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과학기술위성 3호 대용량 메모리에서의 SEU 극복 및 확률 해석
SEU Mitigation Strategy and Analysis on the Mass Memory of the STSAT-3 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SC, 시스템 및 제어, v.45 no.4 = no.322, 2008년, pp.35 - 41  

곽성우 (계명대학교 전자공학과)

초록
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메모리 소자가 우주 환경에 노출되면 우주 방사능에 의해 메모리의 값이 변하는 SEU 현상이 발생한다. 이러한 현상에 대처하기 위하여 위성체에 사용되는 메모리는 필연적으로 오류 탐지 및 극복 기법을 탑재하고 있다. 본 논문에서는 과학기술위성 3호 대용량 메모리 유닛에서 채택하게 될 오류 탐지 및 극복 방식을 알아본다. 오류 극복을 위해 대용량 메모리를 RS(10,8) Reed-solomon 코드로 인코딩/디코딩했을 때 SEU에 의해 메모리의 데이터가 손상 받을 확률을 계산한다. 이 확률식을 기반으로 과학기술위성 3호가 직면할 수 있는 다양한 SEU 발생율에 대하여 그 확률 변화를 분석한다. 이것으로부터 과학기술위성 3호 대용량 메모리 유닛 설계의 중요한 요소 중의 하나인 메모리 인코딩/디코딩 주기를 결정하는데 이용하고자 한다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

When memory devices are exposed to a space environment. they suffer various effects such as SEU(Single Event Upset). For these reasons, memory systems for space applications are generally equipped with error detection and correction(EDAC) logics against SEUs. In this paper, the error detection and c...

주제어

참고문헌 (10)

  1. H.B. Garrett and C. P. Pike, "Space Systems and Their Interactions with Earth's Space Environment", Progress in Astronautics and Aeronautics, Vol.71, 1980 

  2. "과학기술위성 3호 시스템 요구사항 검토 회의"자료집, 한국항공우주연구원, 2007. 8 

  3. 서인호, 이종주, 박홍영, 오대수, 최명진, 방효충, "과학기술위성 2호 대용량 메모리 유닛 비행모델 설계 및 구현", 한국항공우주학회 추계학술발표회 논문집, 2006 

  4. 곽성우, 박홍영, "과학기술위성 1호 탑재 컴퓨터에서의 SEUs 극복을 위한 메모리 운용 및 해석", 항공우주학회지, Vol. 32 (1), pp.98-105, 2004. 2 

  5. 곽성우, 류상문, 박홍영 외, "과학기술위성1호 탑재 컴퓨터의 설계 및 구현", 한국항공우주학회지, vol.31 (4), pp. 105-111, 2003 

  6. www.aero.org/seet/primer/singleeventupset.html 

  7. S.M. Park, Y.H. Shin, and K.W. Min, "우리별 1,2호의 Single Event Upset 관측", 한국항공우주학회지, pp. 152-158, 1996 

  8. "Radiation Environment Analysis of STSAT-1 Orbit", 인공위성연구센터, 1999 

  9. 곽성우, "중복구조 실시간 시스템에서의 고장 극복 및 최적 체크포인팅 기법", 전자공학회 논문지, 제44권, TC편 제7호, pp.112-121, 2007 

  10. 곽성우,김형신,박홍영,오대수,서인호,이승우,"과학기술위성3호 대용량 메모리에서의 SEU 극복 방법 및 확률해석", 항공우주학회 추계학술대회 논문집, 2007 

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