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NTIS 바로가기한국소음진동공학회 2006년도 춘계학술대회논문집, 2006 May 01, 2006년, pp.1391 - 1395
홍상혁 (서울대학교 대학원 기계항공공학부) , 이수일 (서울시립대학교 기계정보공학과) , 이장무 (서울대학교 기계항공공학부)
In non-contact mode atomic force microscopy, the response of a resonating tip is used to measure the nanoscale topography and other properties of a sample surface. However, the tip-surface interactions can affect the tip response and destabilize the non-contact mode control. Especially it is difficu...
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