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수열합성법으로 성장시킨 ZnO 나노 로드기반 TFT 가스 센서 제조 및 특성평가
Fabrication and Characterization of TFT Gas Sensor with ZnO Nanorods Grown by Hydrothermal Synthesis 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.30 no.4, 2017년, pp.229 - 234  

정준교 (충남대학교 전자전파정보통신공학과) ,  윤호진 (충남대학교 전자전파정보통신공학과) ,  양승동 (충남대학교 전자전파정보통신공학과) ,  박정현 (충남대학교 전자전파정보통신공학과) ,  김효진 (충남대학교 재료공학과) ,  이가원 (충남대학교 전자전파정보통신공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, we fabricated a TFT gas sensor with ZnO nanorods grown by hydrothermal synthesis. The suggested devices were compared with the conventional ZnO film-type TFTs in terms of the gas-response properties and the electrical transfer characteristics. The ZnO seed layer is formed by atomic-la...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 연구에서는 고감도 가스 센서용으로 수열합성법으로 성장시킨 ZnO 나노로드를 채널층으로 사용하는 박막 트랜지스터 구조를 제안하고 제작하였다. 일반적인 나노로드 가스 센서는 나노로드를 형성하고 이를 박리시킨 뒤 그림 1과 같이 포토리쏘그라피 기술을 이용하여 형성된 전극사이에 위치시킴으로써 평면형 트랜지스터 구조로 제작된다 [12-14].
  • 본 연구에서는 고감도 가스센서 적용을 위해 나노로드가 형성된 박막을 채널로 갖는 나노로드 구조의 소자를 제작하였으며 NO 가스에 대한 센싱 특성을 확인 하였다. 트랜지스터 전달 특성 곡선에서는 박막 소자와 비슷한 전기적 특성을 보였으나 게이트 스트레스 인가시 박막 구조에 비해 VTH 변화가 크게 나타났다, 이는 SEM과 XPS 분석을 통해 확인한 바와 같이 나노로드 구조가 박막 구조에 비해 VO 양이 많으면서 부피에 대한 면적이 크기 때문으로 설명할 수 있다.
  • 하지만 나노 로드와 검출 플랫폼에 형성된 전극의 인터커넥션 문제로 수율을 크게 저하시킬 수 있는 안정성과 재현성 측면의 단점을 안고 있는 것이 사실이다. 이에 나노로드가 형성된 ZnO 박막을 채널로 사용하는 소자를 제작하고 센서로의 적용 가능성을 확인함으로써 이러한 문제를 개선시키고자 하였다.

가설 설정

  • 이러한 나노로드 구조체가 1 cm2의 면적에 균일하게 성장되었다고 가정하고, 나노로드의 개수를 계산하면 6×1010cm -2 개가 형성되었다고 볼 수 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
가스 센서의 역할은? 일반적으로 가스 센서는 재료의 화학적, 전기적 및 광학적 특성변화로부터 독성 또는 폭발성 가스를 감지한다. 특히 전기적 저항 변화에 기반을 둔 산화물 반도체 가스 센서는 고감도의 특성을 가지며, 간단한 구조와 공정으로 생산이 가능하다는 장점을 가지고 있다 [1].
나노 구조를 만드는 방법 중 수열합성법의 장점은? 나노 구조를 만드는 방법에는 기상 수송법 (vapor-liquid-solid, VLS) [6], 화학적 기상 증착법 (chemical vapor deposition, CVD) [7], 아크 방전법 (Arc-discharge method) [8], 템플릿을 이용한 증착법 [9], 졸-겔 증착법(Sol-gel deposition) [10], 수열 합성법(hydrothermal synthesis) [11] 등이 있다. 이중 에서 수열합성법은 저온 공정이 가능해 다양한 기판 에서 합성을 할 수 있으며, 대기압에서도 합성이 가능해 경제성이 높고, 대면적 합성, 재현성 및 균일한 성장이 가능하다는 장점을 가지고 있다.
반도체 가스 센서의 장점은? 일반적으로 가스 센서는 재료의 화학적, 전기적 및 광학적 특성변화로부터 독성 또는 폭발성 가스를 감지한다. 특히 전기적 저항 변화에 기반을 둔 산화물 반도체 가스 센서는 고감도의 특성을 가지며, 간단한 구조와 공정으로 생산이 가능하다는 장점을 가지고 있다 [1]. 산화물 반도체 중에서도 ZnO는 화학적 산소 결핍으로 인한 비화학량론적 성질 때문에 n형 반도체 특성을 나타낸다.
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참고문헌 (24)

