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NTIS 바로가기전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.62 no.11, 2013년, pp.1617 - 1620
강전홍 (Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science) , 유광민 (Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science) , 이상화 (Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science)
The widely-used measurement methods for conductivity of non-magnetic metals are van der Pauw method, Two Point Probe method and Eddy Current method. Among them a more simpler and easier method is the Eddy Current method and an instrument using the method is a Conductivity Meter which can measure a c...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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금속 도전율의 표준은? | 전력산업에서 고전압 및 대전류 차단기의 스위칭 소재로 주로 사용되는 비철금속은 도전율 특성이 매우 중요시되고 있으며, 가장 많이 사용되는 금속은 구리(Cu)와 알루미늄(Al) 등이다. 금속 도전율의 표준은 시험온도 20 ℃, 길이100 cm, 1 mm2의 일정한 단면적을 가진 구리선의 저항이 1/58 Ω이며, 이때의 비저항(p)은 1.7241 μΩᐧcm 이다. 이것을 100 %IACS (International Annealed Copper Standard)로 정의[1][2]하고, 이 값을 기준으로 구리 외에 각종 금속의 도전율을 평가하며 직류기술[3]을 이용한다. | |
비철금속의 평가방법은? | 철금속과 비철금속 등 다양한 종류의 금속재료들은 선박 및 항공우주산업, 국방산업을 비롯한 많은 분야에서 널리 사용되고 있으며, 용도에 따라 도전율 특성이 요구된다. 각종 금속의 도전율 특성은 철금속의 경우에는 주로 Two Point Probe method로, 비철금속의 경우에는 시편의 형태에 따라 Two Point Probe method, van der Pauw method, Eddy Current method 등으로 평가한다. 비철금속의 도전율 평가방법중 Two Point Probe method나 van der Pauw method는 시편의 단면적이 도전율 계산시에 곧바로 적용되므로 시편의 두께와 폭을 균일하게 가공하여야 시편의 단면적에 의한 측정 불확도를 줄일 수 있다. |
A. Jones, "Development of Non-ferrous Conductivity Standards at Boeing", Eddy Current Nondestructive Testing, NBS special publication 589, Jan. 1981.
A. Jones, Sr., Eddy-Current Characterization of Materials and Structure, ASTM STP 722, American Society of Testing and Materials, pp. 94-118, 1981.
Michael D. Janezic, "DC Conductivity Measurements of Metals", NIST Technical Note 1531, Jan. 2004.
van der Pauw, "A method of measuring specific resistivity and Hall effect of discs of arbitrary shape", Philips Res. Rep., Vol. 13, pp.1-9, 1958.
Gert Rietveld, DC Conductivity Measurements in the van der Pauw Geometry, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 52. No. 2, April 2003.
Patentee: Jeon Hong Kang, Patent No. 10-0653576 : "METAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT ELECTRODE AND TEMPERATURE CONTROLLER USING van der Pauw METHOD"
Patentee:: Jeon Hong Kang, Patent No. 10-0749388, "APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF PLATE AND CIRCLE TYPE SAMPLE",
ISO/IEC GUIDE 98-3:2008, Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995).
EA-4/02, "Expression the uncertainty of measurement in calibration", 1999.
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