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고강도 전자소자 리드프레임용 Cu/STS/Cu 클래드 메탈제조 및 물리적특성에 대한 열안정성 연구
Fabrication of the Cu-STS-Cu Clad Metal for High Strength Electric Device Lead Frame and Thermal Stability on Their Physical Properties 원문보기

Journal of welding and joining = 대한용접·접합학회지, v.32 no.5, 2014년, pp.80 - 86  

김일권 (서울과학기술대학교 신소재공학과) ,  손문의 (서울과학기술대학교 NID대학원) ,  김용성 (서울과학기술대학교 NID대학원)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

We have successfully fabricated high strengthening Cu/STS/Cu 3 layered clad metal of $70kgf/mm^2$ grade for electric device lead frame, and investigated thermal effect of the mechanical and physical properties on the Cu/STS/Cu 3 layered clad metal lead frame material at different temperat...

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문제 정의

  • 본 연구에서는 최근 전기, 전자소자용 리드프레임 패키징 소재에서 요구하는 높은 기계적 강도 특성을 확보하기 위해 표면 부에 Cu 소재를 사용하여 전기 및 열 전달 특성을 유지시키며, 중간 부에 높은 기계적 강도를 가진 이종 소재인 STS 소재를 클레딩 하여 압연비를 조절하여 기계적 강도를 개선하였다. 또한 본 연구에서는 최근 전기, 전자소자의 고기능화 및 소형화에 따른 발열온도를 고려하여 고강도 전기, 전자소자 리드 프레임용 소재로 제조된 Cu/STS/Cu 클래드 메탈을 상온에서 최대 200℃ 온도영역에서 소재의 열안정성 및 물리적특성 변화에 대해 조사하였다.
  • 본 연구에서는 최근 전기, 전자소자용 리드프레임 패키징 소재에서 요구하는 높은 기계적 강도 특성을 확보하기 위해 표면 부에 Cu 소재를 사용하여 전기 및 열 전달 특성을 유지시키며, 중간 부에 높은 기계적 강도를 가진 이종 소재인 STS 소재를 클레딩 하여 압연비를 조절하여 기계적 강도를 개선하였다. 또한 본 연구에서는 최근 전기, 전자소자의 고기능화 및 소형화에 따른 발열온도를 고려하여 고강도 전기, 전자소자 리드 프레임용 소재로 제조된 Cu/STS/Cu 클래드 메탈을 상온에서 최대 200℃ 온도영역에서 소재의 열안정성 및 물리적특성 변화에 대해 조사하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
현재 반도체 리드프레임 패키징 소재로 사용되는 것은? 현재 반도체 리드프레임 패키징 소재로는Cu-Ni-Si계동합금, Cu-Fe-P계 동합금, alloy42(57.7% Fe, 41% Ni, 0.8% Mn, and 0.5% Co)등이 가장 일반적으로 사용되고 있다. 하지만 이들 합금소재는 국제 연동 표준(%IACS : international annealed copper standard)에서 요구하는 50kgf/mm2 이상의 기계적 강도와 70%이상의 전기 전도도에 대한 요구를 충족시키지 못하고 있다5,6).
동합금 단일금속소재의 한계점은? 하지만 이들 합금소재는 국제 연동 표준(%IACS : international annealed copper standard)에서 요구하는 50kgf/mm2 이상의 기계적 강도와 70%이상의 전기 전도도에 대한 요구를 충족시키지 못하고 있다5,6). 또한 이들 동합금 단일금속소재는 반도체 리드프레임 패키징 소재에 만족하는 높은 기계적 강도나 열 안정성 등을 확보하는데 한계를 극복하기 어렵다. 따라서 최근 단일금속소재로 가장 많이 사용되는 구리 소재에 강도가 높은 금속 소재를 적층 시킨 후 압연하여 높은 기계적 강도를 개선하려는 연구들이 진행 되고 있다9-11).
고강도 전기, 전자소자용 리드프레임의 소재의 제조 및 물리적 특성에 대한 열안정성 연구 결과는? 1) 고강도의 기계적 특성을 갖는 소재를 확보하기 위해 Cu/STS/Cu 클래드방법의 이종소재 접합공정을 하였고, 이때 최대의 인장강도는 압연비 90%이상의 높은 가공비에서 70 kg/mm2이상의 높은 값을 확보할 수 있었다. 또한 소재의 경도값의 변화는 모재 및 부재의 값들이 마이크로 Hv 값으로 405 및 120 수준으로 안정한 값을 유지하였다. 2) 고강도 리드프레임 소재의 기계적 열안정성을 평가하기 위해 소재의 실제 고방열의 전기, 전자소자의 리드프레임에서 발생하는 발열 온도 약 80℃보다 높은 100℃ ~ 200℃에서도 70 kgf/mm2 이상의 높은 인장강도를 유지하는 것으로 나타났다. 또한 소재의 경도 값의 변화는 검토한 온도 범위 150℃까지 모재 및 부재에서 3% 미만, 최대 200℃의 고온에서도 6%미만으로 우수한 열안정성을 보였다. 3) 상온에서 열전도도는 약 220(W/m·K)로 높은 열전달 특성을 나타냈으며, 온도변화에 따른 열전도도는 온도가 증가함에 따라 점차 증가하는 경향을 나타내었다. 이는 온도증가에 따라 소재의 비열 특성의 증가율이 열확산계수의 감소율에 비해 열전달특성에 영향을 주고 있음을 보여주었다. 4) 클래드 소재의 전기적 특성은 58.44 %IACS의 전기 전도도 값을 나타내었다. 이 값은 고강도 전기, 전자 소자용 리드프레임 소재 산업분야에서 요구되는 순동소재의 전기전도도 기준 50 %IACS 값에 대해 15% 이상 높은 매우 안정된 전기특성을 나타내었다.
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참고문헌 (19)

