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파워디바이스 패키징의 열제어 기술과 연구 동향
Overview on Thermal Management Technology for High Power Device Packaging 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.21 no.2, 2014년, pp.13 - 21  

김광석 (성균관대학교 나노과학기술학과) ,  최돈현 (성균관대학교 신소재공학과) ,  정승부 (성균관대학교 신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Technology for high power devices has made impressive progress in increasing the current density of power semiconductor, system module, and design optimization, which realize high power systems with heterogeneous functional integration. Depending on the performance development of high power semicond...

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제안 방법

  • 14) 알루미늄의 전기비저항, 열전도도 그리고 CTE(2.7 µΩ cm, 220 W/mK, 25 ppm/℃)에 비하여 우수한 구리의 특성(1.7 µΩ cm, 380 W/mK, 16.5 ppm/℃)을 활용하여 열/전기적 특성을 개선하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
와이어 본딩 기술의 한계점은? 5 ppm/℃)을 활용하여 열/전기적 특성을 개선하였다. 와이어 본딩 기술은 간단하면서 공정 속도도 빠른 장점이 있으며 오랜 시간동안 기술이 보완돼 왔으나, 와이어의 두께나 집적도의 한계, 그리고 와이어와 솔더 소재 간의 열응력 등이 한계점으로 지적되고 있다. 이와 같은 기술 한계를 극복하기 위하여 2011년 Semikron 사에서는 기존의 와이어 본딩 대신 Ag/Cu/Polyimide 구조의 유연성 호일(Flexible foil)과 Ag sintering을 활용하여 power cycling 특성을 기존 파워 모듈에 비해 70배 향상된 새로운 인터커넥션 기술을 선보였다(Fig.
파워디바이스란? 이에 따라 전력 변환 및 제어기기 등 반도체 전력용 스위치 역할을 하는 파워디바이스 분야에서도 에너지 절감용 고효율 전자모듈 개발, 친환경 파워디바이스 기술 등에 대해 미국과 일본, 유럽을 중심으로 많은 연구가 이루어지고 있다.1-3) 일반적으로 파워디바이스는 신호 및 정보를 처리, 저장하는 시스템 반도체나 메모리 반도체와 달리 전기에너지의 변환/제어 처리를 수행하는 반도체 소자로서 전기를 처리하는 모든 전지전자기기(스마트 그리드 가전, 휴대폰, 자동차 등)에 사용되는데, 주로 전력변환(AC → DC), 전력 변압, 전력 효율 최적화(분배, 제어) 등에 사용된다.4, 5) Fig.
파워모듈 패키지에서는 무엇을 제어하는 것이 중요한가? 9) 파워모듈 패키지는 단순히 전력 소자를 물리적으로 보호하는 역할뿐만 아니라 패키지 구조가 가지는 특징을 적극적으로 활용하여 칩의 성능 향상에 이용하는 추세이며, 파워반도체 칩에서 발생되는 열을 효과적으로 방출, 제어/보호 회로에 대한 노이즈 안정성, 모듈 패키지의 인덕턴스 성분 최소화, 그리고 시스템의 소형, 경량화를 위한 패키지 크기의 최소화 등의 특성을 만족해야 한다.10) 따라서 패키지 구성 소재 간의 CTE (Coefficient of thermal expansion) 차이로 유발될 수 있는 접착력 감소나 크랙 등의 기계적 특성 변화와 파워디바이스의 열화로 인한 특성 및 효율의 감소현상 등을 제어하는 것이 중요하다.11, 12) Fig.
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참고문헌 (33)

  1. T. Stockmier, "From Packaging to 'Un'-Packaging-Trends in Power Semiconductor Modules", Proc. 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Orlando, 12, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2008). 

  2. S. Dieckerhoff, T. Kirfe, T. Wernicke, C. Kallmayer, A. Ostmann, E. Jung, B. Wunderle and H. Reichl, "Electric Characteristics of Planar Interconnect Technologies for Power MOSFETs", Proc. 38th IEEE Power Electronics Specialists Conference (PESC), Orlando, 1036, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2007). 

  3. R. John, O. Vermesan and R. Bayerer, "High Temperature Power Electronics IGBT Modules for Electrical and Hybrid Vehicles", Proc. International Conference on High Temperature Electronics (HiTEC), Oxford, 199, International Microelectronics Assembly and Packaging Society (iMAPS) (2009). 

  4. Z. Liang, "Status and Trend of Automotive Power Packaging", Prc. 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Bruges, 325, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2012). 

  5. M. Bakowski, "Roadmap for SiC power devices", Journal of Telecommunications and information technology, 3-4, 19 (2000). 

  6. Y. Liu, "Challenges of Power Electronic Packaging", in Power Electronic Packaging: Design, Assembly Process, Reliability and Modeling, pp.1-8, Springer Science+Business Media, New York (2012). 

  7. J. M. Hornberger, E. Cilio, R. M. Schupbach, A. B. Lostetter and H. A. Mantooth, "A High-Temperature Multichip Power Module (MCPM) Inverter Utilizing Silicon Carbide (SiC) and Silicon on Insulator (SOI) Electronics", Proc. 37th IEEE Power Electronics Specialists Conference (PESC), Jeju, 1, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2006). 

  8. N. Y. N. Shammas, "Present problems of power module packaging technology",Microelectron. Reliab., 43, 519 (2003). 

  9. E. Wolfgang, N. Selinger and G. Lugert, "High-Temperature Power Electronics: Challenges and Opportunities", Proc. 2nd International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Bremen, 43, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2002). 

