PLD 법으로 3 wt.% Al이 도핑된 ZnO 타겟을 이용하여 corning 1737 기판위에 200 mTorr의 고정된 산소 분압에서 기판온도 ($100\;{\sim}\;250^{\circ}C$)에 따른 AZO박막의 구조적, 광학적, 전기적 특성을 조사하였다. 모든 박막들은 c 축 배향되었으며, 오직 (002) 회절 피크만 관찰되었다. $250^{\circ}C$에서 제작한 AZO 박막에서 가장 우수한 (002) 배향성을 보였으며, 이때의 반가폭 값은 $0.44^{\circ}$ 였다. 모든 박막이 가시광 영역에서 85 % 이상의 투과율을 보였으며, Burstein-Moss 효과가 관찰되었다. 전기적 특성은 $250^{\circ}C$에서 제작한 박막에서 가장 우수한 캐리어 농도 ($3.48{\times}10^{20}cm^{-3}$)와 비저항 ($1.65{\times}10^{-2}{\Omega}cm$) 값을 나타냈다.
PLD 법으로 3 wt.% Al이 도핑된 ZnO 타겟을 이용하여 corning 1737 기판위에 200 mTorr의 고정된 산소 분압에서 기판온도 ($100\;{\sim}\;250^{\circ}C$)에 따른 AZO 박막의 구조적, 광학적, 전기적 특성을 조사하였다. 모든 박막들은 c 축 배향되었으며, 오직 (002) 회절 피크만 관찰되었다. $250^{\circ}C$에서 제작한 AZO 박막에서 가장 우수한 (002) 배향성을 보였으며, 이때의 반가폭 값은 $0.44^{\circ}$ 였다. 모든 박막이 가시광 영역에서 85 % 이상의 투과율을 보였으며, Burstein-Moss 효과가 관찰되었다. 전기적 특성은 $250^{\circ}C$에서 제작한 박막에서 가장 우수한 캐리어 농도 ($3.48{\times}10^{20}cm^{-3}$)와 비저항 ($1.65{\times}10^{-2}{\Omega}cm$) 값을 나타냈다.
The 3wt.% Al-doped zinc oxide (AZO) thin films were fabricated on Coming 1737 substrates at a fixed oxygen pressure of 200 mTorr with various substrate temperatures ($100\;{\sim}\;250^{\circ}C$) by using pulsed laser deposition in order to investigate the microstructure, optical, and elec...
The 3wt.% Al-doped zinc oxide (AZO) thin films were fabricated on Coming 1737 substrates at a fixed oxygen pressure of 200 mTorr with various substrate temperatures ($100\;{\sim}\;250^{\circ}C$) by using pulsed laser deposition in order to investigate the microstructure, optical, and electrical properties of AZO thin films. All thin films were shown to be c-axis oriented, exhibiting only a (002) diffraction peak. The AZO thin film, fabricated at 200 mTorr and $250^{\circ}C$, showed the highest (002) orientation and the full width at half maximum (FWHM) of the (002) diffraction peak was $0.44^{\circ}$. The optical transmittance in the visible region was higher than 85 %. The Burstein-Moss effect, which shifts to a high photon energy, was observed. The electrical property indicated that the highest carrier concentration ($3.48{\times}10^{20}cm^{-3}$) and the lowest resistivity ($1.65{\times}10^{-2}{\Omega}cm$) were obtained in the AZO thin film fabricated at 200 mTorr and $250^{\circ}C$.
