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[국내논문] 마이크로솔더링을 이용한 정전류다이오드 회로 자외선 LED 광원모듈 제작
Fabrication Of Ultraviolet LED Light Source Module Of Current Limiting Diode Circuit By Using Flip Chip Micro Soldering 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.29 no.4, 2016년, pp.237 - 240  

박종민 (선문대학교 전자공학과) ,  유순재 (선문대학교 전자공학과) ,  카완 안일 (선문대학교 전자공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The improvement of irradiation intensity and irradiation uniformity is essential for large area and high power UVA light source application. In this study, large number of chips bonded by micro soldering technique were driven by low current, and current limiting diodes were configured to supply cons...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 개발에서는 이러한 문제를 해결하기 위한 방법으로 다수의 칩을 배치하여 저 전류에서 구동하는 광원 모듈을 제안한다. 플립칩을 이용하여 다수의 직병렬회로를 구성하고, 정전류다이오드 (CLD)를 이용하여 다수의 직렬 스트링에 정전류를 안정적으로 공급하도록 한다 [1].
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
UVA (자외선 A) 영역 LED (light emitting diode) 광원은 어디에서 사용되는가? UVA (자외선 A) 영역 LED (light emitting diode) 광원은 실링, 몰딩, 접합, 건조, 코팅, 검사 등의 공정 및 산업 생산, 특히 각종 디스플레이 기기 생산 공정 에 비 발열, 원격 공정, 정밀조사 특성으로의 이용에 대한 관심이 증가되고 있다. 그러나 광 출력 (조사밀 도) 고출력화 및 조사밀도의 균일성 특성의 문제로 대면적 고출력 특성 기기 응용에는 많은 특성의 개선이 요구되고 있다.
SAC Solder Paste의 장점은? 495 kgf의 세기를 가지는 것으로 평가되었다 [4]. 따라서 비용에 비하여 접착 강도는 열등하다는 점을 알 수 있으며, SAC Solder Paste는 사용이 편리하고 또 용이하다는 이점이 있으며, 접착강도 또한 Ag Paste의 2.7배로 매 우 우수함을 알 수 있다 [6].
UVA (자외선 A) 영역 LED (light emitting diode) 광원의 문제점은? UVA (자외선 A) 영역 LED (light emitting diode) 광원은 실링, 몰딩, 접합, 건조, 코팅, 검사 등의 공정 및 산업 생산, 특히 각종 디스플레이 기기 생산 공정 에 비 발열, 원격 공정, 정밀조사 특성으로의 이용에 대한 관심이 증가되고 있다. 그러나 광 출력 (조사밀 도) 고출력화 및 조사밀도의 균일성 특성의 문제로 대면적 고출력 특성 기기 응용에는 많은 특성의 개선이 요구되고 있다. 특히 고출력 특성을 얻기 위해서는 에너 지효율을 향상시키거나 열 방출 문제를 개선해야 한다.
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참고문헌 (6)

  1. H. J. Park, S. J. Yu, J. M. Park, and Y. J. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 26, 488 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2013.26.6.488] 

  2. S. J. Yu, D. H. Kim, Y. S. Choi, and H. T. Kim, Journal of Information Display, 10, 49 (2009). 

  3. N. Yamada, Applied Physics, 68, 139 (1999). 

  4. H. H. Kim, S. H. Choi, S. H. Shin, Y. K. Lee, S. M. Choi, and S. Yi, Microelectronics Reliability, 48, 445 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2007.08.009] 

  5. H. J. Park, S. J. Yu, K. Anil, Y. G. Yi, J. H. Kim. and T. S. Han, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 25, 723 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2012.25.9.723] 

  6. J. L. Aw, S. C. Chong, D. I. Cereno, K. H. Teo, V. S. Rao, Electronics Packaging Technology Conference IEEE, 15, 219 (2013). 

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