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평행판 도파관을 이용한 유전율 측정 방법
A Permittivity Measurement of Dielectric Slabs Using a Parallel Plate Waveguide 원문보기

한국인터넷방송통신학회 논문지 = The journal of the Institute of Internet Broadcasting and Communication, v.12 no.2, 2012년, pp.199 - 203  

조규영 (공주대학교 대학원 정보통신공학과) ,  박위상 (공주대학교 전기전자제어공학부)

초록
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평행판 도파관에 진행하는 TEM mode를 이용한 평판형 유전체의 유전율을 측정하는 방식을 소개한다. 이는 양 옆이 열린 구조적 장점으로 실험 절차 및 측정 샘플의 가공이 매우 간편한 장점이 있다. 샘플의 유무에 따라 변화하는 도파관 내에서 전파하는 TEM mode의 위상 속도의 차이를 전자기적으로 해석하였고 이를 이용하여 유전체판의 유전율을 측정하였으며, 샘플에 대한 측정 결과는 기존에 알려진 유전율과 일치하였다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper introduces a simple new procedure approach to determine the permittivity of dielectric slabs. The method uses a parallel plate waveguide which supports a TEM mode. The presence of the dielectric slab placed at the bottom of the waveguide makes the speed of the TEM wave slower. The relatio...

주제어

#Permittivity measurement   #parallel plate waveguide   #simple procedure   #phase velocity  

AI 본문요약
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후속연구

  • This theory can also be applied to measure the thickness of dielectric material of which permittivity is known[9]. Future work should consider broad band measurement applying some matching techniques for PPW, such as a double sided parallel strip line[10], and error reduction through fringing field analysis.
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참고문헌 (10)

  1. Dae-Woong Woo, Dong-Ryul Shin, Jeong-Pyo Kim, Gi-Ho Kim, Jeong-Keun Ji, Won-Mo Seong, Wee-Sang Park, "Bandwidth analysis of a jerusalem AMC based on equivalent medel," IWIT, vol. 10, no. 5, pp. 7-12, Oct, 2010 

  2. A. M. Nicolson and G. F. Ross, "Measurement of the intrinsic properties of materials by time domain techniques," IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 19, no. 4, pp. 377-382, Nov. 1970 

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  3. J. Baker-Jarvis, E. J. Vanzura, and W. A. Kissick, "Improved techniques for determining complex permittivity with the transmission/reflection method," IEEE Trans, Microw. Theory Tech., vol. 38, no. 8, pp. 1096-1103, Aug, 1990 

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  4. G. Annino, M. Cassettari, I. Longo, and M. Martinelli, "Whispering gallery modes in a dielectric resonator: Characterization at millimeter wavelength," IEEE Trans. Microw. Theory Tech. Vol. 45. No 11. pp. 2025-2034, Nov. 1997 

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  5. J. Krupka, K. Derazkowski, B. Riddle, and J. Baker-Jarvis, "A dielectric resonator for measurements of complex permittivity of low loss dielectric materials as a function of temperature," Meas. Sci. Technol., vol. 9, pp. 1751-1756, 1998 

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  6. M. D. Janezic, and J. Barker-Jarvis, "Full-wave analysis of a split cylinder resonator for nondestructive permittivity measurements," IEEE Trans. Microw. Theory Tech. Vol. 47. No 10. pp. 2014-2019, Oct. 1999 

    상세보기 crossref

  7. M. D. Janezic, E. F. Kuester, and J. Barker-Jarvis, "Broadband complex permittivity measurements of dielectric substrates using a split-cylinder resonator," 2004 IEEE MTT-SDigest, pp. 1817-1820, June 2004 

  8. David M. Pozar, Microwave Engineering. 3rd Ed., NewYork: Wiley, 2005, ch. 3 

  9. S. G. Kim and K. Chang, "Ultra wide-band transitions and new microwave components using double-sided parallel-strip lines," IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 52, no. 9, pp. 2148-2152, Sep. 2004 

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  10. Sung-Jin Muhn, Wee-Sang Park, "Regression progress to evaluate metal scale thickness using microwave," IWIT, vol. 10, no. 5, pp. 1-6, Oct, 2010 

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