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제안 방법
- 3~3,000 kHz의 범위에서 정전 용량과 유전손실을 측정하였다. 또한 시료 내부의 열에 의한 분자결합의 상태를 비교하기 위해서 FTIR을, 시료의 가열온도별 분해 현상을 비교하기 위해 주사전자현미경(scanning electron microscope, SEM) 분석을 행하였다.
- 열화상 카메라(Forward looking infrared resolution Co, E-50, USA)를 사용하여 시료에 직접 가해지는 온도를 측정하였다.
- 이 실험에서는 두께 100 ㎛, 인장강도는 종방향(machinedirection)이 26 kgt/mm2, 횡방향(transverse direction)이 23 kgt/mm2이며, 연신율은 종방향이 120%, 횡방향이 150%, 열수축률은 150℃에서 30분간 인가했을 때 종방향이 1.2%, 횡방향이 0.2%, 마찰계수 0.4 dyne/cm인 폴리에틸렌 테레프탈레이트 수지 필름을 이격거리 4 cm에서 전열기(keyang heat gun khg-2000b, Korea)의 온도를 180℃, 200℃, 220℃의 온도로 7.5 m/s로 2시간 동안 조사(irradiation)하였다. 표 1에 가열 조건을 나타내었다.
- 이 연구에서는 0.04 m 떨어진 거리에서 열풍기의 온도 180℃, 200℃, 220℃, 7.5 m/sec의 속도로 120분 동안 가열하여 온도 90~170℃, 주파수 0.3~3,000kHz의 범위에서 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름의 열에 의한 열화 정도를 검토하기 위해 정전 용량과 Tan δ, 열화상 온도, FTIR, SEM을 분석한 결과 다음과 같은 결론을 얻었다.
- 이 연구에서는 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름의 전기열화의 정도를 검토하기 위해 0.04 m 떨어진 거리에서 180℃, 200℃, 220℃의 열풍기 온도로 7.5 m/sec 속도로 120분 동안 가열하여 온도 90~170℃, 주파수 0.3~3,000 kHz의 범위에서 정전 용량과 유전손실을 측정하였다. 또한 시료 내부의 열에 의한 분자결합의 상태를 비교하기 위해서 FTIR을, 시료의 가열온도별 분해 현상을 비교하기 위해 주사전자현미경(scanning electron microscope, SEM) 분석을 행하였다.
대상 데이터
- , Japan)을 내장한 오븐(Jeil Co, Korea)을 사용하였으며, 측정 회로는 그림 1에 나타내었다. 이 실험에서, 정전 용량과 유전정접을 측정하기 위한 전극 규격은 상부전극으로 주 전극 내경 지름 38 mmΦ와 보호전극(내경 40 mmΦ, 외경 54 mmΦ)과 하부전극은 내경 54 mmΦ으로 구성되어 있으며, 시료는 두께가 100 ㎛인 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름 시료에 Al foil 전극을 MIM형으로 부착하였으며 시료와 전극 형상은 그림 2에 나타내었다. 온도 90~170℃, 주파수 0.
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