최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.26 no.12, 2015년, pp.1058 - 1063
고지환 (금오공과대학교 전자공학부) , 조영기 (경북대학교 전자공학부)
In this article, we propose a near field microwave scanning probe structure in which two short conducting rods are attached to the center of the ridged(H-type) aperture, thereby reducing significantly the beam spot area while maintaining the high transmission efficiency through the output coupling H...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
근접장 마이크로파 현미경의 동작 원리는 무엇인가? | 최근에는 근접장 마이크로파 현미경(near-field micro-wave microscopy)에 관심이 집중되고 있는데, 이는 비접촉, 비파괴적으로 물체의 이미지와 물성을 추출해 낼 수 있다는 이점이 있다는 것이다[1]~[5]. 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다. 마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 도파관 탐침이며, 높은 해상도의 이미지를 얻기 위해서는 도파관 탐침의 개구를 매우 작게 만들어서 근접 피측정 물체에 조사되는 전자파의 스팟 면적(spot area)을 줄일 수 있어야만 하고, 동시에 도파관 탐침의 개구를 통한 투과 효율을 높일 수 있게 만들어야만 한다[1]~[5]. | |
마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 무엇인가? | 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다. 마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 도파관 탐침이며, 높은 해상도의 이미지를 얻기 위해서는 도파관 탐침의 개구를 매우 작게 만들어서 근접 피측정 물체에 조사되는 전자파의 스팟 면적(spot area)을 줄일 수 있어야만 하고, 동시에 도파관 탐침의 개구를 통한 투과 효율을 높일 수 있게 만들어야만 한다[1]~[5]. | |
근접장 마이크로파 현미경의 장점은 무엇인가? | 최근에는 근접장 마이크로파 현미경(near-field micro-wave microscopy)에 관심이 집중되고 있는데, 이는 비접촉, 비파괴적으로 물체의 이미지와 물성을 추출해 낼 수 있다는 이점이 있다는 것이다[1]~[5]. 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다. |
E. A. Ash, G. Nicholls, "Super-resolution aperture scanning microwave microscope", Nature, vol. 237, pp. 510-512, 1972.
D. A. Usanov, A. V. Skripal, "Near-field microwave microscopy, capabilities, apllication areas", MIKON 2012, pp. 163-168, 2012.
S-N. Hsieh, T-H. Chu, and M-T. Chen, "Scanning nearfield microwave microscope using a rectangular wave-guide probe with different resonant modes of cavity", APMC, 2011.
J. D. Chisum, M. Ramirez-Velez, and Z. Popovic, "Planar circuit for non-contact near-field microwave probing", Proceedings of the 39th European Microwave Conference, pp. 802-805, 2009.
Michael Golosovsky, A. Galkin, and Dan Davidov, "High-spatial resolution resistivity mapping of large-area YBCO films by a near-field millimeter-wave microscope", IEEE Trans. MTT, vol. 44, no. 7, pp. 1390-1392, Jul. 1996.
J. E. Park, J. Yeo, J. W. Ko, and Y. K. Cho, "Resonant transmission of an electrically small aperture with ridge", J. of Electromagnetic Waves and Appl., vol. 23, pp. 1981-1990, Nov. 2009.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
Free Access. 출판사/학술단체 등이 허락한 무료 공개 사이트를 통해 자유로운 이용이 가능한 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.