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자동차 전장제품의 무연솔더 적용기술 및 솔더 접합부 열화거동
Degradation Behavior of Solder Joint and Implementation Technology for Lead-free Automotive Electronics 원문보기

大韓溶接·接合學會誌 = Journal of the Korean Welding and Joining Society, v.31 no.3, 2013년, pp.22 - 30  

홍원식 (전자부품연구원 부품소재물리연구센터) ,  오철민 (전자부품연구원 부품소재물리연구센터)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Due to ELV banning, automotive electronics cannot use four kinds of heavy metal element (Pb, Hg, Cd, $Cr^{6+}$) from 2016. Therefore, this study was focused on degradation characteristics of Sn-3.0Ag-0.5Cu Lead-free solder joint with OSP and ENIG finsh under various reliability assessment...

주제어

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문제 정의

  • 따라서 본 연구에서는 열충격시험, 고온고습동작시험 및 진동시험에 대해 시험시간에 따른 자동차 전장품에 적용된 Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더 접합부의 접합강도의 열화특성에 대해 연구하였다. 또한 전장제품의 차량내 장착 위치에 따른 열화특성을 선행연구 자료와 비교하였다.
  • 엔진룸용 전장제품의 경우, 선행 연구결과를 바탕으로, 솔더 접합강도의 열화 특성을 비교 분석하였다. 또한 무연화 전장제품에서 발생 가능한 휘스커 발생 및 억제방안에 대해 조사하였고, 그 결과는 다음과 같다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
무연솔더 적용은 어디에서 이루어지는가? 전자제품에서의 무연솔더 적용은 이미 상용화 되어, 일반 가전제품 및 모바일 제품 등 우리 주변의 대다수 전자제품이 무연솔더를 적용하고 있다. 그러나 유럽의 특정유해물질관리지침(RoHS)에서 규제대상의 예외조항으로 분류된 제품군에서는 아직도 납(Pb)이 함유된 유연솔더를 사용하고 있다1).
납(Pb)이 함유된 유연솔더를 사용하는 대표적인 사업군은 무엇이 있는가? 그러나 유럽의 특정유해물질관리지침(RoHS)에서 규제대상의 예외조항으로 분류된 제품군에서는 아직도 납(Pb)이 함유된 유연솔더를 사용하고 있다1). 그 중 가장 대표적인 사업군은 항공우주, 자동차2-3) 및 반도체 내부에 사용되는 부품 및 제품이다. 이러한 예외조항의 공통점은 사용자의 안전에 영향을 미치거나, 현재의 기술로 해결할 수 없는 항목인 것이다.
폐차처리지침이 규정한 것은 무엇인가? 이러한 예외조항의 공통점은 사용자의 안전에 영향을 미치거나, 현재의 기술로 해결할 수 없는 항목인 것이다. 최근 유럽의 폐차처리지침(Endof-Life Vehicles, ELV)은 자동차에 사용되는 모든 부품은 4대 중금속(납, 수은, 카드뮴, 6가 크롬)을 포함하는 자동차 부품의 사용 금지 규정을 결정하고 이를 EU 관보에 공고하였고2-4), 2011년 4월 20일부터 개정안이 발효되었다. 이에 따라 자동차에 사용되는 전장 제품 및 부품은 납이 함유되지 않은 무연부품 및 무연 솔더를 적용하여야 한다.
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참고문헌 (26)

  1. EU Council, Directive 2002/95/EC of the European Parliament and of the Council, Restriction of the Use of Certain Hazardous Substances in Electrical and Electronic Equipment : The european parliament and the council fo the european union (2003) 

  2. Commission Directive 2011/37/EU amending Annex II to Directive 2000/53/EC on end-of-life vehicles(ELV Directive), 2011, http://eur-lex.europa.eu/LexUriServ/LexUriServ.do?uriOJ:L:2011:085:0003:0007:EN:PDF (2011) 

  3. EU ELV Directive Bibliographic notice, http://eur-lex. europa.eu/Notice.do?val236993:cs&langen&list236993:cs,&pos1&page1&nbl1&pgs10&hword s (2011) 

  4. Carmine Meola : Pb-free Electronics Research Manhattan Project-Phase I, ACI Technology Inc. (2009) 

  5. IPC 9701, Performance test methods and qualification requirements for surface mount solder attachments, (2002), 4 

  6. Won Sik Hong, Gi-Young Goo and Un Hee Hwang : Verification Guideline of Pb-free Solder Joint Reliability for Military Electronics, Journal of KWJS, 30-3 (2012), 44-50 

