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NTIS 바로가기전력전자학회 논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Power Electronics, v.21 no.4, 2016년, pp.328 - 334
김찬기 (KEPRI) , 최순호 (KEPRI) , 강지원 (KEPRI) , 윤용범 (KEPRI)
This paper examines the reliability of a VSC-HVDC valve based on a modular multilevel converter (MMC) HVDC system. The main objective of this paper is to determine the redundancy of the MMC valve. Several prediction methods are introduced, but the binomial failure method is selected to be used. To d...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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신뢰도란 무엇인가? | 신뢰도는 시스템의 구성요소가 정해진 기간 동안 주어진 운전환경에서 처음 설계된 기능을 안정적으로 수행하는 확률로 정의된다. “신뢰도 함수 R(t)는 시스템이 간격시간 [0,t]동안 고장없이 작동할 확률”이다. | |
시스템의 사용주기는 어떻게 나뉠 수 있는가? | 시스템 구성요소의 고장률은 “시간이 경과된 이후 고장율”을 말하는 것으로 그림 1은 시간의 함수에 대한 일반적인 고장률에 대한 곡선을 보여준다. 시스템의 사용주기는 크게 3가지 영역으로 나뉠 수 있는데, 번-인 기간(Burn in Period), 유효수명기간(Useful Life Period), 웨어-아웃 기간(Wear Out Period)으로 구성된다. 시스템이 소자들이 다양한 시험을 통과하였고, 사용 전에 충분히 테스트를 통과하였음에도 불구하고 설계나 생산 과정에서 발견하지 못한 시스템 결함은 번-인 기간에서높은 고장률로 나타나고 있으며, 시스템이 안정화(유효 수명기간)가 되면 고장율은 급격히 감소하게 된다. |
High Voltage Direct Current Handbook, EPRI, 1994
Y. Zang, X. Wang, B. Xu, and J. Liu, "Control method for cascaded H-bridge multilevel inverter failures," in Proc. Cong. Int. Control Autom., Vol. 2, pp. 8462-8466, 2006.
J. Jones and J. Hayes, "Estimation of system reliability using a "nonconstant failure rate" model," IEEE Trans. Rel., Vol. 50, No. 3, pp. 286-288, Sep. 2001.
A. Hoyland and M. Rausand, System Reliability Theory. NewYork: Wiley, 1994.
P. Wikstrom, L. A. Terens, and H. Kobi, "Reliability, availability, and maintainability of high-power variable-speed drive systems," IEEE Trans. Ind. Appl., Vol. 36, No. 1, pp. 231-241, Jan./Feb. 2000.
E. Strangas, S. Aviyente, J. Neely, and S. Zaidi, "Improving the reliability of electrical drives through failure prognosis," in Proc. IEEE Int. Symp. Diagn. Electron. Mach., Power Electron. Drives, pp. 172-178, Sep. 2011.
"Reliability prediction of electronic equipment," Department of Defense, Washington DC, Tech. Rep. MIL-HDBK-217F, Dec. 1991.
H. D. Lambilly and H. O. Keser, "Failure analysis of power modules: a look at the packaging and reliability of large IGBTs," IEEE Trans. Compon., Hybrids Manuf. Technol., Vol. 16, No. 4, pp. 412-417, Jun. 1993.
M. Ciappa, F. Carbognani, and W. Fichtner, "Lifetime prediction and design of reliability tests for high-power devices in automotive applications," IEEE Trans. Dev. Mater. Rel., Vol. 3, No. 4, pp. 191-196, Dec. 2003.
C. Bailey, T. Tilford, and H. Lu, "Reliability analysis for power electronics modules," in Proc. 30th Int. Spr. Sem. Electron. Techn., pp. 12-17, May 2007.
C. K. Kim, etc, "Valve redundancy determination of VSC HVDC based on MMC," Electronics, 2015.
Goduk-Dangjin HVDC Design Report, KEPCO, 2016
M. J. Cushing, D. E. Mortin, T. J. Stadterman, and A. Malhotra, "Comparison of electronics-reliability assessment approaches," IEEE Trans. Rel., Vol. 42, No. 4, pp. 542-546, Dec. 1993.
S. S. Smater and A. D. Dominguez-Garcia, "A unified framework for reliability assessment of wind energy conversion systems," in Proc. Power Energy Soc. Gen. Meet., pp. 1-4, 2010.
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오픈액세스 학술지에 출판된 논문
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