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NTIS 바로가기한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.25 no.4 = no.205, 2008년, pp.53 - 60
전종업 (울산대학교 기계자동차공학부) , 김지원 (울산대학교 대학원 기계자동차공학과)
Electron detectors used in scanning electron microscope accept electrons emitted from the specimen and convert them to an electrical signal that, after amplification, is used to modulate the gray-level intensities on a cathode ray tube, producing an image of the specimen. Electron detector is one of...
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Oh, H. J., Chang, D. Y., Yang, H. N., Kim, D. H., Park, M. J., Shim, C. H. and Kim, C. S., "The Development of Scanning Electron Microscopy," Proc. KSMTE Spring Conf., pp. 15-18, 2005
Park, M. J., Kim, D. H., Kim, Y. D., Jang, D. Y. and Han, D. C., "Design and Control of Mini-Scanning Electron Microscope," Proc. KSME Spring Ann. Meeting, pp. 1271-1276, 2007
Park, K., Jung, H., Park, M., Kim, D. and Jang, D., "A Study on Design and Analysis for Magnetic Lenses of a Scanning Electron Microscope using Finite Element Method," J. of the KSPE, Vol. 24, No. 9, pp. 95-102, 2007
Lee, R. E., "Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis," Prentice-Hall, Inc., pp. 119-148, 1993
Knoll, G. F., "Radiation Detection and Measurement," John Wiley & Sons, Inc., pp. 219-305, 2000
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