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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.25 no.6, 2012년, pp.431 - 434
김상문 (아셈) , 이석문 ((주)수퍼나노텍)
In this paper, heat-releasing sheets made of AlN powder and acryl binder as thermoset were prepared using tape casting method. The crystal structure and morphology, the thermal properties as nonvolatile solid content and thermal conductivity, and the surface resistance of heat-releasing sheet were m...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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반도체 소자에서 회로의 높은 집적도와 전력의 대용량화로 인해 사용 시 소자에서 상당한 열이 발생하는데 이로 인해 어떤 문제점이 있는가? | 반도체 칩의 고집적화에 수반하여 전기전자 부품의 소형화가 시장에서 요구되고 있으며, 소형화 결과로 발생되는 부품의 방열문제로 야기되는 부품의 품질저하와 같은 문제들을 극복한 방열특성을 향상시킨 부품들이 그 부품을 이용하는 제품과 사용자들에게 주목받고 있다. 특히 반도체 소자에서 회로의 높은 집적도와 전력의 대용량화로 인해 사용 시 소자에서 상당한 열이 발생하여 소자의 기능을 저하시킬 뿐만 아니라 주변소자의 오동작, 기판의 열화 등의 원인이 되고 또한 방열을 효율적으로 하지 않을 경우 충분한 방열을 위한 공간이 소요되므로 기기를 소형화, 경량화 시키기가 어려워 방열이 효과적으로 잘 이루어지는 기구적 방열 수단과 방열 재료의 개발에 대한 연구에 관심이 집중되고 있다 [1]. 방열 문제의 해결 수단으로써 소형 전기 부품의 표면에 방열 유닛을 설치하는 방법들이 이 기술 영역에 있어 폭넓게 이용되고 있지만 종래의 방열 장치와 전기 부품과의 접촉 표면에는 요철이 있어, 긴밀히 접촉을 이루기 어렵고,전기 부품의 방열 효율을 효과적으로 향상시키기에는 한계가 있다. | |
전기전자 부품의 소형화로 발생하는 문제점은? | 반도체 칩의 고집적화에 수반하여 전기전자 부품의 소형화가 시장에서 요구되고 있으며, 소형화 결과로 발생되는 부품의 방열문제로 야기되는 부품의 품질저하와 같은 문제들을 극복한 방열특성을 향상시킨 부품들이 그 부품을 이용하는 제품과 사용자들에게 주목받고 있다. 특히 반도체 소자에서 회로의 높은 집적도와 전력의 대용량화로 인해 사용 시 소자에서 상당한 열이 발생하여 소자의 기능을 저하시킬 뿐만 아니라 주변소자의 오동작, 기판의 열화 등의 원인이 되고 또한 방열을 효율적으로 하지 않을 경우 충분한 | |
반도체 칩 방열문제의 해결수단으로써 폭넓게 이용되고 있는 방법은? | 방열을 위한 공간이 소요되므로 기기를 소형화, 경량화 시키기가 어려워 방열이 효과적으로 잘 이루어지는 기구적 방열 수단과 방열 재료의 개발에 대한 연구에 관심이 집중되고 있다 [1]. 방열 문제의 해결 수단으로써 소형 전기 부품의 표면에 방열 유닛을 설치하는 방법들이 이 기술 영역에 있어 폭넓게 이용되고 있지만 종래의 방열 장치와 전기 부품과의 접촉 표면에는 요철이 있어, 긴밀히 접촉을 이루기 어렵고,전기 부품의 방열 효율을 효과적으로 향상시키기에는 한계가 있다. 따라서 방열 장치와 전기 부품과의 접촉 표면의 사이에 고열 전도 재료를 이용한 시트를 설치함으로써, 이 양쪽의 접촉면적을 증가시켜 방열 효과를 향상시키려는 여러 가지 연구들이 진행되고 있다 [2]. |
H. C. Mun, Weekly Technical Trend, 1405, 1 (2009).
M. J. Shin, Phys. & High Tech., 11, 11 (2008).
Y. Tomoyoshi, Jpn. Pat. App., 211055 (2005).
J. S. Lee and D. Y. Jeon, Poly. Sci. and Tech., 18, 542 (2007).
Y. Akio and K. Yasuhiro, Jpn. Pat. App., 142638 (2003).
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