  7. Chulmin Oh, Nochang Park, Changwoon Han1, Mansoo Bang, and Wonsik Hong : The Interfacial Reactions and Reliability of SnAgCu Solder Joints under Thermal Shock Cycles, J. Kor. Inst. Met. & Mater., 47-8 (2009), 500-507 (in Korean) 

  8. Chulmin Oh, Nochang Park, and Wonsik Hong : Solder Joints Fatigue Life of BGA Package with OSP and ENIG Surface Finish, J. Kor. Inst. Met. & Mater., 46-2 (2008), 80-87 (in Korean) 

  9. 3. Anon : Copper-Tin Intermetallics, Circuit Manufacturing, 20-9 (1980), 56-64 

  10. B. G. Le, and R. A. Baraczykowshi : Intermetallic Compound Growth on Tin and Solder Plating on Cu Alloys, Wire J. Int., 18-1 (1985), 66-71 

  11. R. Strauss : SMT Soldering Handbook(2nd Edition), Newnes, Oxford (1998), 37-39 

  12. H. A. H. Steen : Aging of Component Leads and Printed Circuit Boards, Research Report IM-1716, Swedish International for Metals Research (1982) 

  13. A. Gangulee, G. C. Das, and M. B. Bever : An X-Ray Diffraction and Calorimetric Investigation of the Compound $Cu_6Sn_5$ , Metal Transaction, 4 (1973), 2063-2066 

  14. W. S. Hong, and K. B. Kim : Tafel Characteristics by Electrochemical Reaction of SnAgCu Pb-Free Solder, Korea Journal of Materials Research, 15-8 (2005), 536-542 (in Korean) 

  15. JEITA : Lead Free Soldering Technologies-From Basic Matters to Measures for Solder Joint Lift-Off, Corona Publishing Co., Tokyo (2004), 26-29 (in Japanese) 

  16. Won-Sik Hong, Whee-Sung Kim, Noh-Chang Park and Kwang-Bae Kim : Activation Energy for Intermetallic Compound Formation of Sn-40Pb/Cu and Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu Solder Joint, Journal of KWJS, 25-2 (2007), 49-55 (in Korean) 

  17. Chulmin Oh, Nochang Park, and Wonsik Hong : Solder Joints Fatigue Life of BGA Package with OSP and ENIG Surface Finish, J. Kor. Inst. Met. & Mater., 46-2 (2008), 80-87 

  18. Sanghun Jin, Namhyun Kang, Kyung-mox Cho, Changwoo Lee and Wonsik Hong : Behavior of Vibration Fracture for Sn-Ag-Cu-X Solders by Soldering, Journal of KWJS, 30-2 (2012), 169-173 (in Korean) 

  19. Yong-Ho Ko, Sehoon Yoo and Chang-Woo Lee : Evaluation on Reliability of High Temperature Lead-free Solder for Automotive Electronics, Journal of the Microelectronics & Packaging Society, 17-4 (2010), 35-40 (in Korean) 

  20. R. W. Johnson, J. L. Evans, P. Jacobsen, J. R. Thompson, and M. Christopher, "he Changing Automotive Environment: High-Temperature Electronics" IEEE Trans. Electron. Pack. Manu., 27-3 (2004), 164 

  21. Sang-Su Ha, Seung-Boo Jung, et all : Thermo-Mechanical Reliability of Lead-free Surface Mount Assemblies for Auto-Mobile Application, Journal of KWJS, 24-6 (2006), 21-27 (in Korean) 

  22. Won Sik Hong, Whee Sung Kim, Byeong Suk Song and Kwang-Bae Kim : Thermal Shock Cycles Optimization of Sn-3.0 Ag-0.5 Cu/OSP Solder Joint with Bonding Strength Variation for Electronic Components, Kor. J. Mater. Res., 17-3 (2007), 152-159 (in Korean) 

  23. Won Sik Hong, Chul Min Oh, and Do Seop Kim : Mitigation and Verification Methods for Sn Whisker Growth in Pb-Free Automotive Electronics, Journal of Electronic Materials, 42-2 (2013), 332-347 

  24. K. S. Kim, K. Hamasaki, K. J. Lee, A. Baated, K. Suganuma, M. Tsujimoto : Effects of the Sn plating structure and surface coating layer on Sn whikser growth, Proc. 19th Micro-Electronic Symposium, Fukuoka, Japan (2009), 65-68 (in Japanese) 

  25. K.S. Kim, K. Suganuma, Y. Yorikado, K.J. Lee, A. Baated, M. Tsujimoto : Effect of Substrate Materials on Sn Whisker Growth, J. Japan Research Institute for Advanced Copper-base Materials and Technologies, 49 (2010), 112-115 (in Japanese) 

  26. IPC-HDBK-830 : Guidelines for Design, Selection and Application of Conformal Coatings (2002) 

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