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차량용 SoC의 신뢰성 향상을 위한 CAN 통신 기반의 고장진단 플랫폼 설계
Design of Defect Diagnosis Platform based on CAN Network for Reliability Improvement of Vehicle SoC 원문보기

Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers = 전자공학회논문지, v.52 no.10, 2015년, pp.47 - 55  

황도연 (한양대학교 컴퓨터공학과) ,  김두영 (한양대학교 컴퓨터공학과) ,  박성주 (한양대학교 컴퓨터공학과)

초록
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전자 산업의 발달과 함께 많은 전자 제어 장치가 차량 내부에 탑재됨에 따라 차량의 기능을 검증하는 것은 더더욱 어려워지고 있다. 차량의 기능 오작동은 인명손실의 우려가 있기 때문에 차량에 있어서 신뢰성은 무엇보다 중요하게 고려되어야 한다. 본 논문에서는 차량의 신뢰성 향상을 위한 CAN 통신 기반의 고장 진단 플랫폼을 제안한다. 양산 이후에도 독립적인 테스트 경로를 통한 구조적 테스트를 실시함으로써 차량의 신뢰성은 크게 증가할 것이다. 또한, 별도의 테스트 핀이 필요하지 않기 때문에 테스트 비용을 절감할 수 있다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

To verify the function of vehicle is becoming more and more difficult because many electronic control units have been embedded in vehicle with development of electronics industry. The reliability of vehicle should be considered above all important because malfunction of vehicle can cause damage of h...

주제어

#CAN Network   #Test Access Mechanism   #Structural Test   #Test of Vehicular SoC  

AI 본문요약
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* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 본 논문에서는 독립적인 테스트 경로를 통한 구조적 테스트를 이용하여 차량의 기능 오작동을 효과적으로 예방할 수 있는 구조를 제안하였다. 제시한 구조를 이용하면 차량의 기능동작에 아무런 영향을 미치지 않고 자유로운 테스트 수행이 가능하다.
  • 본 논문에서는 차량 통신 중 가장 보편적으로 사용되는 CAN(Controller Area Network) 통신을 이용하여 양산 이후에도 실시간으로 자가진단 테스트가 가능한 구조를 제안한다. 독립적인 테스트 경로를 통한 구조적 테스트를 실시함으로써 정상 기능동작에 영향을 미치지 않고 테스트를 수행할 수 있으며, 이를 통해 차량의 지속적인 신뢰성을 기대할 수 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
CAN 통신은 무엇인가? CAN 통신은 1985년 차량 내부 전자장치 간에 통신을 위해 BOSCH사가 개발한 차량용 통신으로, 1993년에 ISO에서 국제 표준 규격(ISO11898)으로 제정되었다.[4∼5]
MBIST(Memory Built-In-Self-Test) 기법의 특징은 무엇인가? 현재내장 메모리를 테스트하기 위해 가장 많이 사용되는 방법은 MBIST(Memory Built-In-Self-Test) 기법이다.[12] MBIST 기법은 test vector generator와 result checker가 로직으로 내장되어 있어서 외부의 동작 없이 각 모듈 별로 자체적인 테스트가 수행되므로 전체 시스템의 테스트 복잡도가 크게 줄어든다. 또한, 고가의 외부 테스트 장비를 사용하지 않고도 빠른 시간에 테스트를 수행할 수 있다는 장점을 가진다.
비동기식 시리얼 통신 방식을 이용하는 CAN통신의 특징은 무엇인가? 비동기식 시리얼 통신 방식을 이용하는 CAN은differential 통신을 하기 때문에 전기적인 노이즈에 매우 강하며, 오류 제한(Error Confinement)과 오류 탐색(Error Detection) 기능을 이용하여 메시지 송수신 시에 발생하는 오류를 최소화하기 때문에 높은 신뢰성을 가지고 있다. 주소가 아닌 메시지의 내용에 따라ID(Identifier, 식별자)를 부여하는 내용기반 주소 지정방식(content-based addressing)의 프로토콜로써 ID 자체에 메시지의 내용과 우선순위가 포함된다.
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참고문헌 (14)

  1. Y. Yellambalase, Minsu Choi, "Automatic Node Discovery in CAN (Controller Area Network) Controllers using Reserved Identifier Bits", IEEE proc. of Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC), May 2007. 

  2. Jin-Hee Cho, Yangjae Jung, Seohyun Jeon, Tae-Man Han, Hyeon Soo Kim, "An Implementation of automotive development methodology Based on ISO 26262", KSAE Annual Conference and Exhibition, Nov 2010. 

  3. Seo-Hyun. Jeon, Jin-Hee. Cho, Yangjae. Jung, Sachoun. Park and Tae-Man Han, "Automotive Hardware Development According to ISO 26262", IEEE International Conference on Advanced Communication Technology (ICACT), pp. 588-598, Feb 2011. 

  4. S. Jankovic, D. Kleut, I. Blagojevic, V. Petrovic, "Controller area network based monitoring of vehicle's mechatronics system", IEEE 9th International Symposium on Intelligent Systems and Informatics (SISY), pp. 269-274, Sept 2011. 

  5. T. R. Jena, A. K. Swain, K. Mahapatra, "A novel bit stuffing technique for Controller Area Network (CAN) protocol", IEEE International Conference on Advances in Energy Conversion Technologies (ICAECT), pp. 113-117, Jan 2014. 

  6. BOSCH, CAN Specification 2.0, 1991. 

  7. Hanxing Chen, Jun Tian, "Research on the Controller Area Network", IEEE International Conference on Networking and Digital Society (ICNDS), vol. 2, pp. 251-254, May 2009. 

  8. Namsub Kim, Wonkyung Cho, "Design and Verification of a CAN Protocol Controller for VLSI Implementation", The Institute of Electronics Engineers of Korea - Semiconductor and Devices, 43(2), pp. 96-104, Feb 2006. 

  9. Li Ran, Wu Junfeng, Wang Haiying, Li Gechen, "Design method of CAN BUS network communication structure for electric vehicle", IEEE International Forum on Strategic Technology (IFOST), pp. 326-329, Oct 2010. 

  10. J. Rearick, B. Eklow, K. Posse, Al. Crouch, "IJTAG (internal JTAG): a step toward a DFT standard", IEEE proc. of International Test Conference (ITC), Nov 2005. 

  11. Laung Terng Wang, Cheng Wen Wu, Xiaoqing Wen, "VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES DESIGN FOR TESTABILITY", MorganKaufmann, pp. 55-69, 2006. 

  12. Qiao Liyan, Bai Shi, Zhao Xin, Wang Ge, "Design of generic embedded memory built in self test circuit", IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments (ICEMI), pp. 244-247, Aug 2009. 

  13. Tae-Hyung Kim Su-Mun Yun, Sung-Ju Park, "Modified March Algorithm Considering NPSFs", The Institute of Electronics Engineers of Korea - Semiconductor and Devices, 37(4), pp. 71-79, Apr 2000. 

  14. Laung Terng Wang, Cheng Wen Wu, Xiaoqing Wen, "VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES DESIGN FOR TESTABILITY", MorganKaufmann, pp. 567-579, 2006. 

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