The 3wt.% Al-doped zinc oxide (AZO) thin films were fabricated on Coming 1737 substrates at a fixed oxygen pressure of 200 mTorr with various substrate temperatures ($100\;{\sim}\;250^{\circ}C$) by using pulsed laser deposition in order to investigate the microstructure, optical, and electrical properties of AZO thin films. All thin films were shown to be c-axis oriented, exhibiting only a (002) diffraction peak. The AZO thin film, fabricated at 200 mTorr and $250^{\circ}C$, showed the highest (002) orientation and the full width at half maximum (FWHM) of the (002) diffraction peak was $0.44^{\circ}$. The optical transmittance in the visible region was higher than 85 %. The Burstein-Moss effect, which shifts to a high photon energy, was observed. The electrical property indicated that the highest carrier concentration ($3.48{\times}10^{20}cm^{-3}$) and the lowest resistivity ($1.65{\times}10^{-2}{\Omega}cm$) were obtained in the AZO thin film fabricated at 200 mTorr and $250^{\circ}C$.
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문제 정의
제작하였다. AZO 박막 증착시 100 ℃ 에서 250 ℃ 로 기 판 온도를 변화 시 켰고 이에 따른 박막의 구조적 특성과 광학적 및 전기적 특성을 조사하여 투명 전도막으로의 응용 가능성을 연구하였다.
본 연구에서 는 pld 법 으로 제 작한 AZO 박막의 우수한 광학적 및 전기적 특성을 나타냄을 알 수 있었다. 이를 통해, AZO 박막이 투명 전도막으로 매우 유용하게 사용될 수 있으며, 디스플레이에 적용 가능할 것이다.
본 연구에서는 PLD 방법으로 coming 1737 기판위에기판온도에 따른 AZO박막을 제작하여 구조적, 광학적, 전기 적 특성을 조사하였다. XRD 결과를 통해, 250 ℃ 에서 제작한 AZO 박막에서 가장 우수한 (002) 배향성 을 보였으며, 이때의 반가폭 값은 0.
제안 방법
AZO 박막의 결정성 및 우선 배향성을 조사하기 위 해 X-ray Diffractrometer (XRD, Philips, PW 3020) 를 이 용하였 고, Scanning Electron Microscope (SEM, Hitach S-4200) 으로 박막의 표면 상태를 조사하였다. AZO 박막의 광학적 특성 은 UV-vis spectrometer (Varian, Cary-500) 을 사용하여 조사하였다.
박막의 표면 상태를 조사하였다. AZO 박막의 광학적 특성 은 UV-vis spectrometer (Varian, Cary-500) 을 사용하여 조사하였다. 전기적 특성은 Van der Pauw 법을 이용한 Hall effect measurement (Accent, HL5500PC) 로 조사하였다.
타겟과 기판간의 거 리는 70 mm 로 유지 하였다. 본 실험에서 는 고정 된 200 mTorr 산소 분압에서 기 판 온도를 100 ℃ 에서 250 ℃ 까지 변화 시 켜 가며 AZO 박막을 제 작하였다.
본 연구에서는 AZO 박막을 coming 1737 기판 위에 200 mTorr 의 고정 된 산소 분압에서 3 wt% 의 A1 이 도핑된 ZnO 박막을 펄스 레이저 법을 이용하여 제작하였다. AZO 박막 증착시 100 ℃ 에서 250 ℃ 로 기 판 온도를 변화 시 켰고 이에 따른 박막의 구조적 특성과 광학적 및 전기적 특성을 조사하여 투명 전도막으로의 응용 가능성을 연구하였다.
펄스 레이저 법을 사용하여 coming 1737 기판에 AZO 박막을 증착하였다. 펄스 레이저 시스템에서 챔버 안의초기 진공은5 X lO&Ibrr까지 형성하였으며, AZO타겟 (97 wt.
대상 데이터
% A12O3) 은 지름 1 인礼 두께 1/8 인치 를 갖는 타겟을 사용하였다. 레 이 저 원으로는 248 nm 파장을 갖는 KrF 엑 시 머 레 이 저 (Lamda Physics, Compex 205) 를 사용하였으며, 레이저 에너지 밀도는 ZOJ/cnf 이었다. 레이저가 타겟의 새로운 면에 조사되도록 하기 위하여 타겟을 회 전시켰다.
