최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기한국안전학회지 = Journal of the Korean Society of Safety, v.28 no.2, 2013년, pp.26 - 30
박형기 (전주대학교 소방안전공학과) , 최충석 (전주대학교 소방안전공학과)
The purpose of this study is to find risk factors by analyzing the operation principle of a photo coupler (P/C) used to remove the noise of electronic devices and establish a base for the performance improvement of developed products. It was found from the P/C circuit analysis of normal products tha...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
포토커플러란? | 전자기기에 사용되는 포토커플러(P/C; Photo Coupler)는 전기 신호를 빛의 신호로 변환하고 빛을 다시 전기 신호로 변환하는 디바이스이다. 현재 사용되고 있는 P/C는 1955년 미국의 E. | |
최근에 개발된 P/C는 어디에 사용되는가? | 발광부에는 발광다이오드, 텅스텐램프, 네온 램프 등이 쓰이고, 수광부에는 실리콘 아발란세 포토다이 오드, pin 다이오드, 황화카드뮴, 카드뮴셀레늄 등이 사용된다. 최근에 개발된 P/C는 갈륨비소 적외선 발광다이오드와 실리콘 포토다이오드 등이며, 컴퓨터의 주변기기, 자동 판매기, 릴레이, 전원제어용 등에 사용된다. 또한 수광부와 집적회로 등을 조합한 것과 직접 전력계통을 제어하기 위한 포토사이리스터와 조합한 것도 개발되어 있다. | |
P/C의 수광부에는 무엇이 사용되는가? | 로브너가 고안한 것에 기초하여 개발된 것들이 대부분이다. 발광부에는 발광다이오드, 텅스텐램프, 네온 램프 등이 쓰이고, 수광부에는 실리콘 아발란세 포토다이 오드, pin 다이오드, 황화카드뮴, 카드뮴셀레늄 등이 사용된다. 최근에 개발된 P/C는 갈륨비소 적외선 발광다이오드와 실리콘 포토다이오드 등이며, 컴퓨터의 주변기기, 자동 판매기, 릴레이, 전원제어용 등에 사용된다. |
Yamazaki, "Safety Design Note of Electronic Circuit", The Nikkan Kogyo Shinbum, pp. 30-36, 2008.
SONY Tech. Training Center, "The Application of Electronic Component", pp. 3-3-3-53, 1995.
Osamu, "Design Capabilities to Determine the Quality", The Nikkan Kogyo Shinbum, pp. 113-121, 2009.
Chung-Seog Choi, Hyun-Woo, Kim, Kyung-Sup Lee, Yang- Su Lim, Chun-Ha Lee and Jae-hee Chung, "Electrical Fire Engineering", Honghwa Technology Publishing Co., pp. 189-198, 405-409, 2004.
Chung-Seog Choi, Hyang-Kon Kim, Dong-Ook Kim and Dong-Woo Kim, "The Analysis of Voltage Waveform and Oxidation Growth of Conductor with Series Arc", The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers, Vol. 55P, No. 3, pp. 146-152, 2006.
Kil-Mok Shong, Chung-Seog Choi, Young-Su Roh and Hee- Ro Kwak, "Carbonization Characteristics of Phenolic Resin Deteriorated by Tracking," The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers, 53C-1-1, pp. 1-7, 2004.
Sasaki Hara, "Basic of Reliability Technique" Shuwa System, pp. 32-33, 2009.
H. J. Kim, H. J. Kim, "Innovation Production Management", Hyungseul Publishing Co., pp. 312-316, 2011.
M. Modarres, "Reliability and Risk Analysis", Marcel Dekker Inc, pp. 136-140, 1993.
Kiyoshi Nikawa, "All of LSI Failure Analysis Technique" Kogyo Chosaka, Publishing Co. Ltd, pp. 65-66, 2007,
Technical Committee on Reliability, "Failure Analysis and Countermeasure for Electronic Engineer", pp. 58-59, 2006.
SHARP, "Semiconductor Reliability Handbook Opto-Electronic Devices Edition", IV.22, IV-25, 1993.
Danaka, "Reliability Engineering Guide", Japanese Standard Association, pp. 59-63, 2010.
Aziki, "Reliability Technique of Semiconductor Device", The Institute of Japanese Union of Scientist & Engineering, pp. 95-120, 2008.
Hatsuta et al, "Material Dynamics & Fatigue Design Guide", The Nikkan Kogyo Shinbum, pp. 155-164, 2009.
Hirayama, "Non Destructive Testing Manual", Japanese Standard Association, pp. 24-33, 1995.
Yoshita, "Failure Cause & Countermeasure of Electronic Component", The Nikkan Kogyo Shinbum, pp.43-64, 2006.
Transistor Technic Edit Part, "The Handbook of Electronic Circuit Component", p. 278, 2007.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.