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NTIS 바로가기한국산학기술학회논문지 = Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society, v.15 no.11, 2014년, pp.6419 - 6424
이준성 (경기대학교 기계시스템공학과) , 홍희록 (경기대학교 대학원 기계공학과) , 조계현 (경기대학교 대학원 기계공학과) , 박동근 (경기대학교 기계시스템공학과)
The use of the PMP (Protection Module Package) was proposed as a solution for the shorter battery lifetime. The PMP means that a protection circuit consists of a semiconductor single. In this study, basic research was carried out to select a suitable epoxy material of the EMC module through finite e...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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PMP란 무엇인가? | 그에 따라 내부저항을 증가시키는 요인인 반도체와 PCB 기판 사이의 납땜 저항, 인쇄회로기판 패턴을 통해 발생되는 패턴 저항 등을 최소화하려고 한다. 그 방법으로 보호회로 전체를 하나의 반도체 형태로 구성하는 PMP(Protection Module Package)를 제안한다[2]. 기존 패키지에서는 구리 재질의 리드프레임을 사용하였지만 구리의 경우 배터리 팩 제조 공정에서 PTC와 연결이 불가하다는 단점이 있어 새로운 재질을 사용하게 되었다. | |
PMP는 일반 PCB 대비 어떤 장점이 있는가? | 기존 패키지에서는 구리 재질의 리드프레임을 사용하였지만 구리의 경우 배터리 팩 제조 공정에서 PTC와 연결이 불가하다는 단점이 있어 새로운 재질을 사용하게 되었다. 또한, 일반 PCB의 경우 니켈도금 후 금도금을 진행하게 되는데, PMP의 경우엔 기본이 되는 리드프레임이 니켈의 재질로 되어 있어 니켈 도금을 생략할 수 있다는 장점이 있다. 특히 PMP는 PCM 대비하여 IR을 대폭 감소할 수 있으며 PCB에서 발생하는 패턴에 의한 저항을 감소시킬 수 있다. | |
스마트폰 기기가 사람들의 편의성을 위해 소형화 되는 반면 기능은 증가하는 추세에 있어 용량 및 출력 밀도 또한 증가되고 있는 추세임에 따라 어떤 문제가 발생하는가? | 스마트폰 기기는 사람들의 편의성을 위해 소형화 되는 반면 기능은 증가하는 추세에 있어 용량 및 출력 밀도 또한 증가되고 있는 추세이다. 그래서 배터리 사용시간이 짧아지는 문제가 계속 발생하고 있다[1]. 그에 따라 내부저항을 증가시키는 요인인 반도체와 PCB 기판 사이의 납땜 저항, 인쇄회로기판 패턴을 통해 발생되는 패턴 저항 등을 최소화하려고 한다. |
G. H. Jo, J. S. Lee, H. R. Hong, D. K. Park, "Strength Evaluation According to The Type of Material EMC Modules Through a Finite Element Analysis", Proceedings of KSPE 2014 Spring Conference, KSPE, pp. 721-722, 2014.
H. R. Hong, J. S. Lee, G. H. Jo, D. K. Park, "Analysis on Temperature Change according to Current Injection of EMC Module", Proceedings of KSPE 2014 Spring Conference, KSPE, pp. 161-162, 2014
Kim, J. S., "Study on Preform Design for Reducing Weight of PET Packaging Bottle", J. of the KAIS, Vol. 11, No. 1, pp. 1-6, 2010. DOI: http://dx.doi.org/10.5762/KAIS.2010.11.1.001
J. B. Park, B. G. Kim, S. H. Song and D. S. Rho, "Development of State of Charge and Life Cycle Evaluation Algorithm for Secondary Battery", J. of the KAIS, Vol. 14, No. 1, pp. 369-377, 2013. DOI: http://dx.doi.org/10.5762/KAIS.2013.14.1.369
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