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접촉열전도재를 도포한 접촉열저항 특성연구
Characterization of Thermal Contact Resistance Doped with Thermal Interface Material 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.30 no.9, 2013년, pp.943 - 950  

문병준 (광주과학기술원 기전공학부) ,  이선규 (광주과학기술원 기전공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper describes the thermal contact resistance and its effect on the performance of thermal interface material. An ASTM D 5470 based apparatus is used to measure the thermal interface resistance. Bulk thermal conductivity of different interface material is measured and compared with manufacture...

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  • 1. The measurement error level decreases with increasing heat flux for a specified thermal conductivity material.
  • 2. For a given heat flux, the measurement error is higher for high thermal conductivity material.
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참고문헌 (14)

  1. Gwinn, J. P. and Webb, R. L., "Performance and testing of thermal interface materials," Microelectronics Journal, Vol. 34, No. 3, pp. 215-222, 2003. 

  2. Grujicic, M., Zhao, C. L., and Dusel, E. C., "The effect of thermal contact resistance on heat management in the electronic packaging," Applied Surface Science, Vol. 246, pp. 290-302, 2005. 

  3. Mahajan, R., "Thermal Interface Materials: A Brief Review of Design Characteristics and Materials," Electronics Cooling, Vol. 2, No. 1, 2004. 

  4. Madhusudana, C. V., "Accuracy in thermal contact conductance experiments -The effects of heat loss to the surroundings," International Communications in Heat and Mass Transfer, Vol. 27, No. 6, pp. 877-891, 2000. 

  5. Bahrami, M., Yovanovich, M. M., and Culham, J. R., "Thermal Joint Resistance of Conforming Rough Surfaces with Gas-filled Gaps," Journal of Thermophysics and Heat Transfer, Vol. 18, No. 3, pp. 318-325, 2004. 

  6. Sarvar, F., Whalley, D. C., and Conway, P. P., "Thermal Interface Materials - A Review of the State of the Art," 1st Electronics Systemintegration Technology Conference, Vol. 2, pp. 1292-1302, 2006. 

  7. Savija, I., Culham, J. R., and Yovanovich, M. M., "Effective thermophysical properties of thermal interface materials: Part 1 definitions and models," proc. of International Electronic Packaging Technical Conference and Exhibition, Documet ID: IPACK2003-35088, 2003. 

  8. Hanson, K., "ASTM D 5470 TIM Material Testing," IEEE 22nd Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, pp. 50- 53, 2006. 

  9. Gwinn, J. P., Saini, M., and Webb, R. L., "Apparatus for Accurate Measurement of Interface Resistance of High Performance Thermal Interface Materials," The 8th Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, pp. 644-650, 2002. 

  10. Kearns, D., "Improving Accuracy and Flexibility of ASTM D 5470 for High Performance Thermal Interface Materials," 19th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, pp. 129-133, 2003. 

  11. ASTM D5470-01, "Standard Test Method for Thermal Transmission Properties of Thin Thermally Conductive Solid Electrical Insulation Materials," 2001. 

  12. Bahram, M., Yavanovich, M. M., and Culham, J. R., "Thermal contact resistance at low contact pressure: Effect of elastic deformation," International Journal of Heat and Mass Transfer, Vol. 48, No. 16, pp. 3284- 3293, 2005. 

  13. Kim, J. K., Nakayama, W., and Lee, S. K., "Characterization of a thermal interface material with heat spreader," J. Korean Soc. Precis. Eng., Vol. 26, No. 1, pp. 91-98, 2010. 

  14. Kim, J. K., Nam, S.-K., Nakayama, W., and Lee, S. -K., "Compact Thermal Network Model of the Thermal Interface Material Measurement Apparatus With Multi-Dimensional Heat Flow," IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Vol. 1, No. 8, pp. 1186- 1194, 2011. 

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