $0.1-{\mu}m$ metamorphic HEMTs for low conversion loss 94- GHz resistive mixer", IEEE Electron Device Lett., vol. 26, no. 10, p. 707 

  6. M. K. Lee, B. O. Lim, S J. Lee, D. S. Ko, S. W. Moon, D. An, Y H. Kim, S. D. Kim, H. C. Park, and J. K. Rhee, "A novel 94-GHz MHEMET-based diode mixer using a 3-dB tandem coupler", IEEE Microwave and Wireless Components Lett., vol. 18, no. 9, p. 626 

  7. B. H. Lee, D. An, M. K., B. O. Lim, S. D. Kim, and J. K. Rhee, "Two-state broadband high-gain W-Band amplifier using 0.1 ${\mu}m$ metamorphic HEMT technology", IEEE Electron Device Lett., vol. 25, no. 12, p. 766 

  8. J. H. Ohm, M. Han, S. J. Lee, B. C. Jun, S. W. Moon, J. S. Lee, J. K. Rhee, and S. D. Kim, "Effects of multi-gate-feeding structure on gate resistance and RF characteristics of $0.1 {\mu}m$ metamorphic high-electron- mobility transistors", IEEE Trans. Microwave Theory and Tech., Submitted 

  9. J. H. Oh, M. Han, S. W. Moon, S. Lee, and I. S. Hwang, "Dual gate-recess structure of metamorphic high electron mobility transistors for enhancing fmax", Journal of the Electrochemical Society, Accepted 

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