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NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.23 no.11, 2012년, pp.1315 - 1322
노현승 (성균관대학교 정보통신대학) , (성균관대학교 정보통신대학) , 김양석 (한수원중앙연구원) , 채장범 (아주대학교 공과대학) , 김병성 (성균관대학교 정보통신대학)
Frequency domain reflectometry diagnoses faults on electric cables by measuring the cable impedance. Time domain impedance measurement technique using an oscilloscope instead of a network analyzer is widely used for electric power cables under harsh environment or powered condition. However, impedan...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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반사 측정법에는 무엇이 있는가? | 이러한 케이블의 결함을 찾기 위한 배선 진단 기술은 반사 측정법에 기본을 둔 여러 기법들을 사용하고 있다. 반사 측정법은 분석 방법에 따라 시간 영역 반사 측정법(Time Domain Reflectometry: TDR), 주파수 영역 반사 측정법(Frequency Domain Reflectometry: FDR)으로 나눌 수 있다. | |
벡터 회로망 분석기를 이용하여 DUT의 특성을 측정할 때 어떤 문제점이 발생하는가? | 벡터 회로망 분석기를 사용하여 DUT의 특성을 측정하면, 신호원으로부터 출력되는 입사 신호는 DUT와 만나는 보정 면(calibration plane)에서 발생하는 임피던스 부정합과 신호원에서 DUT까지의 기생 성분에 의해 다중 반사 및 감쇄가 발생한다. 그래서 본래의 반사 계수 외에 지향성 오차(directivity error, ED), 전원 부정합 오차(source mismatch error, ES), 반사 추적 오차(reflection tracking error, ER) 3가지 종류의 오차가 포함된다[6]. 이러한 오차들은 보정을 통하여 없애주고 평균을 취함으로써 줄일 수 있다. | |
반사 측정법 중 시간 영역 반사 측정법의 단점은 무엇인가? | 이 방법은 펄스 또는 계단파 신호를 인가하여 특성 임피던스의 불연속 지점에서 나타나는 반사파를 분석하여 결함상태를 진단한다. 그러나 반사파의 왜곡이 발생하기 쉽고, 분해능을 결정하는 상승 시간이 높아지면서 각종 기생 성분에 의해 측정 오차가 증가한다. 또한, 두 군데 이상의 결함이 있을 때 결함을 검출하기 어렵다는 단점이 있다. |
H. Yamada, M. Ohiya, Y. Ogawa, and K. Itoh, "Superresolution techniques for time-domain measurements with a network analyzer", IEEE Trans. Antennas Propagat., vol. 39, pp. 117-183, Feb. 1991.
H. Van. Hamme, "High-resolution frequency-domain reflectometry by estimation of modulated superimposed complex sinusoids", IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, vol. 41, pp. 762-767, Dec. 1992.
D. Agrez, "Approximation of the skin effect to improve cable-fault location by TDR", IEEE Trans. Instrument. and Meas. Technology Conference 2003, vol. 1, pp. 50-53, May 2003.
S. Navaneethen, J. J. Soraghen, W. H. Siew, F. McPherson, and P. F. Gale, "Automatic fault location for underground low voltage distribution networks", IEEE Trans. Power Delivery, vol. 16, no. 2, pp. 346-351, Apr. 2001.
P. F. Fantoni, "Wire system aging assessment and condition monitoring: The line resonance analysis method(LIRA)", Halden Reactor Project (HWR-788), 2005.
J. R. Juroshek, D. X. LeGolvan, "Correcting for systematic errors in one-port calibration standards", 62nd ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2003.
G. Kwan, "Sensitivity analysis of one-port characterized devices in vector network analyzer calibrations: theory and computational analysis", NCSL International Workshop and Symposium, 2002.
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