![Fig. 11. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, i <sub>T</sub> , and i<sub>B</sub> of experimental waveforms with positive current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], i<sub>L</sub>, i<sub>T</sub>, i<sub>B</sub> : 20](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kipe/JRJJC3/2019/v24n6/JRJJC3_2019_v24n6_452_f0011.png "Fig. 11. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, i <sub>T</sub> , and i<sub>B</sub> of experimental waveforms with positive current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], i<sub>L</sub>, i<sub>T</sub>, i<sub>B</sub> : 20")
![Fig. 12. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, v<sub>sm,o</sub>, and v<sub>o</sub> of experimental waveforms with positive current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], v<sub>sm,o</sub> : 100 [V/div], v<sub>o</sub> : 200 [V/div], i<sub>L</sub> : 20 [A/div]).](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kipe/JRJJC3/2019/v24n6/JRJJC3_2019_v24n6_452_f0012.png "Fig. 12. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, v<sub>sm,o</sub>, and v<sub>o</sub> of experimental waveforms with positive current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], v<sub>sm,o</sub> : 100 [V/div], v<sub>o</sub> : 200 [V/div], i<sub>L</sub> : 20 [A/div]).")
![Fig. 13. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, i <sub>T</sub> , and i<sub>B</sub> of experimental waveforms with negative current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], i<sub>L</sub>, i<sub>T</sub>, i<sub>B</sub> : 20 [A/div]).](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kipe/JRJJC3/2019/v24n6/JRJJC3_2019_v24n6_452_f0013.png "Fig. 13. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, i <sub>T</sub> , and i<sub>B</sub> of experimental waveforms with negative current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], i<sub>L</sub>, i<sub>T</sub>, i<sub>B</sub> : 20 [A/div]).")
![Fig. 14. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, v<sub>sm,o</sub>, and v<sub>o</sub> of experimental waveforms with negative current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], v<sub>sm,o</sub> : 100 [V/div], v<sub>o</sub> : 200 [V/div], i<sub>L</sub> : 20 [A/div]).](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kipe/JRJJC3/2019/v24n6/JRJJC3_2019_v24n6_452_f0014.png "Fig. 14. v<sub>sm</sub>, i<sub>L</sub>, v<sub>sm,o</sub>, and v<sub>o</sub> of experimental waveforms with negative current offset (v<sub>sm</sub> : 50 [V/div], v<sub>sm,o</sub> : 100 [V/div], v<sub>o</sub> : 200 [V/div], i<sub>L</sub> : 20 [A/div]).")
선택한 단어 수는 입니다.
최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
선택한 단어 수는 30입니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
연합인증
연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.
이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.
연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.
한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.
다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)
연합인증 절차는 다음과 같습니다.
최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용
그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용
연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.
이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.
연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.
한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.
다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)
연합인증 절차는 다음과 같습니다.
최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용
그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용
연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기
MMC-HVDC 시스템용 서브모듈 성능시험회로와 제어기법
Performance Test Circuit and Control Method for Submodule of MMC-HVDC System
원문보기
전력전자학회 논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Power Electronics, v.24 no.6, 2019년, pp.452 - 458
조광래 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University) , 서병준 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University) , 박권식 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University) , 김학수 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University) , 허진용 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University) , 노의철 (Dept. of Electrical Eng., Pukyong National University)
Abstract
AI-Helper
This study proposes a new test circuit and control method for the submodules of modular multilevel converter (MMC)-based HVDC systems. The test current of conventional submodule test circuits cannot provide the DC offset components or may have some distortion in the linearized current with the DC of...
주제어
표/그림 (17)
표/그림 (17)
AI 본문요약
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
문제 정의
- 본 논문에서는 MMC-HVDC의 서브모듈 성능시험을 위한 새로운 시험회로와 이를 위한 제어기법을 제안하였다. 제안하는 시험회로와 제어기법은 기존의 서브모듈 시험회로에서 발생하는 전류 왜곡 현상 없이 DC 오프셋과 2고조파 성분을 포함하는 MMC-HVDC 시스템의 암 전류를 선형적으로 모사하였으며 이를 시뮬레이션과 실험을 통해 검증하였다.
- 본 논문에서는 기존에 제안된 시험 회로[12]의 단점을 보완하여 DC 오프셋 성분과 2고조파 성분을 포함하는 암 전류를 선형적으로 모사한 시험전류를 만들어 서브 모듈 성능시험을 할 수 있는 새로운 시험회로와 제어 기법을 제안한다.
- 따라서 iL이 상승하는 구간에서 ST가 온 되는 시간이 길어질수록 iL의 왜곡이 심해진다. 본 논문에서는 이러한 문제를 해결하기 위한 새로운 시험 회로를 제안하고자 한다.
