$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[국내논문] SSVM(Stepwise-Support Vector Machine)을 이용한 반도체 수율 예측
A Yields Prediction in the Semiconductor Manufacturing Process Using Stepwise Support Vector Machine 원문보기

산업공학 = IE Interfaces, v.22 no.3, 2009년, pp.252 - 262  

안대웅 ((주)하이닉스반도체) ,  고효헌 (고려대학교정보경영공학부) ,  김지현 (광운대학교경영대학) ,  백준걸 (고려대학교정보경영공학부) ,  김성식 (고려대학교정보경영공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

It is crucial to prevent low yields in the semiconductor industry. Since many factors affect variation in yield and they are deeply related, preventing low yield is difficult. There have been substantial researches in the field of yield prediction. Many researchers had used the statistical methods. ...

주제어

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
반도체 산업의 경쟁력 유지를 위해 무엇을 수행하는가? 반도체 산업의 경쟁력을 유지하기 위해 생산주기, 재작업율, 공정변동, 공정재고, 수율 등 공정 및 품질 성능지표들의 관리를 수행하고 있다. 특히 반도체 산업의 성능 지표들 중 투입 수에 대한 양품 비율을 의미하는 수율이 기업 경쟁력의 핵심 평가지표로 사용되고 있다.
반도체 기업에서 어떤 지표가 기업 경쟁력의 핵심 평가지표로 사용되는가? 반도체 산업의 경쟁력을 유지하기 위해 생산주기, 재작업율, 공정변동, 공정재고, 수율 등 공정 및 품질 성능지표들의 관리를 수행하고 있다. 특히 반도체 산업의 성능 지표들 중 투입 수에 대한 양품 비율을 의미하는 수율이 기업 경쟁력의 핵심 평가지표로 사용되고 있다. 신제품의 경우 신속한 양산 목표수율의 확보는 시장 선점과 원가 절감을 통한 가격 경쟁력 확보에 필수적인 성공요건이다.
반도체 산업에서 정확한 수율관리가 필수인 이유는? 특히 반도체 산업의 성능 지표들 중 투입 수에 대한 양품 비율을 의미하는 수율이 기업 경쟁력의 핵심 평가지표로 사용되고 있다. 신제품의 경우 신속한 양산 목표수율의 확보는 시장 선점과 원가 절감을 통한 가격 경쟁력 확보에 필수적인 성공요건이다. 따라서 반도체 산업에서 경쟁력 창출을 넘어 기업의 생존을 위해서라도 정확한 수율관리는 필수적이다(Kim et al.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (16)

  1. Baek, D. H., Nam, J. G. (2002), Improved Semiconductor Yield System using Datamining, Spring Seminnual Conference of Korean Operations Research And Management Society, 298-305 

  2. Ciciani, B. and Jazeolla,G. (1991),AMarkovChain-BasedYield Formula forVLSI Fault-Tolerant Chips, IEEETransactionsonComputer-AidedDesign, 10(2), 252-259 

  3. Crosier, R. B. (1988), Multivariate Generalizations of Cumulative Sum Qualitycontrol Schemes,Technometrics, 30, 539-549 

  4. Hearst, M. A., Dumais, S. T., Osman, E., Platt, J., and Scholkopf, B. (1998), Support vector machines, IEEE Intelligent System, 13(4), 18-28 

  5. Joachims, T. (1998), Text catergorization with support vectormachines,Proceedings of theEuropeanConferenceonMachineLearning, 10th European Conference onMachine Learning, 137-142 

  6. Kang, B. S., Lee, J.H., Shin, C.K., Yu, S. J., and Park, S. C. (1998),Hybridmachine learning system for integrated yield management in semiconductor manufacturing, Expert SystemswithApplications, 15, 123-132 

  7. Kim, T. S., Bae, G. J. (1995), Research of TEST Trend forHigh densitymemory product,The Instituteof Electronics Engineers ofKorea 

  8. KinamKimet al. (1998), DRAMTechnology Perspective for Gigabit Era, IEEE Trans. ElectronDevices, 45(3), 598-608 

  9. Meyer,D., Leisch, F., andHornik, K. (2003), The support vectormachine under test,Neurocomputing, 55, 169-186 

  10. Odom, M. and Sharda, R. (1990), A neural network model for bankruptcy prediction, Proceedings of the International Joint Conference on Neural networks, II-163-II-168 

  11. Osuna, E., Freund, R., andGirosi, F. (1997), Training support vectormachines : an application to face detection, Proceedings of Computer Vision and Pattern Recognition, 130-136 

  12. Pieter Pete B. (2000), 2000 begins with a revised industry roadmap, Solid State Technology, 31-44 

  13. Tam, K. and Kiang, M. (1992), Managerial applications of neural networks, Management Science, 38(7), 926-947 

  14. Uzsoy, R., Lee, C., and Martin-Vega, L. A. (1992), A Review of Production Planning and Scheduling models in the semiconductor industry PART I:Systemcharacteristics, Performance Evaluation and Production Planning, IIE Transactions, 24(4), 47-60 

  15. Vapnik, V. (1995), TheNature of Statical Learning Theory,Springer,New York 

  16. Weiss, S. and Kulikowski, C. (1991), Computer Systems That Learn, Morgan Kaufmann Publishers, Inc 

저자의 다른 논문 :

LOADING...

관련 콘텐츠

이 논문과 함께 이용한 콘텐츠

유발과제정보 저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로