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Alignment Marker 고속 인식 및 위치 보정 방법
A Fast Way for Alignment Marker Detection and Position Calibration 원문보기

정보처리학회논문지. KIPS transactions on software and data engineering. 소프트웨어 및 데이터 공학, v.5 no.1, 2016년, pp.35 - 42  

문창배 (금오공과대학교 ICT-CRC) ,  김현수 (디투이모션(주)) ,  김현용 (금오공과대학교 전자공학과) ,  이동원 ((주)한화 구미사업장) ,  김태훈 ((주)노바소프트) ,  정해 (금오공과대학교 전자공학부) ,  김병만 (금오공과대학교 컴퓨터소프트웨어공학과)

초록
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얼라인(Align) 보정은 제품 생산 전/후 빈번하게 사용되는 머신비전 기술 중 하나이다. 본 논문에서는 생산품에 각인된 마커(Marker) 또는 생산품에 존재하는 유니크한 패턴을 이용하여 생산품의 각도와 위치를 고속으로 판별하고 보정하는 방법을 제안하였다. 본 논문에서 사용한 방법은 템플릿매칭(Template Matching)의 속도를 개선한 적분 히스토그램(Integral Histogram)의 변형을 이용하여 후보들을 추출하고, 클러스터링을 적용하여 후보들을 축소하는 방법을 적용 후 마커의 각도와 위치를 판별하는 방법을 제안하였다. 실험결과, 클러스터링을 적용하기 전 보다 클러스터링을 적용 후 약 5s 719ms 개선된 것을 알 수 있었고, 각도 판별에서도 우수한 성능을 보임을 확인할 수 있었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The core of the machine vision that is frequently used at the pre/post-production stages is a marker alignment technology. In this paper, a method to detect the angle and position of a product at high speed by use of a unique pattern present in the marker stamped on the product, and calibrate them i...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 생산품에 각인된 마커, 생산품의 유일한 패턴 그리고 반복된 패턴을 인식하여 생산품의 얼라인을 보정하는 방법을 제안하였다. 본 제안방법에서는 프로젝션 히스토그램을 적용한 적분히스토그램 방법과 클러스터링 기법을 사용하여 표준 패턴의 각도와 위치를 판별하였다.
  • 하지만 광학현미경 카메라를 장착한 FPGA를 제작할 경우 고 비용이 발생할 수 있고, 이의 문제점을 해결하기 위한 방법은 검증된 알고리즘을 사용하는 것이다. 이러한 맥락으로 본 논문에서는 광학현미경 카메라를 장착한 FPGA를 제작하기 이전 본 논문에서 제안한 방법을 검증하기 위한 목적으로 PC에서 제안한 방법의 성능을 검증하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
얼라인(Align)을 보정하는 기술이란 무엇인가? 그 첫 번째가 생산 공정에서 사용하는 생산품의 위치를 보정하는 기술이고, 두 번째가 생산품의 불량을 판별 기술[1]이다. 두 기술의 공통 핵심기술은 얼라인(Align)을 보정하는 기술이라 할 수 있고, 이 기술은 생산품에 각인된 마크를 이용하거나 생산품에 존재하는 유니크한 패턴을 이용하여 생산품의 각도와 위치를 파악하고, 파악한 각도와 위치를 보정할 수 있도록 하드웨어에 메시지를 전송하는 기술이다. 하지만 생산품의 경우 공정 사정에 따라 반복된 패턴을 사용하는 경우도 발생할 수 있다.
얼라인 기술에서 중요한 요인은 무엇인가? 얼라인 기술에서 중요한 요인은 정확도 및 처리속도라 할수 있다. 정확도의 경우 입력된 생산품의 정확한 각도와 위치를 판별하는 것이고, 처리속도의 경우 정확한 각도와 위치를 판별하는데 소요되는 시간이다.
머신비전 기술을 제품생산 전/후를 기준으로 분류한 두 가지는 무엇인가? 머신비전 기술은 제품생산 전/후를 기준으로 두 가지 기술로 분류할 수 있다. 그 첫 번째가 생산 공정에서 사용하는 생산품의 위치를 보정하는 기술이고, 두 번째가 생산품의 불량을 판별 기술[1]이다. 두 기술의 공통 핵심기술은 얼라인(Align)을 보정하는 기술이라 할 수 있고, 이 기술은 생산품에 각인된 마크를 이용하거나 생산품에 존재하는 유니크한 패턴을 이용하여 생산품의 각도와 위치를 파악하고, 파악한 각도와 위치를 보정할 수 있도록 하드웨어에 메시지를 전송하는 기술이다.
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참고문헌 (7)

  1. C. B. Moon, Y. H. Ahn, H.-Y. Lee,B. M. Kim, and D.-W. Oh, "Implementation of Automatic Detection System for CCFL's Defects based on Combined Lighting," Journal of the Korea Society Industrial Information System, Vol.15, No.2, June, 2010. 

  2. S. Huwer, Heinrich Niemann, "2D-Object Tracking Based on Projection-Histograms," London, UK, 1998. Springer-Verlag. 

  3. R. Brunelli, "Template Matching Techniques in Computer Vision: Theory and Practice," Wiley, ISBN 978-0-470-51706-2, 2009 

  4. F. Porikli, "Integral Histogram: A Fast Way to Extract Histograms in Cartesian Spaces," Proc. of Int'l Conf. on CVPR, pp.829-836, 2005. 

  5. S. J. Kwon, C. Park, and S. M. Lee, "Kinematics and control of a visual alignment system for flat panel displays," Journal of Institute of Control, Robotics and Systems, Vol.14, No.4, Apr., pp.369-375, 2008. 

  6. C. S. Park and S. J. Kwon, "An efficient vision algorithm for fast and fine mask-panel alignment," Proc. of 2006 SICEICASE International Joint Conference (SICE-ICCAS 2006), pp.1461-1465, Oct., 2006. 

  7. Richard O. Duda et al., "Pattern Classification," Wiley- Interscience, pp.561-563, 2001. 

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