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문제 정의
- 본 실험은 AFM 측정 기반의 펄스 전기화학 폴리싱 가공법으로 기존의 전기화학 폴리싱 가공법에 펄스전원을 사용하여 주파수의 변화에 따른 표면의 변화를 측정한 실험이다. 실험에 사용된 전해액은 2.
- 6(b)는 SEM을 이용하여 5000배 확대한 이미지로 표면의 피트 수와 피트의 크기는 줄었으나 미세 표면 단차로 인해 표면 거칠기가 저하된다는 것을 확인 할 수 있었다. 본 연구는 가공 된 전체적인 표면 거칠기를 확인하는 것이 아닌 국부적인 표면 가공에 사용 될 의학, 바이오, 마이크로/ 나노 분야에서의 미세 표면 가공으로 목적을 두고 있다. Fig.
- 본 연구는 스테인리스 강 316L의 시험편을 펄스 전기화학폴리싱 가공 시 펄스 주파수 변화를 중심으로 표면 개선정도의 상관관계를 분석하였다.
- 상기의 일련과정에 의하여 전기화학 폴리싱 프로세스가 진전된다. 본 연구에서 적용되는 펄스 전기화학 폴리싱은 일련의 불연속적인 전원인가 방식을 통하여 근본적으로 과도한 전해용출의 방지를 도모하고 펄스조건의 정량적인 분석을 통하여 국부적인 표면 변화와의 상관관계를 규명함에 있다.
- 즉, 펄스 전기화학 폴리싱(Pulse electrochemical polishing, PECP)을 이용하게 된다면 가공 시 전기화학 폴리싱으로 가공하지 못하는 미세한 표면의 부분까지 가공될 뿐만 아니라 정밀한 치수를 요구하는 공작물까지 효율적으로 가공 할 수 있다(4,5). 본 연구의 목적은 기존의 전기화학 폴리싱 방법을 이용한 미세한 표면가공 보다 더욱 우수한 표면 가공을 위해 펄스를 이용한 전기화학 폴리싱 가공으로 공작물의 평활도와 청정도를 높이는 것이다.
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