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NTIS 바로가기마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.15 no.4, 2008년, pp.77 - 86
임지연 (서울산업대학교 에너지환경대학원 나노아이티공학과) , 장동영 (서울산업대학교 산업정보시스템공학과) , 안효석 (서울산업대학교 NID융합기술대학원 나노IT융합프로그램)
The reliability of leaded and lead-free solders of BGA type packages on a printed circuit board was investigated by employing the standard drop test and 4-point bending test. Tested solder joints were examined by optical microscopy to identify associated failure mode. Three-dimensional finite elemen...
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