$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

더블 샘플링 기법을 사용한 10bit 1MS/s 0.5mW 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기
A 10bit 1MS/s 0.5mW SAR ADC with Double Sampling Technique 원문보기

전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.60 no.2, 2011년, pp.325 - 329  

이호규 (고려대학교 공과대학 전자전기공학과) ,  김무영 (고려대학교 공과대학 전자전기공학과) ,  김철우 (고려대학교 공과대학 전자전기공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper introduces the 10b 1MS/s SAR ADC with double sampling technique to reduce the power consumption. The SAR ADC is implemented in CMOS 1P8M 65nm technology and occupies 0.11um2. The maximum sampling rate is 1MS/s. The simulated SNDR and SFDR are 55.6dB and 62.7dB at 484kHz input frequency, r...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

제안 방법

  • 나노 기술(Nano technology)의 발전으로 칩의 집적도는 계속 증가되고 있으며, 모바일 시장의 폭발적인 증가로 저전력 제품에 대한 수요 또한 증가하고 있다. 따라서 이러한 저전력 아날로그-디지털 변환기를 제작하기 위해서 10bit 1MS/s 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기를 65nm 1-poly 8-metal CMOS 공정을 사용하여 설계하였다. 설계된 아날로그-디지털 변환기는 더블 샘플링 기법을 사용한 샘플 앤 홀드 회로를 사용하여 면적이 커진다는 단점에도 불구하고 회로의 전력 소모량을 최소화 하였다.

대상 데이터

  • 그림 10은 설계된 아날로그-디지털 변환기의 레이아웃 사진이다. 이 아날로그-디지털 변환기는 CMOS 1P8M 65nm 공정을 사용하여 설계되었다. 전체 주요 블록의 크기는 335um * 330um이다.
  • PMOS 능동형 부하(Active load)와 양 궤환부하가 전 증폭기에 사용되었다. 입력 신호 INP와 INN은 NMOS게이트에 연결 되어 있고 두 개의 바이어스 전압 BIAS1, BIAS2가 사용되었다. 이 전 증폭기의 차동 결과 신호의 진폭을 최대화하기 위해서 래치와 연결된다.
  • 커패시터를 이용한 디지털-아날로그 변환기에는 그림 6과 같이 C, 32C 두 개의 커패시터가 사용되었다. 이 두 개의 커패시터에 샘플된 신호인 SHAP, SHAN와 저항열에서의 기준 전압 REFP, REFN이 클록의 ∅주기에 인가된다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
샘플 앤 홀드(Sample and Hold) 회로에 연산 증폭기(Op-Amp)의 전력 소모량을 줄이기 위해서 사용한 기법은? 샘플 앤 홀드(Sample and Hold) 회로에 사용되는 연산 증폭기(Op-Amp)의 전력 소모량을 줄이기 위해서 더블 샘플링 기법(Double Sampling Technique)이 제안되었다[9]. 이 기법은 샘플 앤 홀드 회로 내부의 연산 증폭기를 위한 샘플링 주기를 없애 줌으로서 저전력, 고속 동작을 가능하게 하였다.
더블 샘플링 기법(Double Sampling Technique)의 특징은? 샘플 앤 홀드(Sample and Hold) 회로에 사용되는 연산 증폭기(Op-Amp)의 전력 소모량을 줄이기 위해서 더블 샘플링 기법(Double Sampling Technique)이 제안되었다[9]. 이 기법은 샘플 앤 홀드 회로 내부의 연산 증폭기를 위한 샘플링 주기를 없애 줌으로서 저전력, 고속 동작을 가능하게 하였다. 이를 65nm 1P8M CMOS 공정을 사용하여 10bit 1MS/s 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기에 적용 하였을때, 설계된 아날로그-디지털 변환기는 507uW의 전력을 소모하였다.
축차 비교형 아날로그-디지털 변환기의 특징은? 특히 터치스크린을 채용한 모바일 기기들의 붐 속에서 저 전력 고효율 제품의 필요성은 더욱 증가하고 있다. 여러 가지 아날로그-디지털 변환기(Analog-to-Digital Converter)의 구조들[1]-[8] 중에서 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기(Successive Approximation Analog-to-Digital Converter)는 적절한 해상도를 갖으면서도 가장 적은 전력을 소모하는 구조이다. 따라서 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기는 모바일 시스템 또는 터치스크린과 같은 저전력 시스템에 적절한 구조이다. 또한 CMOS 공정의 지속적인 발전에 따라서 디지털 회로 중심인 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기의 전력 소모량은 점점 줄고, 샘플링 속도는 점점 빨라지게 됨으로서 다른 구조의 아날로그-디지털 변환기의 영역을 점차 넘나들고 있다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (9)

  1. Y. M. Lin, B. Kim, and P. P. Gray, "A 13-b 2.5-MHz self-calibrated pipelined A/D converter in 3um CMOS," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 26, no. 4, pp. 628-635, Apr. 1991. 

  2. M. D. Scott, B. E. Boser, and K. S. J. Pister, "An Ultra-Energy ADC for Smart Dust," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 38, no. 7, pp. 1123-1129, Jul. 2003. 

  3. K. Poultom, R. Neff, A. Muto, W. Liu, A. Burstein, and M. Heshami, "A 4GSamples/s 8b ADC in 0.35um CMOS", IEEE Int. Solid-State Circuits Conf. Dig. Tech. Papers, 2002, pp. 126-127. 

  4. S. M. Chen and R. W. Brodersen, "A 6-bit 600-MS/s 5.3-mW Asynchronous ADC in 0.13-um CMOS," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 41, no. 12, pp. 2669-2680, Dec. 2006. 

  5. R. Taft et al., "A 1.8-V 1.6-GSamples/s 8-b self-calibrating folding ADC with 7.26 ENOB at Nyquist frequency," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 39, no. 12, pp. 2107-2115, Dec. 2004. 

  6. K. Bult and A. Buchwald, "An embedded 240-mW 10-b 50MS/s CMOS ADC in $1-mm^2$ ," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 32, no. 12, pp. 1887-1895, Dec. 1997. 

  7. S. M. Louwsma, E. J. M. van Tuijl, M. Vertregt and B. Nauta, "A 1.35GS/s, 10b, 175mW Time-Interleaved AD Converter in 0.13um CMOS," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 43, no. 4, pp. 778-786, Apr. 2008. 

  8. P. N. Singh, A. Kumar, C.Debnath, and R. Malik, "20mW, 125Msps, 10 bit Pipelined ADC in 65nm Standard Digital CMOS Process," IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2007, pp. 189-192. 

  9. L. Sumanen, M. Waltari, and Kari A. I. Halonen, "A 10-bit 200-MS/s CMOS Parallel Pipelined A/D Converter," IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 36, no. 7, pp. 1048-1055, Jul. 2001. 

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

BRONZE

출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로