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Czochralski법으로 성장된 RE : YAG(RE = Nd3+, Er3+) 단결정의 결함분석
Defects analysis of RE : YAG (RE = Nd3+, Er3+) single crystal synthesized by Czochralski method 원문보기

한국결정성장학회지 = Journal of the Korean crystal growth and crystal technology, v.26 no.1, 2016년, pp.1 - 7  

박청호 (경상대학교 나노신소재융합공학과) ,  주영준 (경상대학교 나노신소재융합공학과) ,  김혜영 (경상대학교 세라믹공학과) ,  심장보 (한국화학연구원 박막재료 연구센터) ,  김철진 (경상대학교 그린에너지융합연구소)

초록
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RE : YAG 단결정은 레이저 발진 소재로 다양한 성장 변수를 제어하면서 Czochralski법으로 성장된다. 성장과정 동안 고액계면의 온도구배 및 회전속도에 의해 발생하는 결함들은 결정의 광학적 특성 저하로 작용하기 때문에 결함 분석을 통한 결정 품질의 향상을 필요로 한다. 격자결함 밀도 분석(EPD)을 통하여 성장된 RE : YAG 단결정의 표면 결함 존재를 확인하였고, 이를 통해 투과전자현미경(TEM) 분석영역을 선택하였다. 선택한 영역의 시편은 트라이포드 연마 방법으로 제작하였고, 200 kV 투과전자현미경과 300 kV 전계 방사형 투과전자현미경(FE-TEM)을 사용하여 buckling, rod shaped, 내부응력에 의한 bend contours, 편석 등의 결함들을 관찰하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

RE : YAG ($RE=Nd^{3+}$, $Er^{3+}$) single crystals are laser diodes and generally grown by Czochralski method with controlling the various growth parameter. Since the defects occurred by temperature gradient or the rotation speed of solid-liquid growth interface act as the decl...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 연구에서는 성장된 RE : YAG 단결정의 결함 분석 영역을 선택하기 위해 표면의 전위 밀도를 관찰 할 수 있는 격자 결함 밀도분석(EPD)을 하였다. 격자 결함 밀도 분석은 화학적 부식을 통하여 단결정 내에 존재하는 결함을 표면에 나타나게 만드는 방법으로, 단결정의 결함 분포를 확인할 수 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
결정의 미세구조 관찰에 원자단위의 분해능을 이용하는 장비는? 원자단위의 분해능을 가지고 결정의 미세구조 관찰을 수행할 수 있는 가장 대표적인 장비로는 투과전자현미경 (Transmission Electron Microscopy; TEM)이 있다. RE : YAG 단결정은 길이 및 직경이 수 cm로부터 수십 cm로 성장된 정도가 각각 다르고 관찰영역이 광범위하기 때문에 결정 내 존재하는 결함을 관찰하기 위해서는 가능한 한 넓은 면적의 시편 제작이 중요하다.
RE : YAG 레이저는 어떤 결정을 기반으로 하는가? 고체 레이저의 예로는 희토류 원소가 도핑된 YAG 단결정을 기반으로 하는 slab, rod, disk 형태의 RE : YAG 레이저가 있다. 순수한 YAG 단결정은 레이저를 발진시키는 기능이 전혀 없으므로 희토류 이온 등이 도펀트 (dopants)로 첨가되어야만 레이저의 발진이 가능하다.
딤플링/이온밀링에 의한 투과전자현미경 시편 제작의 단점은? 이 방법은 시편의 중앙부분을 선택적 연마를 한 후 이온밀링을 하여 전자가 투과 할 수 있도록 시편을 얇게 만드는 방법이다. 이 방법에 의해 제작된 시편의 관찰영역은 수 µm2의 좁은 영역이기 때문에 광범위한 관찰영역을 필요로 하는 RE : YAG 단결정의 결함 등을 관찰하는 것에 어려움이 있다.
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참고문헌 (12)

  1. L. Allen and D. ter Haar, "Essentials of Lasers" (Pergamon Press, New York, 1969) 129. 

  2. H.T. Kim, "Effect of temperature gradient on the defects of Nd : YAG single crystal grown by Czochralski method", J. Kor. Ceram. Soc. 34 (1997) 1015. 

  3. Jasbinder Sanghera, "Ceramic laser materials", Materials 5 (2012) 258. 

  4. U. Aschauer, "Atomistic modeling study of surface segregation in Nd : YAG", J. Am. Ceram. Soc. 89 (2006) 3812. 

  5. Revital Feldman, "Thermo-chemical strengthening of Nd : YAG laser rods", SPIE Vol. 6190 619019-1 (2006) 

  6. Yang Peizhi, "The growth defects in Czochralski-grown Yb : YAG crystal", J. Crystal Growth 218 (2000) 87. 

  7. J. Basterfield, "An X-ray diffraction topographic study of single crystals of melt-grown yttrium aluminium garnet", J. Mater. Sci. 3 (1968) 33 

  8. David B. Williams and C. Barry Carter, "Transmission Electron Microscopy", 2nd ed., part. 3 (Springer, US, 2009) p. 415, 449. 

  9. J.B. Shim, "Core region and optical properties of $Er^{3+}$ doped $Y_3A_{l5}O_{12}$ single crystals", J. Korean Cryst. Growth Cryst. Technol. 25 (2015) 111. 

  10. Eunchong Kanchanavaleerat, "Crystal growth of high doped Nd : YAG", Opt. Mater. 26 (2004) 337. 

  11. D.E. Eakins, "A study of fracture and defects in single crystal YAG", J. Crystal Growth 267 (2004) 502. 

  12. D.E. Eakins, "Electron microscopy of compound oxide laser materials", SPIE Vol. 4970 (2003). 

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