$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

고정렬 Pt 라인 및 크로스-바 미세패턴의 구조적 안정성 연구
Structural Stability for Pt Line and Cross-Bar Sub-Micron Patterns 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.31 no.7, 2018년, pp.510 - 514  

박태완 (한국세라믹기술원 전자융합소재본부) ,  박운익 (한국세라믹기술원 전자융합소재본부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This study discusses and demonstrates the structural stability of highly ordered Pt patterns formed on a transparent and flexible substrate through the process of nanotransfer printing (nTP). Bending tests comprising approximately 1,000 cycles were conducted for observing Pt line patterns with a wid...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 그림 3(a)는 x축 방향으로 형성된 라인 패턴을 같은 방향 (x축)으로 벤딩 평가하는 사진 이미지이다. 라인 패턴 중, 같은 라인을 양 끝에서 밀고 당겨 줌으로써 패턴이 갈라지거나 끊어지는 현상이 발생하는지 알아보고자 하였고, 그림 3(b)는 y축 방향으로 형성된 라인 패턴을 수직 (x축) 방향으로 벤딩 평가를 진행하여 기판 위 형성된 라인 패턴의 이탈 및 밀림 현상 등으로 선폭, 선 간격이 변화되는지 관찰하는 데에 목적을 두었다. 그림 3(c)는 PET 기판 위 적층된 크로스-바 패턴을 초음파 처리하는 사진 이미지이다.
  • 본 연구에서는, n-TP를 통하여, 투명하고 유연한 기판 위에 1μm 선폭을 갖는, 고정렬성의 Pt 라인 패턴과 Pt 크로스-바 패턴을 성공적으로 형성하였고, 두 패턴에 대한 구조적 안정성 평가를 진행하여 플렉시블웨어러블 전자소자로의 응용 가능성을 살펴보았다.
  • 본 연구에서는, 투명하고 유연한 PET 기판 위 n-TP 공정으로 형성된 Pt 패턴에 물리적인 외력을 가하여 관찰되는 구조적 변화를 통해 내구성을 확인하고자 하였다. 우선, n-TP 공정을 통해 유연기판 위 고도로 정렬된 1μm 선폭을 갖는 Pt 라인 패턴과 적층된 형태의 크로스-바 패턴을 얻었다.
  • 본 연구에서는, 패턴전사 프린팅 기술을 이용하여 투명하고 유연한 기판 위 형성된 1μm 선폭을 갖는 Pt 패턴의 구조적인 안정성을 살펴보았다.
  • 라인 패턴을 각각 x축,y축을 바라보게 하여 x축 방향으로 1,000회 벤딩 평가를 하였고, 적층된 크로스-바 패턴에 10분 동안 초음파 처리를 실시하였다. 이를 통해, 같은 라인 상에서 밀고 당김을 반복하여 패턴의 갈라짐, 끊어짐 현상이 발생하는지 알아보고, 그와 수직(패턴의 형성 방향과 반대) 방향으로 벤딩 평가를 실시하여 패턴의 밀림 또는 선폭 및 선 간격의 변화가 있는지 알아보고자 하였다. SEM 분석을 통해 패턴의 구조를 분석해 본 결과, 패턴의 정렬성, 손상 등의 변화가 발견되지 않았으며, 기판과의 접착성 역시 우수함을 확인할 수 있었다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
플렉시블 전자기기가 오랫동안 반복적으로 사용되면서 가지는 문제점은 무엇인가? 그러나 이러한 플렉시블 전자기기는 오랫동안 반복적으로 사용하면 소자에 물리적인 힘과 응력이 가해지면서 기판의 피로에 따른 소자 내 나노 물질의 파괴 등으로 이어질 수 있고 결국 성능이 저하되는 문제가 있다. 즉, 소자의 내구성 및 지속성에 있어서 여전히 해결해야 할 문제가 남아 있다.
유연하고 투명한 기판 위 금속 패턴을 형성하기 위하여 어떤 공정을 이용하였는가? 본 연구에서는 유연하고 투명한 기판 위 금속 패턴을 형성하기 위하여 나노 패턴전사 프린팅 (n-TP) 공정을 이용하였다. 먼저, 포토리소그래피 공정으로 제작된 Si 마스터 패턴 위 poly (methyl methacrylate) (PMMA) 5wt% 용액을 4,500rpm의 회전 속도로 30초 동안 스핀코팅 하였다.
n-TP를 통하여, 투명하고 유연한 기판 위에 1μm 선폭을 갖는, 고정렬성의 Pt 라인 패턴과 Pt 크로스-바 패턴의 구조적 안정성 평가는 어떠한 방법으로 진행하였는가? 본 연구에서는, n-TP를 통하여, 투명하고 유연한 기판 위에 1μm 선폭을 갖는, 고정렬성의 Pt 라인 패턴과 Pt 크로스-바 패턴을 성공적으로 형성하였고, 두 패턴에 대한 구조적 안정성 평가를 진행하여 플렉시블웨어러블 전자소자로의 응용 가능성을 살펴보았다. 구체적으로는, 패턴전사를 통해 형성된 Pt 라인 구조물에 대하여 1,000회 이상 벤딩 평가를 실시하였고, 4회의 n-TP 공정을 통하여 형성된 Pt 크로스-바 적층 패턴에 대하여, 10분 이상 초음파 처리를 진행하여 패턴이 구조적으로 안정한 지에 대한 평가 및 분석을 진행하였다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (15)