  1. Seung Zeon Han, and Su-Hyeon Kim : Technological Trend in Thermo-mechanical Treatment of High Conductivity Copper Alloys, Trends in Metals & Materials Engineering, 21-2(2009), 27-33 (in Korea) 

  2. Koya Nomura : R & D Kobe Steel Engineering Reports, 54-1 (2004) 115 

  3. Hoon Cho, Byoung-Soo Lee, and Hyung-Ho Jo : Development of High Strength and High Conductivity Cu Alloys, Trends in Metals &Materials Engineering, 21-2 (2008), 21-26 (in Korea) 

  4. Young-Bae Kim, Jongsup Lee, Guen-Ahn Lee and Sangmok Lee : An Overview and Prospects for Hybrid Materials, Trends in Metals &Materials Engineering, 24-4 (2011), 24-30 (in Korean) 

  5. Young-Sung Kim and Il-Gwon Kim : Thermal Stability of the Mechanical and Thermal Conductive Properties on Cu-STS-Cu Clad Metal for LED Package Lead Frame, Journal of KWJS, 31-5 (2013), 77-81 (in Korean) 

  6. Chang-Hun Lee, Ki-Chul Kim and Young-Sung Kim : Study on the Mechanical Properties and Thermal Conductive Properties of Cu/STS/Cu Clad Metal for LED/semiconductor Package Device Lead Frame, Journal of KWJS, 30-3 (2012), 230-235 (in Korean). 

  7. Byung-Koog Jang, Yoshio Sakka, Norio Yamaguchi, Hideaki Matsubara and Hyung-Tae Kim : Thermal conductivity of EB-PVD $ZrO_{2}-4$ mol% $Y_{2}O_{3}$ films using the laser flash method, Journal of Alloys and Compounds, 509 (2001), 1045-1049 

  8. E. Fred Schubert : Light Emitting Diodes, 2nd Ed. Cambridge University Press, 2003, 13 

  9. D. J. Lee, D. H. Ahn, E. Y. Yoon, S. I. Hong, S. H. Lee and H. S. Kim : Estimating interface bonding strength in clad metals using digital image correlation, Scripta Materialia, 68 (2013), 893-896 

  10. J.E.Lee, D.H.Bae, W.S. Chung, K.H.Kim, J.H.Lee, Y.R. Cho : Effects of annealing on the mechanical and interface properties of stainless steel/aluminum /copper clad-metal sheets, J. of Mater. Processing Technology, 187-188 (2007) 546-549 

  11. Jong Su, Sun Ig Hong : Design of high strength Cu alloy interlayer for mechanical bonding Ti to steel and characterization of their tri-layered clad, Materials and Design, 51 (2013), 293-299 

  12. Seung Zeon Han, Kwangjun Euh and Hyuk Chon Kwon : Technologies in Thermo-mechanical Treatment of High Strength and High Conductivity Copper alloys, Trends in Metals &Materials Engineering, 22-6 (2009), 12-18 (in Korean) 

  13. S. J. Yoo, D. H. Kim : Super thin 0.25 mm thickness white LED lamp with PCB type lead frame, Journal of the korean institute of electrical and electronic material engineers, 23-1(2010), 34-37 (in Korean) 

  14. B. J. Kim, M. H. Jeong, S. H. Hwang, H. Y. Lee, S. W. Lee, K. D. Chun, Y. B. Park, Y. C. Joo : Relationship between tensile characteristics and Fatigue failure by folding or bending in Cu foil on flexible substrate, J. Microelectron. Packag. Soc., 18-1 (2011), 55 

  15. J. S. Jeong, K. H. Shin, J. H. Kim : Estimation of mechanical properties of Sn-xAg-0.5Cu lead-free solder by tensile test, Journal of KWJS, 29-1 (2011), 41-45 (in Korean) 

  16. Soon-Jae Yu, Do-Hyung Kim, Yong-Seok Choi and Heetae Kim : Development of a very small LED lamp with a low-thermal-resistance lead frame for an LCD backlight unit, J. Information Display, 10-2 (2009), 49-52 

  17. R. Kisiel, M. Jarosz : Thermal properties of SiCceramics substrate interface made by silver glass composition, Electronics Technology(ISSE), 34th International spring seminar on. 2011, 98-102 

  18. J. H. Kang, S. O. Han : DC and AC characterization of metal conductivity using the van der pauw measurement method, The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, 2007, 157-160 (in Korean) 

  19. K. J. Hong, L. S. Hun : A study on the precision measurement of metal electrical resistivity, The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, 2007, 37-39 (in Korean) 

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