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BGA Type 유.무연 솔더의 기계적 충격에 대한 보드레벨 신뢰성 평가
Experimental and Numerical Study on Board Level Impact Test of SnPb and SnAgCu BGA Assembly Packaging 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.15 no.4, 2008년, pp.77 - 86  

임지연 (서울산업대학교 에너지환경대학원 나노아이티공학과) ,  장동영 (서울산업대학교 산업정보시스템공학과) ,  안효석 (서울산업대학교 NID융합기술대학원 나노IT융합프로그램)

초록
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본 연구에서는 유연솔더인 63Sn37Pb와 무연 솔더인 95.5Sn4.0Ag0.5Cu와 97Sn2.5Ag0.5Cu BGA(Ball Grid Array) 패키지를 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)에 위치에 따라 장착하고 보드레벨의 낙하시험(Board Level Drop Test)을 실시하여 충격에 대한 유 무연 솔더의 특성을 분석하였고 4점굽힘시험(board Level 4-point Bending Test)을 실시하여 굽힘에 대한 솔더볼의 기계적 저항특성을 분석하였다. 또한 유한요소법(Finite Element Modeling, FEM)을 이용해 낙하시험과 4점굽힘시험에서 솔더 조인트에 미치는 응력과 변형률을 해석하였으며, 시험 설계 시에 솔더 조인트의 응력변화에 영향을 미칠 수 있는 변수를 고려하여 해석하고 결과를 비교 분석하였다. 낙하시험과 4점굽힘시험에서 모두 무연솔더는 유연솔더보다 2배 이상 높은 신뢰성을 보였으며, PCB의 중앙에 위치한 패키지는 외각에 위치한 패키지 보다 매우 낮은 신뢰성을 보였다. 유한요소법을 통해 해석한 결과 최외각 솔더에서 가장 큰 응력이 발생하였고, 솔더의 조성과, 시험설계변수에 의해 응력의 발생 정도가 다름을 나타내었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The reliability of leaded and lead-free solders of BGA type packages on a printed circuit board was investigated by employing the standard drop test and 4-point bending test. Tested solder joints were examined by optical microscopy to identify associated failure mode. Three-dimensional finite elemen...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문은 서울테크노파크의 차세대패키징 공정 . 장비 실용화사업의 일환으로 지식경제부 지원을 받아 수행 되 었으며, 이에 관계자 여 러분께감사드립니다.

가설 설정

  • 2. Test setup: (a) Drop tester and test board located on the drop table, (b) 4-point bending tester and test board between support and load anvil.
  • 11에서 보듯이 패키지와 솔더 사이에 생성된 (Cu, Ni)6Sn5, (Ni, Cu)3Sn층은 PCB와 솔더 사이에 형성된 Cu3Sn 또는 Cu6Sn5 성분에 비해 높은 탄성률을 가진다.15)이러한 사실로부터 같은 양의 충격을 받았을 때 패키지 부의 변형이 PCB부보다 더 클 것이라 생각된다.M)또한, Fig.
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