  1. K. H. Kim, S. K. Hong, N. S. Jang, S. H. Ha, H. W. Lee, and J. M. Kim, ACS Appl. Mater. Interfaces, 9, 17499 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.7b06119] 

  2. W. Seung, M. K. Gupta, K. Y. Lee, K. S. Shin, J. H. Lee, T. Y. Kim, S. Kim, J. Lin, J. H. Kim, and S. W. Kim, ACS Nano, 9, 3501 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1021/nn507221f] 

  3. J. Jang, H. G. Im, J. Jin, J. Lee, J. Y. Lee, and B. S. Bae, ACS Appl. Mater. Interfaces, 8, 27035 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.6b07140] 

  4. S. Kim, H. J. Kwom, S. Lee, H. Shim, Y. Chun, W. Choi, J. Kwack, D. Han, M. Song, S. Kim, S. Mohammadi, I. S. Kee, and S. Y. Lee, Adv. Mater., 23, 3511 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201101066] 

  5. X. Chen, B. Liu, C. Zhong, Z. Liu, J. Liu, L. Ma, Y. Deng, X. Han, T. Wu, W. Hu, and J. Lu, Adv. Energy Mater., 7, 1700799 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1002/aenm.201700779] 

  6. C. Yan, W. Kang, J. Wang, M. Cui, X. Wang, C. Y. Foo, K. J. Chee, and P. S. Lee, ACS Nano, 8, 316 (2014). [DOI: https://doi.org/10.1021/nn404061g] 

  7. K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1038/nature03090] 

  8. K. Takei, W. Honda, S. Harada, T. Arie, and S. Akita, Adv. Healthcare Mater., 4, 487 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1002/adhm.201400546] 

  9. S. Choi, H. Lee, R. Ghaffari, T. Hyeon, and D. H. Kim, Adv. Mater., 28, 4203 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201504150] 

  10. J. Jin, D. Lee, H. G. Im, Y. C. Han, E. G. Jeong, M. Rolandi, K. C. Choi, and B. S. Bae, Adv. Mater., 28, 5169 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201600336] 

  11. M. K. Choi, J. Yang, T. Hyeon, and D. H. Kim, npj Flexible Electron., 2, 10 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1038/s41528-018-0023-3] 

  12. L. Huang, D. Santiago, P. Loyselle, and L. Dai, Small (2018) e. 1800879. [DOI: https://doi.org/10.1002/smll.201800879] 

  13. J. H. Jun, H. Song, C. Kim, I. S. Choi, Y. Jeong, and J. H. Lee, Small (2018) e. 1702145. [DOI: https://doi.org/10.1002/smll.201702145] 

  14. J. W. Jeong, S. R. Yang, Y. H. Hur, S. W. Kim, K. M. Baek, S. Yim, H. I. Jang, J. H. Park, S. Y. Lee, C. O. Park, and Y. S. Jung, Nat. Commun., 5, 5387 (2014). [DOI: https://doi.org/10.1038/ncomms6387] 

  15. J. W. Jeong, W. I. Park, L. M. Do, J. H. Park, T. H. Kim, G. Chae, and Y. S. Jung, Adv. Mater., 24, 3526 (2012). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201200356] 

저자의 다른 논문 :

LOADING...

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GOLD

오픈액세스 학술지에 출판된 논문

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로