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NTIS 바로가기한국소음진동공학회논문집 = Transactions of the Korean society for noise and vibration engineering, v.20 no.4 = no.157, 2010년, pp.414 - 421
홍상혁 (서울대학교 대학원 기계항공공학부) , 이수일 (서울시립대학교 기계정보공학과)
The proper orthogonal decomposition(POD) is used to the vibration analysis of microcantilever in tapping mode atomic force microscopy(AFM). The proper orthogonal modes (POM) are extracted from vibrating signals of microcantilever when it resonates and taps the sample. We present recent ideas based o...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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원자현미경은 무엇인가? | 원자현미경(AFM : atomic force microscope)은 마이크로캔틸레버의 끝에 달려있는 팁을 시료 표면에 접근시켜 팁과 시표간의 원자간 작용력에 의하여 나노스케일의 표면 형상이나 여러 가지 재질 특성 을 측정하는 장치이다. 특히 AFM 프로브를 공진시켜 팁과 표면간의 동적 특성 변화를 이용한 비접촉과 탭핑모드는 접촉모드와 같은 정적모드에 비해 위상(phase) 정보 등을 포함하기 때문에 여러 가지 실험의 측정모드로 이용 되고 있다. | |
원자현미경에서 탭핑모드가 여러 가지 실험의 측정모드로 이용되는 이유는 무엇인가? | 원자현미경(AFM : atomic force microscope)은 마이크로캔틸레버의 끝에 달려있는 팁을 시료 표면에 접근시켜 팁과 시표간의 원자간 작용력에 의하여 나노스케일의 표면 형상이나 여러 가지 재질 특성 을 측정하는 장치이다. 특히 AFM 프로브를 공진시켜 팁과 표면간의 동적 특성 변화를 이용한 비접촉과 탭핑모드는 접촉모드와 같은 정적모드에 비해 위상(phase) 정보 등을 포함하기 때문에 여러 가지 실험의 측정모드로 이용 되고 있다. | |
적합직교모드는 어떤 방법인가? | 적합직교모드(POM : proper orthogonal mode)는 큰 자유도계나 여러 가지 복잡한 물리 현상이 연성된 계의 해석에서 주된 요소(principal component)를 효과적으로 추출할 수 있게 해 주는 방법(1)으로 최근 일반적인 구조시스템뿐 아니라 AFM 등 미소시스템 등과 관련한 응용사례가 보고되고 있다. Kerschen 등(2)은 선형과 비선형 모델의 구조시스템을 모델링하여 해석하였으며, Azeez 등(3)은 캔틸레버의 끝단에 작용하는 충격에 의해 발생하는 복잡한 진동 현상을 몇 개의 적합직교분해(POD : proper orthogonal decomposition) 모드로 해석한 결과를 보여주었다. |
Kerschen, G., Golinval, J. C., Vakakis, A. F. and Bergman, L. A., 2005, "The Method of Proper Orthogonal Decomposition for Dynamical Characterization and Order Reduction of Mechanical Systems: an Overview," Nonlinear Dynamics, Vol. 41, pp. 147-169.
Kerschen, G. and Golinval, J. C., 2002, "Physical Interpertation of the Proper Orthogonal Modes Using the Singular Value Decomposition," Journal of Sound and Vibraton, Vol. 249, pp. 849-865.
Holmes, P., Lumley, J. L. and Berkooz, G., 1996, "Turbulence, Coherent Structures, Dynamical Systems and Symmetry," Cambridge University Press.
Azeez, M. F. A. and Vakakis, A. F., 2001, "Proper Orthogonal Decomposition(POD) of a Class of Vibroimpact Oscillations," Journal of Sound and Vibration, Vol. 240, pp. 859-889.
Sone, H., Fujinuma, Y., Hieida, T. and Hosaka, S., 2003, "Pico-gram Mass Deviation Detected by Resonance Frequency Shift of AFM Cantilever," SICE Annual Conference, pp. 2121-2124.
Beaulieu, L. Y., Godin, M., Laroche, O., Tabard-Cossa, V. and Grutter, P., 2007, "A Complete Analysis of the Laser Deflection Systems used in Cantilever-based Systems," Ultramicroscopy, Vol. 107, pp. 422-430.
Lee, S. I., Hong, S. H. and Lee, J. M., 2008, "Nano Scale Surface Property Estimation Using Proper Orthogonal Decomposition in Atomic Force Microscopy," CIRPAnnals, Vol. 57, No. 1, pp. 563-566.
Maugis, D., 1999, "Contact, Adhesion and Rupture of Elastic Solids," Springer
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