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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.30 no.3, 2017년, pp.192 - 197
김용준 (성균관대학교 정보통신대학) , 김선보 (성균관대학교 에너지과학과) , 김영국 (성균관대학교 정보통신대학) , 조영현 (성균관대학교 정보통신대학) , 박창균 (주성엔지니어링 Solar R&D Division) , 이준신 (성균관대학교 정보통신대학)
Hydrogenated Amorphous Silicon (a-Si:H) is used as an emitter layer in HIT (heterojunction with Intrinsic Thin layer) solar cells. Its low band gap and low optical properties (low transmittance and high absorption) cause parasitic absorption on the front side of a solar cell that significantly reduc...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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HSC에 적합한 물질은 어떤 것이 있는가? | 위의 수식에서 알 수 있는 것처럼, 높은 일함수를 갖는 물질을 사용할 경우, 비정질 실리콘과의 접합에서 발생되는 band-offset을 낮추게 되며 이를 이종접합 태양전지에 적용할 경우 전류밀도 및 개방전압에 있어서 상승효과가 나타나게 된다. 다양한 기관 및 연구그룹들이 보고하고 있는 HSC에 적합한 물질로는 V2O5 [2], CrO3, MoO3 [3-8], WO3 [9] 등이 제안되고 있는데, 이중 V2O5, WO3, MoO3가 상대적으로 일함수가 높기 때문에 band- offset의 감소에 의한 특성 향상에 있어서 이점을 가지며, 앞으로도 선택적 전하 접합을 위한 TMO 물질로 상용화 가능성이 예상된다. | |
MoOx을 SHJ 구조에 적용할 때 annealing 온도는 어떤 영향을 미치는가? | SHJ (silicon-heterojunction) 구조에 일반적으로 P-emitter 층으로 사용되는 a-Si:H 의 경우, annealing 온도를 200℃까지 증가시키면 passivation을 향상시켜소자의 특성이 좋아진다. 반대로 MoOx가 적용된 SHJ 소자의 경우 130℃ 이상의 온도에서 J-V curve 에 S-shape이 나타나기 시작하여 충진율의 급격한 loss로 인하여 소자 특성이 저하된다. 또, annealing 온도는 MoOx 층과 TCO (transparent conductive oxide) 층 사이에 intermixing 층을 성장시켜 Hole의 원활한 수집을 막는 역할을 한다 [4]. 즉, MoOx을 SHJ 구조에 적용할 시 annealing 온도의 최적화는 필수 요소이다. | |
band-offset이 전하의 선택적 수집을 결정짓는 중요한 인자인 이유는? | P-type으로 동작 가능한 TMO 물질과 실리콘 사이의 접합 시 발생되는 band-offset은 전하의 선택적 수집을 결정짓는 가장 중요한 인자인데, 이는 ФTMO-χa-Sior Si 간의 에너지 차이에 의해 발생되는 band-offset이 정공(hole)의 barrier를 결정하기 때문이다. 이를 개선하기 위해서는 TMO의 일함수(ФTMO)는 상대적으로 높아야 하며, 접합물질의 이온화 에너지는 상대적으로 낮아야 한다. |
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오픈액세스 학술지에 출판된 논문
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