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NTIS 바로가기한국정보통신학회논문지 = Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering, v.21 no.12, 2017년, pp.2285 - 2290
김호중 (Department of Computer Engineering, KOREATECH) , 조태훈 (School of Computer Science and Engineering, KOREATECH)
Automation systems are evolving in many areas of industry in recent years. At the same time, the necessity of the height inspection of the object by the 3D measurement is gradually increasing. Among the various 3D measurement methods, this paper discusses phase measuring profilometry(PMP). The PMP i...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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위상차란 무엇인가? | 위상차란 기준면의 위상값과 측정할 위상값의 차이를 의미한다. 이런 위상차는 2 주기로 반복되는 성질이 있다. | |
위상 측정법이 가지고 있는 문제점은 무엇인가? | 위상 측정법은 PCB 부품의 불량을 찾는 곳에 많이 사용되고 있는 매우 효과적인 방법이지만 많은 연산량에 의해 속도 측면에서 느리다는 문제점을 가지고 있다. 본 논문에서는 이를 해결하기 위한 연구를 진행하였다. | |
위상 측정법의 장점에는 무엇이 있는가? | 위상 측정법이란 Phase Measuring Profilometry(PMP)로써 특정한 수식에 의해 만들어진 프린지 패턴(Fringe pattern)을 물체에 투영하여 얻은 위상 정보를 통해 높이를 측정하는 방법이다. 이 방법은 빠른 처리 속도, 높은 정확성, 손쉬운 시스템 구성, 여러 물체가 섞여 있어도 한 번에 측정이 가능한 점 등의 이점이 있어 실제로 3D 측정에 많이 쓰이고 있는 방법이다[7]. 그림 1은 위상 측정법의 광학적 기하도를 나타낸다. |
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P. Zhou, X. Liu, Y. He and T. Zhu, "Phase error analysis and compensation considering ambient light for phase measuring profilometry." Optics and Lasers in Engineering, vol. 55, pp. 99-104, April 2014.
B. Wang, Y. Liang, and H. Deng, "Dual-frequency grating method based research on phase measurement profilometry (PMP) technology." in Proceedings of the SPIE 9298, pp. 929808, Nov. 2014.
X. Xu, Y. Cao, Y. Wang, C. Chen, G. Fu and S. Sun, "A fast pixel matching method based on phase feature extraction in online phase-measuring profilometry." Journal of Modern Optics, vol. 64, pp. 1-8, May 2017.
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오픈액세스 학술지에 출판된 논문
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