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Ge-MOSFETs을 위한 Ni-Co 합금을 이용한 Ni-germanide의 열안정성 개선
Thermal Stability Improvement of Ni-germanide using Ni-Co alloy for Ge-MOSFETs Technology 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.21 no.8, 2008년, pp.733 - 737  

박기영 (충남대학교 전자공학과) ,  정순연 (충남대학교 전자공학과) ,  장잉이 (충남대학교 전자공학과) ,  한인식 (충남대학교 전자공학과) ,  이세광 (충남대학교 전자공학과) ,  종준 (충남대학교 전자공학과) ,  신홍식 (충남대학교 전자공학과) ,  김영철 (한국기술교육대학교 신소재공학과) ,  김재준 (한국기술교육대학교 신소재공학과) ,  이가원 (충남대학교 전자공학과) ,  왕진석 (충남대학교 전자공학과) ,  이희덕 (충남대학교 전자공학과)

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In this paper, Ni-Co alloy was used to improve thermal stability of Ni Germanide. It was found that uniform germanide is obtained on epitaxial Ge-on-Si substrate by employing Ni-Co alloy. Moreover, neither agglomeration nor penetration is observed during post-germanidation annealing process. The the...

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문제 정의

  • 본 논문에서는 Co가 10 % 포함된 Ni-Co 합금을 사용하여 Ni-germanide의 열 안정성을 확보하기 위해 열 안정성 및 면저항과 계면 특성을 개선시키고자 한다. 실험 결과 제안한 Ni-Co 합금을 이용한 Ni-germanide가 나노급 Ge-MOSFET 기술에 적용 가능함을 확인하였다.
  • 본 논문에서는 Ni-Co 합금 구조을 제안하여 Ni-gerrmnide의 열 안정성 개선에 대한 연구를 하였다. Co가 10 % 포함이 된 Ni-Co 합금을 이용햔 Ni-gennanide^ Ni 단일 구조에 비해 우수한 열 안정성과 균일하고 얇은 germanide를 형성 시킬 수가 있었다.
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참고문헌 (8)

  1. K. Chen, H. Wann, J. Duster, D. Pramanik, S. Nariani, P. Ko, and C. Hu, "An accurate semi-empirical saturation drain current model for LDD n-MOSFET", Electron Devices Lett., Vol. 17, No. 3, p. 145, 1996 

  2. P. Zimmerman, G. Nicholas, B. Jaeger, B. Kaczer, A. Stesmans, L. A. Ragnarsson, D. P. Brunco, F. E. Leys, M. Caymax, G. Winderickx, K. Opsomer, M. Meuris, and M. M. Heyns, "High performance Ge pMOS devices using a Si-compatible process flow", IEDM Tech. Dig., p. 1, 2006 

  3. N. Wu, Q. Zhang, N. Balasubramanian, D. S. H. Chan, and C. Zhu, "Characteristics of self-aligned gate-first Ge p- and n- channel MOSFETs using CVD $HfO_2$ gate dielectric and Si surface passivation", IEEE Trans. Electron Devices, Vol. 54, No. 4, p. 733, 2007 

  4. J. W. Oh, P. Majhi, H. D. Lee, W. S. Yoo, S. Banerjee, C. Y. Kang, J. W. Yang, R. Harris, H. H. Tseng, and R. Jammy, "Improved electrical characteristics of Ge-on-Si field-effect transistors with controlled Ge epitaxial layer thickness on Si substrates", Electron Devices Lett., Vol. 28, No. 11, p. 1044, 2007 

  5. S. Zhu and A. Nakajima, "Annealing temperature dependence on nickel-germanium solid-state reaction", Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 44, No. 24, p. L753, 2005 

  6. Y. Zhang, J. Oh, T. Bae, Z. Zhong, S. Li, S. Jung, K. Park, G. Lee, J. Wang, P. Majhi, B. Lee, H. Tseng, Y. Jeong, and H. Lee, "Phase separation of Ni germanide formed on a Ge-on-Si structure for Ge MOSFETs", Electrochem. Solid State Lett., Vol. 11, No. 1, p. H1, 2008 

  7. K. Park, B. H. Lee, D. Lee, D.-H. Ko, K. H. Kwak, C.-W. Yang, and H. Kim, "A study on the thermal stabilities of the NiGe and Ni1?-xTaxGe systems", Electrochem. Solid State Lett., Vol. 154, No. 7, p. H557, 2007 

  8. S. P. Ashburn, M. C. Ozturk, G. Harris, and D. M. Maher, "Phase transitions during solid-state formation of cobalt germanide by rapid thermal annealing", J. Appt. Phys., Vol. 74, No. 7, p. 4455, 1993 

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