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NTIS 바로가기반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.17 no.2, 2018년, pp.41 - 46
This paper proposes a new method for the number recognition on dot matrix LED display. The proposed method uses morphological processing that dilates dots of numbers and connects the dots into strokes. The size of numbers is normalized using horizontal projection because the gaps of dots are differe...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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영상 이진화(binarization) 처리는 무엇인가? | 문자인 전경(foreground)과 문자가 아닌 배경의 구분을 명확히 하기 위해 영상을 이진화한다. 영상 이진화(binarization) 처리는 입력 영상의 픽셀 값이 0에서 임계값(threshold value)까지는 출력 영상의 픽셀 값을 0으로, 임계값 이후에서 255까지는 출력 영상의 픽셀 값을 255로 조작하는 간단한 처리이다. 그러나 모든 임의의 입력 영상에 대해 적절한 임계값을 정하는 문제는 쉽지 않은 문제이다[1]. | |
원형 정합(template matching) 방법을 이용하는 이유는 무엇인가? | 앞에서 이진 팽창을 하고 연결 성분 분석을 하여 추출된 문자를 비전 시스템에서 인식하고 결과를 실험하기 위해서 본 논문에서는 원형 정합(template matching) 방법을 사용하였다. 원형 정합은 해밍 거리(Hamming Distance)[5]를 이용해 원형과 미지의 입력 영상 사이의 거리를 측정하는 것이다. | |
영상 형태학적 처리인 이진 팽창 처리를 적용했을 때 어떤 결과를 얻을 수 있는가? | 또한 제안한 방법의 효과를 실험하기 위해 원형정합 방법을 사용 하였다. 실험 결과는 이진 팽창 처리된 LED 도트 매트릭스 숫자를 성공적으로 잘 인식하는 것을 보였다. 그러나LED 도트 매트릭스 숫자 ‘0’이 입력되는 경우에는 숫자 ‘8’과 특징이 유사하여 인식 시스템에서 두 숫자를 혼동하여 인식하였다. 오류 인식할 때는 1순위 숫자와 2순위 숫자의 해밍 거리가 다른 순위에 비해 큰 차이가 없다. 따라서 후처리(post processing)에서 숫자 모양의 대칭성을 이용하여 오류를 복구할 수 있다. |
Minchul Jung, "Traffic Signal Detection and Recognition in an RGB Color Space," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 10, No. 3, pp. 53-59, (2011).
N. Otsu, "A Threshold Selection Method from Gray Level Histograms," IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics, Vol. SMC-9, No. 1, pp. 62-66, (1979).
H. Samet and M. Tamminen, "Efficient component labeling of images of arbitrary dimension represented by linear bintrees," IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol. 10, Is. 4, pp. 579-586, (1988).
M. Dillencourt, H. Samet and M. Tamminen, "A general approach to connected-component labeling for arbitrary image representations," Journal of the Association for Computing Machinery, Vol. 39, Is. 2, pp. 253-280, (1992).
M. Nadler and E. Smith, "Pattern Recognition Engineering," John Wiley & Sons Inc., pp. 155-159, 291-294, (1993).
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