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안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법
Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules

정보과학회논문지 = Journal of KIISE, v.44 no.2, 2017년, pp.171 - 178  

김윤호 (KAIST 전산학부) ,  김문주 (KAIST 전산학부)

초록
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본 논문에서는 안드로이드 커널 모듈의 취약점을 탐지하기 위한 자동 유닛 테스트 생성 기법을 제안한다. 안드로이드 커널 모듈의 각 함수를 대상으로 테스트 드라이버/스텁 함수를 자동 생성하고 동적 기호 실행 기법을 사용하여 테스트 입력 값을 자동으로 생성한다. 또한 안드로이드 커널 모듈의 함수 포인터와 함수 선행 조건을 고려하지 않은 테스트 생성으로 인한 거짓 경보를 줄이기 위해 정적 분석을 통한 함수 포인터 매칭 기법과 def-use 분석을 사용한 함수 선행 조건 생성 기법을 개발하였다. 자동 유닛 테스트 생성 기법을 안드로이드 커널 3.4 버전의 세 모듈에 적용한 결과 기존에 존재하던 취약점을 모두 탐지할 수 있었으며 제안한 거짓 경보 감소 기법으로 평균 44.9%의 거짓 경보를 제거할 수 있었다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, we propose an automated unit test generation technique for detecting vulnerabilities of Android kernel modules. The technique automatically generates unit test drivers/stubs and unit test inputs for each function of Android kernel modules by utilizing dynamic symbolic execution. To re...

주제어

#소프트웨어 테스팅   #자동 유닛 테스팅   #동적 기호 실행   #안드로이드 커널 모듈 테스팅  

참고문헌 (21)

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  19. CVE-2013-1059: https://cve.mitre.org/cgi-bin/cvename.cgi?nameCVE-2013-1059 

  20. CVE-2013-1763: https://cve.mitre.org/cgi-bin/cvename.cgi?nameCVE-2013-1763 

  21. CVE-2014-0101: https://cve.mitre.org/cgi-bin/cvename.cgi?nameCVE-2014-0101 

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