질의응답
| 핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
|---|---|---|
| IEC 62501는 무엇인가요? | IEC 62501(International standard for VSC valves for HVDC power Transmission – electrical testing)에서는 밸브의 성능시험을 위한 시험조항들을 제시하고 있다. 이들 중, “Maximum continuous operating duty test”는 밸브의 스위칭 능력 검증을 시험하기 위한 것인데 이를 위해서는 2고조파와 DC 오프셋 성분을 포함하는 암 전류를 제공해야한다. | |
| 본 논문에서 제시한 MMC-HVDC 서브모듈 성능 시험을 위한 새로운 시험회로와 이를 위한 제어기법의 특장점은 무엇인가요? | 본 논문에서는 MMC-HVDC의 서브모듈 성능시험을 위한 새로운 시험회로와 이를 위한 제어기법을 제안하였다. 제안하는 시험회로와 제어기법은 기존의 서브모듈 시험회로에서 발생하는 전류 왜곡 현상 없이 DC 오프셋과 2고조파 성분을 포함하는 MMC-HVDC 시스템의 암 전류를 선형적으로 모사하였으며 이를 시뮬레이션과 실험을 통해 검증하였다. 또한 암 전류를 선형적으로 모사하기 때문에 컨버터가 낮은 스위칭 주파수를 가지고 있어 스위칭 손실이 적다. 제안하는 서브모듈 시험회로와 제어기법은 MMC-HVDC 시스템의 서브모듈 성능시험에 유용하게 사용될 것으로 기대된다. | |
| Maximum continuous operating duty test를 위해 제공해야할 정보가 무엇인가요? | IEC 62501(International standard for VSC valves for HVDC power Transmission – electrical testing)에서는 밸브의 성능시험을 위한 시험조항들을 제시하고 있다. 이들 중, “Maximum continuous operating duty test”는 밸브의 스위칭 능력 검증을 시험하기 위한 것인데 이를 위해서는 2고조파와 DC 오프셋 성분을 포함하는 암 전류를 제공해야한다. [6]-[8]의 시험회로들은 암 전류를 모사할 때 MMC-HVDC 시스템의 암 전류에 포함되는 DC 오프셋 성분과 2 고조파 성분을 모사하지 못하거나 스위칭 주파수가 높아서 스위칭 손실이 크다는 문제가 있다. |
참고문헌 (12)
-
H. Alyami and Y. Mohamed, "Review and development of MMC employed in VSC-HVDC systems," in IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), pp. 1-6, Jun. 2017.
-
Y. Wang, T. Chen, F. Liu, W. Jiang, Y. Hou, W. Li, and H. Fang, "A control strategy of the isolated power supply system based on VSC-HVDC," in 2018 2nd IEEE Conference on Energy internet and Energy System Integration (E12), pp. 1-6, Oct. 2018.
-
H. Alyami and Y. Mohamed, "A coordinated frequency regulation strategy for VSC-HVDC integrated offshore wind farms," in 2017 IEEE 30th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), pp. 1-5, Jun. 2017.
-
N. Flourentzou, V. G. Agelidis, and G. D. Demtriades, "VSC-based HVDC power transmission systems: An overview," IEEE Transactions on Power Electron, Vol. 24, No. 3, pp. 592-602, Mar. 2009.
-
M. Singh, M. A. Ansari, P. Tripathi, and A. Wadhwani, "VSC-HVDC transmission system and its dynamic stability analysis," in 2018 International Conference on Computational and Characterization Techniques in Engineering & Sciences (CCTES), pp. 177-182, Sep. 2018.
-
T. Xu and C.C. Davidson, "Operational tests for the MMC-based VSC valves," in PCIM Europe 2014, pp. 485-492, May. 2014.
-
T. Modeer, S. Norrga, and H. P. Nee, "Resonant test circuit for high-power cascaded converter submodules," in 15th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), pp. 1-5, Sep. 2013.
-
T. Xu, P. S. Jones, and C. C. Davidson, "Electrical type tests for the voltage sourced converter valves based on modular multi-level converter," in 2015 17th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'15 ECCE-Europe), Sep. 2015.
-
J. Tang, Y. Dong, H. Yang, W. Li, J. Ma, G. Chen, Y. Tian, and E. Yang, "An equivalent power test scheme for modular multilevel converters (MMCs)," in 2017 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), pp. 1837-1842, Mar. 2017.
-
T. Modeer, S. Norrga, and H. P. Nee, "Resonant test circuit for high-power cascaded converter submodules," in 2013 15th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), pp. 1-5, Oct. 2013.
-
Y. Xuan and X. Yang, "A novel circuit topology for the VSC-HVDC submodules testing," in 2017 IEEE 3rd International Future Energy Electronics Conference and ECCE Asia (IFEEC 2017-ECCE Asia), pp. 1435-1439, Jun. 2017.
-
K. S. Park, B. J. Seo, K. S. Kang, K. R. Jo, H. C. Choi, and E. C. Nho, "Submodule test circuit for MMC-based voltage sourced HVDC system," in 2018 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), pp. 2619-2622, Sep. 2018.
저자의 다른 논문 :
관련 콘텐츠
원문 보기
원문 URL 링크
- DOI : 10.6113/TKPE.2019.24.6.452 [무료]
- DBPia : 저널
- AccessON : 저널
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
오픈액세스(OA) 유형
BRONZE
출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문
이 논문과 함께 이용한 콘텐츠
- [본원] 대전광역시 유성구 대학로 245 한국과학기술정보연구원
- [분원] 서울시 동대문구 회기로 66 한국과학기술정보연구원
- 문의처: helpdesk@kisti.re.kr
- 전화: 080-969-4114
Copyright KISTI. All Rights Reserved.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.