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NTIS 바로가기한국가스학회지 = Journal of the Korean institute of gas, v.19 no.2, 2015년, pp.45 - 53
In order to improve the performance of the visual inspection process, in addition to existing automatic visual inspection machine and human inspectors have developed a new process configuration using a Naive Bayes classifier. By applying the classifier, defect leakage and human inspector's work amou...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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나이브 베이즈 분류기를 외관검사공정에 추가하여 어떤 효과를 얻을 수 있을 것이라 기대하는가? | 나이브 베이즈 분류기는 확률적 분류기의 일종으로서 데이터베이스에 누적되어 있는 인간검사원의 과거의 양불 판정 경험을 외관검사공정에서 활용할 수 있도록 해준다. 그 결과로 전체 불량의 유출 및 인간검사원의 작업량 감소라는 목적을 동시에 만족 시킬 수 있을 것으로 기대한다. | |
전자부품의 외관불량은 왜 문제인가? | 반도체, 평판디스플레이, 태양전지 등 최첨단 전자부품 생산 공정의 최종 단계에서는 생산된 제품의 표면에 존재하는 오염, 변색, 상처, 이물 등 소위 외관불량(visual defects)을 검출하는 것이 반드시 필요하다. 외관불량은 전자부품의 전기적인 특성에 영향을 미칠 뿐만 아니라 패키징 공정과 같은 다른 전자부품과의 결합 과정에서 신뢰성의 문제를 발생시킬 수 있다. | |
자동외관검사장비 사용의 문제점은? | 그런데 자동외관검사장비를 사용함에 있어, 검사 기준이 되는 인간의 시각 관찰 및 인지적 판단을 하드웨어 및 소프트웨어적으로 동일하게 구현할 수가 없기 때문에 불가피하게 불량의 유출이라는 문제가 발생하게 된다. 즉 양품으로 분류를 했지만 실제로는 불량인 경우가 발생하는 것이다. |
K. W. Ko, Y. J. Lee, B.-W. Choi and J.-H. Kim," Development of Automatic Visual Inspection for the Defect of Compact Camera Module," ICCAS2005, 2414-2417, (2005)
Zhang, Harry., "The Optimality of Naive Bayes," FLAIRS2004 conference
Russell, S., Norvig, P., Artificial Intelligence: A Modern Approach, 2nd ed., Prentice Hall. (2003)
Stehman, Stephen V., "Selecting and interpreting measures of thematic classification accuracy", Remote Sensing of Environment, 62(1), 77-89, (1997)
David M. Eagleman, "Visual illusion and neurobiology", Nature, 2, 920-926. (2001)
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