증착하였다. 펄스 레이저 시스템에서 챔버 안의초기 진공은5 X lO&Ibrr까지 형성하였으며, AZO타겟 (97 wt.% ZnO + 3 wt.% A12O3) 은 지름 1 인礼 두께 1/8 인치 를 갖는 타겟을 사용하였다. 레 이 저 원으로는 248 nm 파장을 갖는 KrF 엑 시 머 레 이 저 (Lamda Physics, Compex 205) 를 사용하였으며, 레이저 에너지 밀도는 ZOJ/cnf 이었다.
이론/모형
결정 립의 크기는 Scherrer의 식을 이용하여 계산하였다.
AZO 박막의 광학적 특성 은 UV-vis spectrometer (Varian, Cary-500) 을 사용하여 조사하였다. 전기적 특성은 Van der Pauw 법을 이용한 Hall effect measurement (Accent, HL5500PC) 로 조사하였다.
성능/효과
적 특성을 조사하였다. XRD 결과를 통해, 250 ℃ 에서 제작한 AZO 박막에서 가장 우수한 (002) 배향성 을 보였으며, 이때의 반가폭 값은 0.44° 이었다. 모든 AZO 박막에서 약 85 % 이상의 투과도를 보였으며, 온도가 증가할수록Burstein-Moss 효과에 의해 에너지 밴드 갭이 넓어 지는 것을 확인할 수 있었다.
그림 2는 고정된 200mTorr 의 산소 분압에서 기판 온도에 따라 증착한 AZO 박막의 SEM 사진을 나타낸 것 이다. 기판 온도가 100 ℃ 에서 250 ℃ 로 증가할수록 결정 립들 간의 경 계가 명확해지고, Scherrer 의 식을 이용해서예측한 결과대로 결정 립들의 크기도 또한 커지는 것을확인할 수 있다.
44° 이었다. 모든 AZO 박막에서 약 85 % 이상의 투과도를 보였으며, 온도가 증가할수록Burstein-Moss 효과에 의해 에너지 밴드 갭이 넓어 지는 것을 확인할 수 있었다. 전기 적 특성을 조사한 결과, 250 ℃ 에서 제 작한 AZO 박막에서 가장 우수한 캐리어 농도 (3.
모든 박막들은 결정 성 장이 기판과 수직 인 방향으로 성장했음을 의미 하는 (002) 피크만이 관찰되 었고 금속 성분의 Zn 나 A1 특성 피크는 관찰되지 않았다. 100 ℃ 에 서 제 작한 AZO 박막은 상대 적 으로 낮은 (002) 회 절 피크를 나타내었으나, 250 ℃ 까지 기판온도가 상승함에 따라(002) 회절 피크는 증가하였다.
모든 AZO 박막에서 약 85 % 이상의 투과도를 보였으며, 온도가 증가할수록Burstein-Moss 효과에 의해 에너지 밴드 갭이 넓어 지는 것을 확인할 수 있었다. 전기 적 특성을 조사한 결과, 250 ℃ 에서 제 작한 AZO 박막에서 가장 우수한 캐리어 농도 (3.48 X IO20 cm3) 와 비 저 항 (1.65 乂 1(『 Qcm) 값을나타내었다
후속연구
이를 통해, AZO 박막이 투명 전도막으로 매우 유용하게 사용될 수 있으며, 디스플레이에 적용 가능할 것이다.
