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NTIS 바로가기세라미스트 = Ceramist, v.16 no.3, 2013년, pp.27 - 34
송경 (포항공과대학교 신소재공학과) , 오상호 (포항공과대학교 신소재공학과)
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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TEM을 기반으로 개발된 분석법의 장점은? | X-ray와 Raman등의 회절 및 분광 현상에 기반을 둔 분석법은 시료 전체에 작용하는 격자변형의 평균적인 값만을 얻을 수 있다. 반면, TEM을 기반으로 개발된 분석법은 국소 영역에서의 나노미터 이하의 분해능으로 정확한 격자변형량을 분석할 수 있는 장점이 있다. 하지만, TEM 시편을 제조하는 과정에서 수반되는 시료의 박편화에 따른 변형의 풀림 현상과 시료의 손상 등은 여전히 극복해야할 과제로 남아 있다. | |
일반적으로 격자변형 분석에 활용되는 것은? | 이를 위해서는 격자변형량의 공간적인 분포를 정량적으로 분석할 수 있는 분석법의 개발이 반드시 필요하다. 일반적으로 격자변형 분석에는 X-ray 회절, Raman 분광, 투과전자현미경 (Transmission electron microscope; TEM) 등이 활용되고 있으나, 이들 중 TEM만이 유일하게 나노미터 수준의 공간 분해능으로 격자변형을 mapping할 수 있는 방법이다. X-ray와 Raman등의 회절 및 분광 현상에 기반을 둔 분석법은 시료 전체에 작용하는 격자변형의 평균적인 값만을 얻을 수 있다. | |
TEM을 기반으로 개발된 분석법의 한계는 무엇인가? | 반면, TEM을 기반으로 개발된 분석법은 국소 영역에서의 나노미터 이하의 분해능으로 정확한 격자변형량을 분석할 수 있는 장점이 있다. 하지만, TEM 시편을 제조하는 과정에서 수반되는 시료의 박편화에 따른 변형의 풀림 현상과 시료의 손상 등은 여전히 극복해야할 과제로 남아 있다. |
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