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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SC, 시스템 및 제어, v.45 no.4 = no.322, 2008년, pp.35 - 41
곽성우 (계명대학교 전자공학과)
When memory devices are exposed to a space environment. they suffer various effects such as SEU(Single Event Upset). For these reasons, memory systems for space applications are generally equipped with error detection and correction(EDAC) logics against SEUs. In this paper, the error detection and c...
H.B. Garrett and C. P. Pike, "Space Systems and Their Interactions with Earth's Space Environment", Progress in Astronautics and Aeronautics, Vol.71, 1980
"과학기술위성 3호 시스템 요구사항 검토 회의"자료집, 한국항공우주연구원, 2007. 8
서인호, 이종주, 박홍영, 오대수, 최명진, 방효충, "과학기술위성 2호 대용량 메모리 유닛 비행모델 설계 및 구현", 한국항공우주학회 추계학술발표회 논문집, 2006
곽성우, 박홍영, "과학기술위성 1호 탑재 컴퓨터에서의 SEUs 극복을 위한 메모리 운용 및 해석", 항공우주학회지, Vol. 32 (1), pp.98-105, 2004. 2
곽성우, 류상문, 박홍영 외, "과학기술위성1호 탑재 컴퓨터의 설계 및 구현", 한국항공우주학회지, vol.31 (4), pp. 105-111, 2003
www.aero.org/seet/primer/singleeventupset.html
S.M. Park, Y.H. Shin, and K.W. Min, "우리별 1,2호의 Single Event Upset 관측", 한국항공우주학회지, pp. 152-158, 1996
"Radiation Environment Analysis of STSAT-1 Orbit", 인공위성연구센터, 1999
곽성우,김형신,박홍영,오대수,서인호,이승우,"과학기술위성3호 대용량 메모리에서의 SEU 극복 방법 및 확률해석", 항공우주학회 추계학술대회 논문집, 2007
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