참고문헌 (18)
H. D. Ko, W. P. Tai, K. C. Kim, S. H. Kim, S. J. Suh, Y. S. Kim, "Growth of Al-doped ZnO thin films by pulsed DC magnetron sputtering", J. Cryst. growth, 277, pp. 352-358, (2005)
Xin Chen, Wenjie Guan, Guojia Fang, X.Z. Zhao "Influence of substrate temperature and post-treatment on the properties of ZnO:Al thin films prepared by pulsed laser deposition", Appl. Surf. Sci. 252, pp.1561-1567, (2005)
Z. Y. Ning, S. H. Cheng, S. B. Ge, Y. Chao, Z. Q. Gang, Y. X. Zhang, Z. G. Liu, "Preparation and characterization of ZnO:Al films by pulsed laser deposition", thin solid films, 307, pp. 50-53, (1997)
Y. M. Chung, C. S. Moon, W. S. Junga and J. G. Han, "The low temperature synthesis of Al doped ZnO films on glass and polymer using pulsed co-magnetron sputtering: H2 effect", thin solid films, 515, pp.567-570, (2006)
K. H. Kim, K. C. Park, D. Y. Ma, "Structural, electrical and optical properties of aluminum doped zinc oxide films prepared by radio frequency magnetron sputtering", J. Appl. Phys, 81, pp. 7764-7772, (1997)
F. K. Shan, G. X. Liu, W. J. Lee, B. C. Shin, "Structural, Optical and Electrical Properties of Transparent Conductive In2O3-Doped ZnO Thin Films Grown by Pulsed Laser Deposition", J. Korean. Phys. Soc, 50, pp. 626-631, (2007)
E. G. Fu, D. M. Zhuang, G. Zhang, W. F. Yang, M. Zhao, "Substrate temperature dependence of the properties of ZAO thin films deposited by magnetron sputtering", Appl. Surf. Sci, 217, pp.88-94, (2003)
M. Chena, Z. L. Pei, X. Wang, C. and L. S. Wen, "Structural, electrical, and optical properties of transparent conductive oxide ZnO:Al films prepared by dc magnetron reactive sputtering", J. Vac. Sci. Technol. A, 19, Issue 3, pp. 963-970, (2001)
G. Srinivasan, R.T. Rajendra Kumar, J. Kumar, "Influence of Al dopant on microstructure and optical properties of ZnO thin films prepared by sol?gel spin coating method", optical materials, 30, pp. 314-317, (2007)
A. I. Ali,C. H. Kim, J. H. Cho and Bog G. Kim, "Growth and Characterization of ZnO:Al Thin Film Using RF Sputtering for Transparent Conducting Oxide", J. Korean. Phys. Soc. 49, s652, (2006)
A. Martin, J.P. Espinos, A. Justo, J. P. Holgado, F. Yubero, A.R. Gonzalez-Elipe, "Preparation of transparent and conductive Al-doped ZnO thin films by ECR plasma enhanced CVD", Surface&coatings technology, 151-152, pp. 289-293, (2002)
Z.Y. Ning, S.H. Cheng, S.B. Ge, y. Chao, Z.Q. Gang, Y.X. Zhang, Z.G. Liu, "Preparation and characterization of ZnO:Al films by pulsed laser deposition", thin solid films, 307, pp.50-53 (1997)
Wei Li, Yun Sun, Yaxin Wang, HongKun Cai, Fangfang Liu, Qing He, "Effects of substrate temperature on the properties of facing-target sputtered Al-doped ZnO films", Solar Energy Materials & Solar cells, 91, pp.659-663 (2007)
J. H. Park, H. H. Pak, C. R. Cho, "Deposition- Temperature Effects on AZO Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering and Their Physical Properties", J. Korean. Phys. Soc. 49, s584, (2006)
R.K. Shukla, Anchal Srivastava, Atul Srivastava, K.C. Dubey, "Growth of transparent conducting nanocrystalline Al doped ZnO thin films by pulsed laser deposition", J. Cryst. Growth, 294, pp.427-431, (2006)
F. K. Shan, B. I. Kim, G. X. Liu, Z. F. Liu, J. Y. Sohn, W. J. Lee, B. C. Shin, and Y. S. Yu, "Blueshift of near band edge emission in Mg doped ZnO thin films and aging", J. Appl. phys, 95, pp. 4772, (2004)
Z .Q. Xu, H. Deng, Y. Li, Q. H. Guo, Y. R. Li, "Characteristics of Al-doped c-axis orientation ZnO thin films prepared by the sol?gel method", Materials Research Bulletin, 41, pp.354-358, (2006)
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