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NTIS 바로가기電子工學會誌 = The journal of Korea Institute of Electronics Engineers, v.40 no.12 = no.355, 2013년, pp.31 - 45
이병철 (오름반도체 주식회사) , 성홍석 (부천대학교)
초록이 없습니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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AP CVD의 가장 큰 장점은? | 실리콘 기반 반도체에서 AP CVD는 상압(대기압) 하에서 TEOS(Tetra Ethyl Ortho Silicate :(C2H5O)4Si)와 오존(O3)을 반응 물질로 산화막(SiO2)를 형성시키는 공정으로, 오존(O3)을 사용함으로써 저온에서도 박막 증착이 가능하다. AP CVD의 가장 큰 장점은 대기압에서 반응이 일어나도록 설계되었기 때문에 반응이 단순하며, 또한 압력이 높은 상태에서 가스의 평균자유이동 경로 (mean free path)가 짧기 때문에 공극 채움(Gap fill) 능력이 우수하다. | |
AP CVD 공정의 원리는? | 본 공정의 원리는 상압인(760 Torr) 챔버를 일정 압력으로 분사되는 N2 막에 의해 외부와 차단된 상태에서 그 밑을 켄버이어 벨트(Conveyor belt)를 따라 웨이퍼가 지나가면서 주입구(Injector)로 주입되는 가스가열에(500~550℃) 의한 반응으로 증착되는 방식이다. | |
CVD란 무엇인가? | CVD는 Chemical Vapor Deposition의 약어로, 화학물질을 기화시켜 화학반응에 의한 증착 막을 구현하는 반도체 제조 공정 중 하나로, 기체 상태를 취급하는 관계로 온도와 압력, 부피가 가장 큰 공정 제어 요소이며, 박막(Film)이 형성되는 과정에는 동종(Homogeneous) 반응과 이종 (Heterogeneous) 반응이 있는데 동종(Homogeneous) 반응의 경우는 기체상(Gas Phase)에서 일어나며 이때 형성된 박막(Film)은 질적인 측면에서 나쁜 특성과 불량입자(particle)가 많은 반면에 이종(Heterogeneous) 반응은 웨이퍼 표면에서 일어나는 반응으로 고순도 박막(High quality film)을 얻을 수 있기 때문에 이종(Heterogeneous) 반응 위주로의 공정 조건을 유도해야 한다. |
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