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피드백 전계효과 트랜지스터에 대한 리뷰: 동작 메커니즘과 적용 분야
A review of feedback field-effect transistors: operation mechanism and their applications 원문보기

전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.22 no.2, 2018년, pp.499 - 505  

김민석 (Dept. of Electrical Engineering, Korea University) ,  이경수 (Dept. of Electrical Engineering, Korea University) ,  김상식 (Dept. of Electrical Engineering, Korea University)

초록
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피드백 전계효과 트랜지스터는 채널 내부의 전자와 정공의 의해 발생하는 피드백 현상으로 이상적인 스위칭 특성을 갖기 때문에 최근 세계적으로 많은 연구가 진행되고 있다. 이 새로운 동작원리를 가지는 소자는 초저전력 스위칭 전자소자로 동작이 가능할 뿐만 아니라 채널 내부에 축적된 전자와 정공에 의한 히스테리시스 특성으로 메모리 소자로도 동작 가능하여 그 활용 범위가 넓다. 본 논문에서는 지금까지 제안된 다양한 구조의 피드백 전계효과 트랜지스터와 그 동작 메커니즘에 관해 확인하고 적용 가능 분야에 대해서 살펴본다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Since feedback field-effect transistors (FBFETs) have ideal switching characteristics resulting from feedback phenomenon caused by electrons and holes in the channel region, the researches about FBFET devices have been proposed and demonstrated worldwide recently. The device operated with novel prin...

주제어

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문제 정의

  • 본 논문에서는 다양한 구조의 피드백 전계효과 트랜지스터를 확인하고 그 동작 원리인 피드백 동작 메커니즘에 관하여 살펴보았다. 피드백 전계효과 트랜지스터는 채널내부에 피드백 현상을 유도하여 급격한 스위칭 특성을 가질 뿐만 아니라 채널에 존재하는 전자와 정공에 의한 히스테리시스 특성으로 휘발성 메모리, 비휘발성 메모리 등에 적용 가능하기 때문에 그 활용가치가 매우 높다.
  • 본 논문에서는 피드백 전계효과 트랜지스터의 지금까지 제안된 다양한 구조의 피드백 전계효과 트랜지스터와 그 동작원리에 관해 자세히 확인하고 그 적용 분야에 대해 알아보고자 한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
p-i-n 다이오드의 동작원리는? 피드백 전계효과 트랜지스터는 기본적으로 순방향 전압이 인가된 p-i-n 다이오드에서 동작한다. p-i-n 다이오드의 채널영역 내부에 전자와 정공의 유입을 제한하는 전위 장벽 (potential barrier)을형성하고 이 장벽을 조절함으로써 소자를 동작시키게 되는데 이 전위 장벽 (potential barrier)을형성시키는 방법에 따라 다양한 구조가 제안될 수 있고 각 구조에 따라 장단점이 존재한다. 처음으로 피드백 전계효과 트랜지스터의 특성을 확인한 구조는 그림 1(a)에서 볼 수 있는 게이트 전극 양 옆에 gate-sidewall charge spacer가 존재하는 구조이다 [9].
집적도 및 성능향상에 따라 나타나는 문제점은? 1960년대에 금속-산화막-반도체 전계효과 트랜지스터 (MOSFET)가 발명된 이래로 MOSFET 소자는 집적도 및 성능향상 그리고 공정비용 감소 등을 위해 반세기동안 꾸준히 회로선폭이감소 되어왔다[1]-[3]. 하지만 많은 장점에도 불구하고 소자의 크기가 줄어듦에 따라 누설전류(leakage current)가 크게 증가하게 되고 이로 인해 급격하게 증가한 누설전력 (leakage power)이동적전력 (dynamic power) 소모를 넘어서게 되면서 갈수록 문제점을 심화시키고 있는 상황이다[1]-[3]. MOSFET 소자는 열적 주입 (thermal injection)을 활용하는 동작원리 때문에 60 mV/dec 이하의 문턱전압이하 기울기 (subthreshold swing)를 갖는 것이 이론적으로 불가능하다고 알려져 있다 [2].
새로운 동작원리를 가지는 소자에는 어떤 것들이 있는가? 이 이론적 한계는 기존의 소자로는 누설전력을 줄이기가 어렵다는 것을 의미하고 결국 새로운 동작원리를 가지는 소자의 필요성이 대두되게 된다. 지금까지 터널링 효과를 활용한 터널링 전계효과 트랜지스터 (TFET) [5]-[7], 전자 사태항복을 활용한 충돌 이온화 금속-산화막-반도체 전계효과 트랜지스터 (IMOS) [4],[8], 채널 내의 전자와 정공의 피드백 효과를 활용한 피드백 전계효과 트랜지스터 (FBFET) [9]-[13] 등과 같은 다양한 소자들이 제안되어 왔는데 이중에서도 피드백 전계효과 트랜지스터는 0 mV/dec에 가까운 이상적인 스위칭 특성과 함께 전하 축적에 의한 히스테리시스 특성에 의해 다양한 전자소자로 활용이 가능하기 때문에 최근 활발히 연구되고 있다.
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참고문헌 (18)

  1. Thompson, Scott E., and Srivatsan Parthasarathy. "Moore's law: the future of Si microelectronics," Materials today, vol. 9, no. 6 pp. 20-25, 2006. DOI:10.1016/S1369-7021(06)71539-5 

  2. Sakurai Takayasu, "Perspectives of Low-Power VLSI," IEICE Transactions on Electronics, vol. E87-C, no. 4, pp. 429-436, 2004. 

