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NTIS 바로가기Journal of information technology applications & management = 한국데이타베이스학회지, v.15 no.1, 2008년, pp.243 - 260
To prevent low yields in the semiconductor industry is crucial to the success of that industry. However, to prevent low yields is difficult because of too many factors to affect yield variation and their complex relation in the semiconductor manufacturing process. This study presents a new efficient...
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