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NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.24 no.4, 2013년, pp.436 - 447
곽상근 (성균관대학교 반도체시스템공학과) , 김소영 (성균관대학교 반도체시스템공학과)
In this paper, Integrated circuit(IC) electromagnetic(EM) conducted immunity measurement and simulation using bulk current injection(BCI) and direct power injection(DPI) methods were conducted for 1.8 V I/O buffers. Using the equivalent circuit models developed for IC electromagnetic conducted immun...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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IC의 전자파 전도내성 시험의 방법은 어디에 규정되어 있는가? | IC(Integrated Circuit)에서의 전자기파 영향에 대한 전도내성(Electromagnetic Conducted Immunity) 시험은 IEC(International Electrotechnical Commission) 기관에서 규정한다. IC의 전자파 전도내성 시험 방법은 IEC 62132-1~5에 규정을 하고 있다. IEC 62132-1은 일반적인 시험 방법에 대한 기본 구성을 정의하고 있으며, IEC 62132-2는 Radiated Immunity, IEC 62132-3은 BCI(Bulk Current Injection), IEC 62132-4는 DPI(Direct Power Injection), IEC 62132-5는 Workbench Faraday Cage 등을 규정하고 있다[1],[2] . | |
IEC 62132-1~5의 각각의 부분에 규정되어 있는 것은? | IC의 전자파 전도내성 시험 방법은 IEC 62132-1~5에 규정을 하고 있다. IEC 62132-1은 일반적인 시험 방법에 대한 기본 구성을 정의하고 있으며, IEC 62132-2는 Radiated Immunity, IEC 62132-3은 BCI(Bulk Current Injection), IEC 62132-4는 DPI(Direct Power Injection), IEC 62132-5는 Workbench Faraday Cage 등을 규정하고 있다[1],[2] . 이러한 규정 중에서 현재 IC 제품을 생산하는 회사에서 고려하고 있는 방법은 주로 IEC 62132-3에 규정된 BCI 시험과 IEC 62132-4에 규정된 DPI 방법이다[3]~[6] . | |
IEC 62132-3에 규정된 BCI 시험과 IEC 62132-4에 규정된 DPI 방법 각각의 특징은? | 이러한 규정 중에서 현재 IC 제품을 생산하는 회사에서 고려하고 있는 방법은 주로 IEC 62132-3에 규정된 BCI 시험과 IEC 62132-4에 규정된 DPI 방법이다[3]~[6] . BCI는 측정하고자 하는 IC에 전류를 주입하여 EMC(Electromagnetic Compatibility) 규격의 만족 여부를 시험하는 방법이고, DPI는 RF 전력을 직접 IC에 주입하여 각각의 IC 소자들의 내성 크기(immunity level)을 시험하는 방식이다. |
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IEC 62132, Ed.1: Integrated Circuit-Measurements of electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz.
IEC 62132-3, Ed.1: Integrated Circuit - Measurements of Electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz, Part 3: Bulk Current Injection (BCI) Method.
IEC 62132-4, Ed.1: Integrated Circuit - Measurements of Electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz, Part 4: Direct RF Power Injection(DPI) Method.
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Bo Pu, JaeJoong Lee, SangKeun Kwak, SoYoung Kim, and Wansoo Na, "Electromagnetic susceptibility analysis of ICs using DPI method with consideration of PDN", in Proc. APEMC, Singapore, pp. 77-80, May 2012.
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