  3. Jaesung Jo, Changhwan Shin. "Study of Temperature Effects on Negative Capacitance Field-Effect Transistor." IEEK (2014): 70-72. 

  4. Jae Hyun Park, et al. "Effect of Random Dopant Fluctuation Depending on the Ion Implantation for the Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor," j.inst.Korean.electr.electron.eng, vol,21.no.1, (2017). DOI: 10.7471/ikeee.2017.21.1.96 

  5. Ionescu, Adrian M., and Heike Riel. "Tunnel field-effect transistors as energy-efficient electronic switches," nature, vol. 479, no. 7373, pp. 329-337, 2011. DOI:10.1038/nature10679 

  6. Choi, Woo Young, et al. "Tunneling field-effect transistors (TFETs) with subthreshold swing (SS) less than 60 mV/dec," IEEE Electron Device Letters vol. 28, no. 8, pp. 743-745, 2007. DOI:10.1109/LED.2007.901273 

  7. Kim, Minsuk, et al. "Subthreshold swing characteristics of nanowire tunneling FETs with variation in gate coverage and channel diameter," Current Applied Physics vol. 15, no.7, pp.780-783, 2015. DOI:10.1016/j.cap.2015.04.024 

  8. Gopalakrishnan, Kailash, Peter B. Griffin, and James D. Plummer. "Impact ionization MOS (I-MOS)-Part I: device and circuit simulations," IEEE Transactions on electron devices, vol. 52, no. 1, pp. 69-76, 2005. DOI:10.1109/TED.2004.841344 

  9. Padilla, Alvaro, et al. "Feedback FET: A novel transistor exhibiting steep switching behavior at low bias voltages," Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. IEEE, 2008. DOI:10.1109/IEDM.2008.4796643 

  10. Wan, Jing, et al. "A systematic study of the sharp-switching Z 2-FET device: from mechanism to modeling and compact memory applications," Solid-State Electronics, vol. 90, pp. 2-11, 2013. DOI:10.1016/j.sse.2013.02.060 

  11. Kim, Minsuk, et al. "Steep switching characteristics of single-gated feedback field-effect transistors," Nanotechnology, vol. 28, no. 5, pp. 055205-1-055205-8, 2017. DOI: 10.1088/1361-6528/28/5/055205 

  12. Jeon, Youngin, et al. "Switching characteristics of nanowire feedback field-effect transistors with nanocrystal charge spacers on plastic substrates," ACS nano, vol. 8, no. 4, pp. 3781-3787, 2014. DOI:10.1021/nn500494a 

  13. Jeon, Youngin, et al. "Steep subthreshold swing n-and p-channel operation of bendable feedback field-effect transistors with p+-i-n+ nanowires by dual-top-gate voltage modulation," Nano letters, vol. 15, no. 8, pp. 4905-4913, 2015. DOI:10.1021/acs.nanolett.5b00606 

  14. Chen, Wei-Chen , and Lue, Hang-Ting. "A novel supersteep subthreshold slope dual-channel FET utilizing a gate-controlled thyristor mode-induced positive feedback current," IEEE Transactions on electron devices vol. 64, no. 3, pp. 1336-1342, 2017. DOI:10.1109/TED.2017.2656903 

  15. Cristoloveanu, Sorin et al. "A review of the Z2-FET 1T-DRAM memory: Operation mechanisms and key parameters," Solid-State Electronics, in press, 2017. DOI:10.1016/j.sse.2017.11.012 

  16. El Dirani, H., et al. "Competitive 1T-DRAM in 28 nm FDSOI technology for low-power embedded memory," SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2016 IEEE. IEEE, 2016. DOI:10.1109/S3S.2016.7804402 

  17. Choi, Nag yong et al. "Design consideration of diode-type NAND flash memory cell string having super-steep switching slope," IEEE Journal of the electron devices society vol. 4, no. 5, pp. 328-334, 2016. DOI:10.1109/JEDS.2016.2593792 

  18. Joe, Sung-Min et al. "Diode-type NAND flash memory cell string having super-steep switching slope based on positive feedback," IEEE Transactions on electron devices vol. 63, no. 4, pp. 1533-1538, 2016. DOI:10.1109/TED.2016.2533019 

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