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XRD의 결정구조로 살펴본 GZO 박막의 온도의존성
Temperature Dependence of Bonding Structure of GZO Thin Film Analyzed by X-ray Diffractometer 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.15 no.1, 2016년, pp.52 - 55  

오데레사 (청주대학교 반도체공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

GZO film was prepared on p-type Si wafer and then annealed at various temperatures in an air conditions to research the bonding structures in accordance with the annealing processes. GZO film annealed in an atmosphere showed the various bonding structure depending on annealing temperatures and oxyge...

주제어

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문제 정의

  • 본 연구는 GZO 박막의 결정구조변화에 따른 특성을 관찰하기 위해서 열처리 조건과 열처리온도에 변화를 주어서 결합구조가 다양하게 변화하도록 GZO 박막을 증착하고 열처리를 하였다. 34.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
산화물 반도체체의 장점은? 하지만 실리콘 반도체는 소형화하는데 한계가 있고, 투명하지 않으며, 특히 유연성을 가질 수 없다. 따라서 작고 소형화가 가능하며, 유연하면서도 투명할 수 있는 산화물반도체에 대한 관심이 높아지고 있다. ZnO 기반의 산화물반도체의 시작은 ITO 투명전극에서 시작 되었다.
ZnO의 장점은? ZnO 기반의 산화물반도체의 시작은 ITO 투명전극에서 시작 되었다. 비싸고 희토류에 속하는ITO 투명전극을 대신할 수 있으면서 동시에 무독성, 내식성, 내방사성, 내열성, 압전성등 우수한 기계적인 특성을 갖는 ZnO는 액정디스플레이, 플라즈마 디스플레이와 같은 유기 발광 소자 및 태양광, 자외선 발광소자의 투명전극 등으로 개발되고 있다.[1-5] ZnO는 3-5족 화합물 반도체로 육방정계 우르자이트(hexagonal wruzite)의 결정구조를 가지며, 상온에서 3.
실리콘 반도체의 한계점은? 실리콘 반도체에 의한 기술은 눈부실 만한 산업의 성장과 인간의 생화패턴을 바꾸는 신세계를 열어주었고, 그 끝은 영원할 것처럼 무궁무궁하게 여겨져왔다. 하지만 실리콘 반도체는 소형화하는데 한계가 있고, 투명하지 않으며, 특히 유연성을 가질 수 없다. 따라서 작고 소형화가 가능하며, 유연하면서도 투명할 수 있는 산화물반도체에 대한 관심이 높아지고 있다.
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참고문헌 (12)

  1. Teresa Oh, "Electrical Characteristics of Thin Film Transistor According to the Schottky Contacts," Korean Journal of Materials Research, Vol.24, pp.135-139, 2014. 

  2. Tun, C. J., Sheu, J. K., Pong, B. J., Lee, M.L., Hsieh, C. K., Hu, C. C., Chi, G. C. "Enhanced Light Output of GaN-ased Power LEDs With Transparent AlDoped AZO Current Spreading Layer", IEEE Photon. Technol. Lett, Vol. 18, pp.274-276, 2006 

  3. Yoo Duk-yean, Kim Hyoung-ju, Kim Jun-yeong, Jo Jung-yol, "Current Variation in ZnO Thin-Film Transistor under Different Annealing Conditions," Journal of the Semiconductor & Display Technology Vol .13, pp.63-66, No.1, 2014. 

  4. Teresa Oh, "Ohmic Contact Effect and Electrical Characteristics of ITO Thin Film Depending on SiOC Insulator" Korean J. Mater. Res. Vol. 25, No. 7 1149- 1154 (2015) 

  5. Kenji Nomura, Toshio Kamiya, and Hideo Hosono, "Highly stable amorphous In-Ga-Zn-O thin-film transistors produced by eliminating deep subgap defects", Appl. Vol. 99, pp. 053505, 2011. 

  6. Hosono, H., "Ionic amorphous oxide semiconductors: Material design, carrier transport, and device application.", J. Non-Cryst. Solids, Vol. 352, pp. 851-858, 2006. 

  7. Janotti and C. Van de Walle, "New insights into the role of native point defects in ZnO", J. Cryst. Growth, Vol. 287, pp. 58-65, 2006. 

  8. Jang-Yeon Kwon, Do-Joong Lee and Ki-Bum Kim, Transparent amorphous oxide semiconductor thin film transistor, Electronic Mate. Lett. Vol. 7/1, pp. 1-11, 2011. 

  9. Meng Yu, Jungyol Jo,"Sputtering Growth of ZnO Thin-Film Transistor Using Zn Target," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 13, pp.35-38 No. 3, 2014. 

  10. T. Oh and C. K. Choi, Comparison between SiOC Thin Films Fabricated by Using Plasma Enhance Chemical Vapor Deposition and $SiO_2$ Thin Films by Using Fourier Transform Infrared Spectroscopy. Journal of the Korean Phys. Soc. 56, 1150-1155, (2010). 

  11. Kim Dong-Sun, "Characterization and deposition of ZnO thin films by Reactive Magnetron Sputtering using Inductively-Coupled Plasma (ICP)," Journal of the Semiconductor & Display Technology ,Vol.10, pp.83-89, No.2, 2011. 

  12. Hong Woo Lee, Bong Seob Yang, Seungha Oh, Yoon Jang Kim, Hyeong Joon Kim, "The Properties of RF Sputtered Zinc Tin Oxide Thin Film Transistors at Different Sputtering Pressure," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 13, pp. 44-48, 2014. 

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