  10. T. Funaki, J. Balda, J. Junghans, A. Kashyap, F. Barlow, A. Mantooth, T. Kimoto and T. Hikihara, "Power Conversion with SiC Devices at Extremely High Ambient Temperatures", Proc. 36th IEEE Power Electronics Specialists Conference (PESC), Recife, 2030, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2005). 

  11. J. N. Calata, J. G. Bai, X. Liu, S. Wen and G.-Q. Lu, "Three- Dimensional Packaging for Power Semiconductor Devices and Modules", IEEE Transactions on Advanced Packaging, 28(3), 404 (2005). 

  12. P. Hansen, and P. McCluskey, "Failure Models in Power Device Interconnects", Proc. 12th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), Aalborg, 1, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2007). 

  13. E. Milke and T. Mueller, "High Temperature Behaviour and Reliability of Al-Ribbon for Automotive Applications", Proc. 2nd Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC), Greenwich, 417, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2008). 

  14. W. Steinhgl, G. Schindler, G. Steinlesberger, M. Traving and M. Engelhardt, "Comprehensive Study of The Resistivity of Copper Wires with Lateral Dimensions of 100 nm and Smaller", J. Appl. Phys., 97, 023706 (2005). 

  15. U. Scheuermann, "Reliability of Planar SKiN Interconnect Technology", Proc. 7th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Nuremberg, 1, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2012). 

  16. S. Thomas, "Reliability of Cu Wire Bonding on Active Area for Automotive Applications", Proc. 11th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), Singapore, 363, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2009). 

  17. S. Bader, W. Gust and H. Hieber, "Rapid Formation of Intermetallic Compounds by Interdiffusion in The Cu-Sn and Ni- Sn Systems", Acta. Metall. Mater., 43(1), 329 (1995). 

  18. K. Guth, D. Siepe, J. Grlich, H. Torwesten, R. Roth, F. Hille and F. Umbach, "New Assembly and Interconnects Beyond Sintering Methods", Proc. 6th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Nuremberg, 232, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2010). 

  19. M. Knoerr, "Power Semiconductor Joining Through Sintering of Silver Nanoparticles: Evaluation of Influence of Parameters Time, Temperature and Pressure on Density, Strength and Reliability", Proc. 6th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Nuremberg, 1, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2010). 

  20. L. Coppola, D. Huff, F. Wang, R. Burgos and D. Boroyevich, "Survey on High-Temperature Packaging Materials for SiCBased Power Electronics Modules", Proc. 38th IEEE Power Electronics Specialists Conference (PESC), Orlando, 2234, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2007). 

  21. D. B. Miracle, "Metal Matrix Composites-From Science to Technological Significance", Comp. Sci. Technol., 65, 2526 (2005). 

  22. D. Schweitzer, H. Pape and L. Chen, "Transient Measurement of The Junction-to-Case Thermal Resistance Using Structure Functions: Chances and Limits", Proc. 24th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, San Jose, 191, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2008). 

  23. J. Biela, U. Badstuebner and J. W. Kolar, "Impact of Power Density Maximization on Efficiency of DC-DC Converter Systems", IEEE Transactions on Power Electronics., 24(1), 288 (2009). 

  24. Z. Xu, F. Xu, D. Jiang, W. Cao and F. Wang, "A High Temperature Traction Inverter with Reduced Cooling and Improved Efficiency for HEV Applications", Proc. 5th IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), Denver, 2786, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2013). 

  25. Z. Liang, P. Ning, F. Wang and L. Marlino, "A Phase-Leg Power Module Packaged with Optimized Planar Interconnections and Integrated Double Sided Cooling", IEEE J. Emerging and Selected Topics in Power Electronics., PP(99), 1 (2014) 

  26. Z. Liang, P. Ning and F. Wang, "Development of Advanced All-SiC Power Modules", IEEE Trans. Power Electron., 29(5), 2289 (2014). 

  27. Y. T. Lee, S. Shanmugan and D. Mutharasu, "Thermal Resistance of CNTs-Based Thermal Interface Material for High Power Solid State Device Packages", Appl. Phys. A., 114(4), 1145 (2014). 

  28. J. Adam, "New Correlations Between Electrical Current and Temperature Rise in PCB Traces", Proc. 20th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMITHEM), San Jose, 292, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2004). 

  29. Y. Ling, "On Current Carrying Capacities of PCB Traces", Proc. 52nd Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego, 1683, IEEE Components, Packaging, and Manufacturing Society (CPMT) (2002). 

  30. Half etching method for high current PCB, TSS Inc. from http://www.tssg.com/substrate/special.html 

  31. H. Lu, C. Bailey and C. Yin, "Design for Reliability of Power Electronics Modules", Microelectron. Reliab., 49(9-11), 1250 (2009). 

  32. M. Thoben, K. Mainka, R. Bayerer, I. Graf and M. Mnzer, "From Vehicle Drive Cycle to Reliability Testing of Power Modules for Hybrid Vehicle Inverter", Proc. 30th International Conference for Power Conversion and Intelligent Motion (PCIM) Europe, Nuremberg, 651, Mesago PCIM GmbH (2008). 

  33. R. Bayerer, T. Hermann, T. Licht, J. Lutz, and M. Feller, "Model for Power Cycling Lifetime of IGBT Modules- Various Factors Influencing Lifetime", Proc. 5th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Nuremberg, 1, IEEE Power Electronics Society (PELS) (2008). 

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