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차세대 Ge/III-V 반도체 소자 연구 원문보기

電子工學會誌 = The journal of Korea Institute of Electronics Engineers, v.42 no.7 = no.374, 2015년, pp.60 - 66  

오정우 (연세대학교 글로벌융합공학부)

초록이 없습니다.

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문제 정의

  • 지금까지 Si CMOS의 대체 기술로 보고되고 있는 Ge,III-V CMOS에 관해 도입배경 및 핵심기술에 관해 살펴보았다. 이론적으로 우수한 물리적 특성에도 불구하고 실질적으로 사용될 수 있을지에 관해서는 아직 의견이 다양 하다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
반도체 산업에서 스케일링의 역할은 무엇이었나? 지난 수십년간 Si 기반의 논리 및 메모리 반도체는 CMOS 기술로 구현 되고 있는데, 기술의 발전은 스케일링 이란 방법으로 지속적으로 유지 되고 있다. 스케일링은 정해진 반도체 기판 면적에 더 많은 소자를 집적하여 CMOS 회로의 성능을 높이는 것으로, 논리 및 메모리 반도체 기술을 지속적으로 발전시킬 수 있는 원동력이었다. <그림 1>은 세계적 반도체 제조회사인 Intel사의 창시자중에 한명인 Moore가 예측한 반도체 집적도를 보여 주는 것으로, 2년 마다 소자의 집적도는 2배씩 증가한다는 예측이 지금껏 꽤 정확히 지켜지고 있다.
III-V 반도체를 구성하는 물질에는 무엇이 있는가? III-V 반도체라 함은 주기율표의 3족과 5족의 원소가 합하여 화합물반도체를 이루는 형태이다. 따라서 <표 1>에서 보면 GaAs, InAs, InP, InSb가 이에 해당하며 Ge 반도체는 Si과 같이 4족에 위치한 것으로 단원자반도체 물질이다. Ge/III-V 반도체는 Si 대비 전하의 이동도 (mobility)가 우수 하다.
Ge/III-V 반도체 소자 제작에 요구되는 사항은 무엇인가? Ge/III-V 반도체 소자는 기존의 CMOS 공정과의 호환성을 전제로 하며, 고품위 헤테로에피탁시, 고유전물질, 저저항 전극 등의 핵심 기술을 필요로 한다.
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참고문헌 (10)

  1. B. Duriez et al., IEDM Tech. Dig., p. 522, 2013. 

  2. J. Mitard et al., VLSI Symp. Tech. Dig., p. 138, 2014. 

  3. M. Radosavljevic et al., IEDM Tech. Dig., p. 765, 2011. 

  4. D. H. Kim et al., IEDM Tech. Dig., pp. 761, .2012. 

  5. Kelin Kuhn, Peering into Moore's Crystal Ball: Transistor Scaling beyond the 15nm node, International symposium on advanced gate stack technology, 2010 

  6. Jungwoo Oh, CMOS-compatible III-V/Ge Channels for High-Performance and Low-Power, Semicon Japan 2011 

  7. M. L. Lee, E. A. Fitzgerald, M. T. Bulsara, M. T. Currie, and A. Lochtefeld, Strained Si, SiGe, and Ge channels for highmobility metal-oxide-semiconductor field-effect transistors J. Appl. Phys. 97, 011101 (2005) 

  8. Silvia Fama, Lorenzo Colace, Gianlorenzo Masini, Gaetano Assanto and Hsin-Chiao Luan, High performance germanium-on-silicon detectors for optical communications, Appl. Phys. Lett. 81, 586 (2002) 

  9. Hsin-Chiao Luan, Desmond R. Lim, Kevin K. Lee, Kevin M. Chen, Jessica G. Sandland, Kazumi Wada and Lionel C. Kimerling, High-quality Ge epilayers on Si with low threadingdislocation densities, Appl. Phys. Lett. 75, 2909 (1999) 

  10. J. Bai, J.-S. Park, Z. Cheng, M. Curtin, B. Adekore, M. Carroll, A. Lochtefeld and M. Dudley, Study of the defect elimination mechanisms in aspect ratio trapping Ge growth, Appl. Phys. Lett. 90, 101902 (2007) 

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