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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.21 no.12, 2008년, pp.1118 - 1123
윤중락 (삼화콘덴서공업(주) 부설연구소) , 김민기 (삼화콘덴서공업(주) 부설연구소) , 이석원 (호서대학교 시스템제어공학과)
High voltage multilayer ceramic capacitors (MLCCs) are classified into two classes-those for temperature compensation (class I) and high dielectric constant materials (class II). We manufactured high voltage MLCC with temperature coefficient characteristics of C0G and X7R and studied the characteris...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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적층 칩 캐패시터는 무엇으로 구성되어 있는가? | 의료, 자동차, 통신분야의 SMPS 또는 pluse power단의 경우 높은 에너지 밀도를 가지면서도 표면실장화가 가능한 고압용 적층 칩 캐패시터가 요구되고 있다[1]. 적층 칩 캐패시터는 유전체, 내부전극, 외부전극으로 구성되며 기존에는 고압용의 경우 내부전극으로 고가의 귀금속인 Ag-Pd, Pd, Pt등을 적용하였으나 최근에는 저가의 Ni를 적용한 일반용 적층 칩 캐패시터를 개발, 양산하고 있으나 고압용 적층 칩 캐패시터에 대해서 연구 수준에 머물고 있다. Ni 산화반응식은 식 (1)로 표현되며 내부전극으로 사용하는 Ni의 산화 억제를 위해서는 환원 분위기에서 소결하여야 한다. | |
기존에는 고압용 적층 칩 캐패시터의 내부전극으로 무엇을 사용하였는가? | 의료, 자동차, 통신분야의 SMPS 또는 pluse power단의 경우 높은 에너지 밀도를 가지면서도 표면실장화가 가능한 고압용 적층 칩 캐패시터가 요구되고 있다[1]. 적층 칩 캐패시터는 유전체, 내부전극, 외부전극으로 구성되며 기존에는 고압용의 경우 내부전극으로 고가의 귀금속인 Ag-Pd, Pd, Pt등을 적용하였으나 최근에는 저가의 Ni를 적용한 일반용 적층 칩 캐패시터를 개발, 양산하고 있으나 고압용 적층 칩 캐패시터에 대해서 연구 수준에 머물고 있다. Ni 산화반응식은 식 (1)로 표현되며 내부전극으로 사용하는 Ni의 산화 억제를 위해서는 환원 분위기에서 소결하여야 한다. | |
고압용 적층 칩 캐패시터는 온도 특성에 따라 어떻게 구분되는가? | 따라서 환원 분위기에서도 절연저항을 유지하면서도 고전계하에서도 안정적 전기적 특성을 가지는 유전체 조성 및 소결 공정이 중요하다. 고압용 적층 칩 캐패시터는 온도 특성에 따라 C0G, X7R 특성으로 구분되며 C0G 특성은 -55 ~ 125 ℃ 온도범위에서 용량변화율은 ± 30 ppm/℃이고 X7R 특성은 용량변화율이 ± 15 % 이내이어야 한다. 내환원 조성의 대표적인 조성으로는 C0G 특성은 CaZrO3계 조성이 주로 적용되며 X7R의 경우 BaTiO3 계가 주로 적용된다. |
K. Kubota, S. Nishiyama, and K. Malhotra, "Ceramic Capacitors Aid High-Voltage Designs", Power Electronics Technology, p. 14, 2004
Lundstorm, M., et al. "Measurement of the dielectirc strength of titanium dioxides ceramics", 12th IEEE Plused Power Conference, Vol. 2, p. 1489, 1999
Galed H. Maher, James M. Wilson, and Samir G. Maher, "Effect of Dielectric Thickness on the dc and ac Dielectric Breakdown Field for Low Fired C0G and X7R Capacitors", CARTS Asia 2005, Taipei, p. 95, 2005
Y. Zhou and N. Yoshimura, "Short-time DC breakdown phenomena in $BaTiO_{3}$ -based multilayer ceramic capacitors," Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 38, p. 1412, 1999
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