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고 투과 효율과 소형 빔 스팟 면적을 갖는 근접장 마이크로웨이브 도파관 탐침의 설계
Design of the Near Field Microwave Guide Type of Probe Having Enhanced High Transmission Efficiency and Smaller Beam Spot Area 원문보기

韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.26 no.12, 2015년, pp.1058 - 1063  

고지환 (금오공과대학교 전자공학부) ,  조영기 (경북대학교 전자공학부)

초록
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본 연구에서는 높은 투과 효율은 유지하면서 스팟 면적을 보다 획기적으로 줄일 수 있도록 가느다란 두 개의 짧은 도체 봉이 리지(H-형태) 개구의 중심에 부착된 근접장 마이크로웨이브 주사 탐침 구조를 제안하였다. 여기서 두 개의 짧은 도체 봉은 H-형태 개구를 통과하는 투과 전자파 에너지를 집속하게 하여, 고 해상도를 위해 스팟 면적을 극히 작게 줄어들게 하는데 중요한 역할을 한다. 제안된 이론의 타당성을 확인하기 위해 모의실험 결과에 따라 근접장 도파관 탐침을 제작하고, 반사손실을 측정하여 계산결과와 비교적 일치된 결과를 얻었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this article, we propose a near field microwave scanning probe structure in which two short conducting rods are attached to the center of the ridged(H-type) aperture, thereby reducing significantly the beam spot area while maintaining the high transmission efficiency through the output coupling H...

주제어

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문제 정의

  • 본 논문에서는 앞서 리지가 있는 소형 개구의 스팟 면적을 보다 획기적으로 줄이기 위해 리지에 가느다란 두 개의 도체 봉이 평행하게 부착된 도파관 탐침의 구조를 제안하고자 한다. 이렇게 리지에 도체 봉을 부착하면 높은 투과 효율을 유지하면서 개구에서 발생된 전자파의 에너지를 집속하는 역할로 인해 스팟 면적은 획기적으로 작게 구현할 수 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
근접장 마이크로파 현미경의 동작 원리는 무엇인가? 최근에는 근접장 마이크로파 현미경(near-field micro-wave microscopy)에 관심이 집중되고 있는데, 이는 비접촉, 비파괴적으로 물체의 이미지와 물성을 추출해 낼 수 있다는 이점이 있다는 것이다[1]~[5]. 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다. 마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 도파관 탐침이며, 높은 해상도의 이미지를 얻기 위해서는 도파관 탐침의 개구를 매우 작게 만들어서 근접 피측정 물체에 조사되는 전자파의 스팟 면적(spot area)을 줄일 수 있어야만 하고, 동시에 도파관 탐침의 개구를 통한 투과 효율을 높일 수 있게 만들어야만 한다[1]~[5].
마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 무엇인가? 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다. 마이크로파 현미경의 이미지 해상도에 결정적인 영향을 주는 핵심 부품은 도파관 탐침이며, 높은 해상도의 이미지를 얻기 위해서는 도파관 탐침의 개구를 매우 작게 만들어서 근접 피측정 물체에 조사되는 전자파의 스팟 면적(spot area)을 줄일 수 있어야만 하고, 동시에 도파관 탐침의 개구를 통한 투과 효율을 높일 수 있게 만들어야만 한다[1]~[5].
근접장 마이크로파 현미경의 장점은 무엇인가? 최근에는 근접장 마이크로파 현미경(near-field micro-wave microscopy)에 관심이 집중되고 있는데, 이는 비접촉, 비파괴적으로 물체의 이미지와 물성을 추출해 낼 수 있다는 이점이 있다는 것이다[1]~[5]. 이런 현미경의 동작 원리는 RF 신호 발생기에서 생성된 마이크로파 에너지가 도파관 탐침(waveguide probe)을 통해 피측정 물체에 방사되고, 피측정 물체에 의해 반사된 파는 다시 원래의 도파관 탐침을 통해 탐지기에 감지되고, 이 감지 신호를 해석하여 물체의 이미지와 물성에 대한 데이터를 얻는 것이다.
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참고문헌 (8)

  1. E. A. Ash, G. Nicholls, "Super-resolution aperture scanning microwave microscope", Nature, vol. 237, pp. 510-512, 1972. 

  2. D. A. Usanov, A. V. Skripal, "Near-field microwave microscopy, capabilities, apllication areas", MIKON 2012, pp. 163-168, 2012. 

  3. S-N. Hsieh, T-H. Chu, and M-T. Chen, "Scanning nearfield microwave microscope using a rectangular wave-guide probe with different resonant modes of cavity", APMC, 2011. 

  4. J. D. Chisum, M. Ramirez-Velez, and Z. Popovic, "Planar circuit for non-contact near-field microwave probing", Proceedings of the 39th European Microwave Conference, pp. 802-805, 2009. 

  5. Michael Golosovsky, A. Galkin, and Dan Davidov, "High-spatial resolution resistivity mapping of large-area YBCO films by a near-field millimeter-wave microscope", IEEE Trans. MTT, vol. 44, no. 7, pp. 1390-1392, Jul. 1996. 

  6. J. E. Park, J. Yeo, J. W. Ko, and Y. K. Cho, "Resonant transmission of an electrically small aperture with ridge", J. of Electromagnetic Waves and Appl., vol. 23, pp. 1981-1990, Nov. 2009. 

  7. 고지환, 조영기, 여준호, 이종익, "리지가 장하된 소형 원형 개구의 공진 투과에 관한 연구", 한국전자파학회논문지, 22(6), pp. 654-660, 2011년 6월. 

  8. 고지환, 조영기, "H-형태 소형 개구를 가진 직사각형 도파관 탐침의 공진투과", 한국전자파학회논문지, 24(12), pp. 1198-1204, 2013년 12월. 

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