  1. N. Yamazoe, Sens. Actuators, B: Chem., 108, 2 (2005). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.snb.2004.12.075] 

  2. A. Z. Sadek, S. Choopun, W. Wlodarski, S. J. Ippolito, and K. Kalantar-zadeh, IEEE Sens. J., 7, 919 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1109/JSEN.2007.895963] 

  3. C. Soci, A. Zhang, B. Xiang, S. A. Dayeh, D.P.R. Aplin, J. Park, X. Y. Bao, Y. H. Lo, and D. Wang, Nano Lett., 7, 1003 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1021/nl070111x] 

  4. L. W. Ji, S. M. Peng, Y. K. Su, S. J. Young, C. Z. Wu, and W. B. Cheng, Appl. Phys. Lett., 94, 203106 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3141447] 

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  9. K. T. Kim, M. J. Kim, and S. M. Cho, Mater. Chem. Phys., 96, 278 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys. 2005.07.013] 

  10. Y. J. Tak and K. J. Yong, J. Phys. Chem. B, 109, 19263 (2005). [DOI: https://doi.org/10.1021/jp0538767] 

  11. M. Y. Cho, M. S. Kim, G. S. Kim, H. Y. Choi, S. M. Jeon, K. G. Yim, D. Y. Lee, J. S. Kim, J. S. Kim, J. I. Lee, and J. Y. Leem, J. Korean Vac. Soc., 19, 236 (2010). [DOI: https://doi.org/10.5757/JKVS.2010.19.3.236] 

  12. Q. H. Li, Y. X. Liang, Q. Wan, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett., 85, 6389 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.1840116] 

  13. M. W. Ahn, K. S. Park, J. H. Heo, D. W. Kim, K. J. Choi, and J. G. Park, Sens. Actuators, B: Chem., 138, 168 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.snb.2009.02.008] 

  14. T. J. Hsueh, C. L. Hsu, S. J. Chang, and I. C. Chen, Sens. Actuators, B: Chem., 126, 473 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.snb.2007.03.034] 

  15. J. J. Park, S. H. Lee, and K. J. Yong, Nanotechnology, 23, 385707 (2012). [DOI: https://doi.org/10.1088/0957-4484/23/38/385707] 

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  17. E. B. Lee, Y. W. Park, I. S. Hwang, S. J. Kim, J. G. Cha, H. J. Lee, J. H. Lee, and B. K. Ju, Journal of IKEEE, 13, 37 (2009). 

  18. J. M. Lee, I. T. Cho, J. H. Lee, and H. I. Kwon, Appl. Phys. Lett., 93, 093504 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2977865] 

  19. Y. F. Lu, H. Q. Ni, Z. H. Mai, and Z. M. Ren, J. Appl. Phys., 88, 498 (2000). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.373685] 

  20. S. Y. Sung, J. H. Choi, U. B. Han, K. C. Lee, J. H. Lee, J. J. Kim, W. T. Lim, S. J. Pearton, D. P. Norton, and Y. W. Heo, Appl. Phys. Lett., 96, 102107 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3357431] 

  21. J. K. Jeong, H. W. Yang, J. H. Jeong, Y. G. Mo, and H. D. Kim, Appl. Phys. Lett., 93, 123508 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2990657] 

  22. M. D. McCluskey and S. J. Jokela, J. Appl. Phys., 106, 071101 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3216464] 

  23. J. Yao, N. Xu, S. Deng, J. Chen, J. She, H. P. David Shieh, P. T. Liu, and Y. P. Huang, IEEE Trans. Electron Dev., 58, 1121 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1109/TED.2011.2105879] 

  24. F. T. Liu, S. F. Gao, S. K. Pei, S. C. Tseng, and C.H.J. Liu, J. Taiwan Inst. Chem. Eng., 40, 528 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jtice.2009.03.008] 

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